uwzględniając Traktat ustanawiający Wspólnotę Europejską, w szczególności jego art. 133,
uwzględniając wniosek Komisji,
(1) Rozporządzenie Rady (WE) nr 1334/2000 (1) wymaga, aby produkty podwójnego zastosowania (w tym oprogramowanie i technologia) podlegały skutecznej kontroli podczas wywozu ze Wspólnoty.
(2) W celu umożliwienia Państwom Członkowskim i Wspólnocie wypełnienia zobowiązań międzynarodowych załącznik I do rozporządzenia (WE) nr 1334/2000 ustanawia wspólny wykaz produktów i technologii podwójnego zastosowania, określonych w art. 3 tego rozporządzenia, które wprowadza uzgodnione na poziomie międzynarodowym kontrole podwójnego zastosowania, w tym Porozumienie z Wassenaar, System Kontrolny Technologii Rakietowych (MTCR), Grupę Dostawców Sprzętu Jądrowego (NSG), Grupę Australijską i Konwencję o zakazie broni chemicznej (CWC).
(3) Artykuł 11 rozporządzenia (WE) nr 1334/2000 określa, że załącznik I i IV zostaną uaktualnione zgodnie z odpowiednimi obowiązkami i zobowiązaniami oraz ewentualnymi zmianami do nich, które każde Państwo Członkowskie przyjęło jako członek międzynarodowych systemów nierozprzestrzeniania oraz uzgodnień dotyczących kontroli wywozu, lub w wyniku ratyfikacji odpowiednich traktatów międzynarodowych.
(4) Należy zmienić załącznik I do rozporządzenia (WE) nr 1334/2000 w celu uwzględnienia zmian przyjętych w ramach Porozumienia z Wassenaar, Grupy Australijskiej i Systemu Kontrolnego Technologii Rakietowych późniejszych w stosunku do zmian wprowadzonych rozporządzeniem nr 149/2003 (2) z dnia 27 stycznia 2003 r.
(5) Rozporządzeniem Rady (WE) nr 885/2004 zmienione częścią 3 załącznika II do rozporządzenia (WE) nr 1334/2000 w celu usunięcia Republiki Czeskiej, Węgier i Polski z bieżącego wykazu państw, względem których stosuje się Wspólnotowe Pozwolenie na Wywóz.
(6) W celu ułatwienia konsultacji organom kontroli wywozu i podmiotom gospodarczym konieczne jest opublikowanie uaktualnionej i ujednoliconej wersji załączników do rozporządzenia (WE) nr 1334/2000, uwzględniającej wszystkie zmiany przyjęte przez Państwa Członkowskie na forach międzynarodowych w okresie od grudnia 2002 r. do grudnia 2003 r.
(7) Rozporządzenie (WE) nr 1334/2000 powinno zostać odpowiednio zmienione,
PRZYJMUJE NINIEJSZE ROZPORZĄDZENIE:
Załączniki do rozporządzenia (WE) nr 1334/2000 zastępuje się tekstem znajdującym się w załączniku do niniejszego rozporządzenia.
Niniejsze rozporządzenie wchodzi w życie trzydziestego dnia po jego opublikowaniu w Dzienniku Urzędowym Unii Europejskiej.
W imieniu Rady | |
P. H. DONNER | |
Przewodniczący |
(1) Dz.U. L 159 z 30.6.2000, str. 1. Rozporządzenie ostatnio zmienione rozporządzeniem (WE) nr 885/2004 (Dz.U. L 168 z 1.5.2004, str. 1).
(2) Dz.U. L 30 z 5.2.2003, str. 1.
ZAŁĄCZNIKI
LISTA TOWARÓW I TECHNOLOGII PODWÓJNEGO ZASTOSOWANIA
Niniejszy wykaz wprowadza uzgodnione na poziomie międzynarodowym kontrole podwójnego zastosowania, w tym Porozumienie z Wassenaar, System Kontrolny Technologii Rakietowych (MTCR), Grupa Dostawców Sprzętu Jądrowego (NSG), Grupa Australijska i Konwencja o Zakazie Broni Chemicznej (CWC). Nie zostały uwzględnione produkty, które Państwa Członkowskie chcą umieścić w wykazie produktów wyłączonych. Nie uwzględniono jakiejkolwiek kontroli krajowej (kontrola pochodzenia pozasystemowego), która może być utrzymana przez Państwa Członkowskie.
UWAGI OGÓLNE DO ZAŁĄCZNIKA I:
N.B.: Przy rozstrzyganiu, czy kontrolowany komponent lub komponenty mają być uważane za elementy zasadnicze, konieczne jest rozważenie czynników: ilości, wartości, zawartości technologicznego know-how i innych szczególnych okoliczności, które mogą zdecydować, że kontrolowany komponent lub komponenty są zasadniczymi elementami dostarczanych dóbr.
UWAGA DO TECHNOLOGII JĄDROWEJ (UdTJ):
(Czytać łącznie z grupą E kategorii 0)
"Technologia" bezpośrednio związana z jakimikolwiek towarami wymienionymi w kategorii 0 objęta jest kontrolą zgodnie z postanowieniami kategorii 0.
"Technologia", która jest "niezbędna" do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów objętych kontrolą, pozostaje pod taką samą kontrolą nawet wtedy, gdy może być stosowana do towarów taką kontrolą nieobjętych.
Zgoda na eksport określonych towarów upoważnia również do eksportu do tego samego użytkownika minimalnej "technologii" wymaganej dla instalacji, działania, utrzymania i naprawy tych towarów.
Kontrole transferu "technologii" nie mają zastosowania do informacji "będących własnością publiczną" lub związanych z "podstawowymi badaniami naukowymi".
UWAGA OGÓLNA DO TECHNOLOGII (UOdT):
(Czytać łącznie z grupą E kategorii od 1 do 9)
Eksport "technologii", która jest "niezbędna" do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów wymienionych w kategoriach od 1 do 9, podlega kontroli na warunkach podanych w każdej z tych kategorii.
"Technologia", która jest "niezbędna" do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów objętych kontrolą, pozostaje pod taką samą kontrolą nawet wtedy, gdy może być stosowana do towarów taką kontrolą nieobjętych.
Kontrolą eksportu nie obejmuje się minimalnej "technologii" wymaganej do instalacji, działania, utrzymania i naprawy towarów niekontrolowanych lub takich, które uzyskały odrębnie zgodę na eksport.
N.B.: Powyższe nie zwalnia od kontroli "technologii" wyszczególnionych w pozycjach 1E002.e., 1E002.f., 8E002.a. i 8E002.b.
Kontrola transferu "technologii" nie ma zastosowania do informacji "będących własnością publiczną", związanych z "podstawowymi badaniami naukowymi" lub minimum informacji koniecznych przy składaniu wniosków patentowych.
UWAGA OGÓLNA DO OPROGRAMOWANIA (UOdO):
(Niniejsza uwaga jest nadrzędna w stosunku do zastrzeżeń określonych w grupie D kategorii od 0 do 9)
Nie podlega kontroli "oprogramowanie" z kategorii 0 do 9 niniejszej listy, które jest:
N.B.: Punkt a. Uwagi ogólnej do oprogramowania nie zwalnia od kontroli "oprogramowania" wymienionego w kategorii 5 - część 2 ("Bezpieczeństwo informacji").
DEFINICJE TERMINÓW UŻYWANYCH W WYKAZACH:
Definicje terminów w "cudzysłowie pojedynczym" podano w Uwadze Technicznej do odpowiedniej pozycji.
Definicje terminów w "cudzysłowie podwójnym" są następujące:
N.B.: Odnośniki do kategorii podano w nawiasach po zdefiniowanym terminie.
Automatyczna zmiana trasy w ruchu na podstawie odbieranych i analizowanych informacji o bieżących warunkach w sieci.
N.B.: Nie dotyczy to przypadków decyzji o zmianie trasy podejmowanych na podstawie określonych wcześniej informacji.
Algorytm kryptograficzny, w którym stosuje się różne, powiązane matematycznie, klucze do szyfrowania i deszyfrowania.
N.B.: Powszechnym zastosowaniem "algorytmu asymetrycznego" jest zarządzanie kluczami.
Algorytm kryptograficzny, w którym stosuje się identyczne klucze do szyfrowania i deszyfrowania.
N.B.: Powszechnym zastosowaniem "algorytmu symetrycznego" jest utajnianie danych.
Urządzenia do pomiaru i pokazywania podstawowych parametrów sygnałów o jednej częstotliwości, będących składowymi sygnałów wieloczęstotliwościowych.
"Analizatory sygnałów", w których zastosowano techniki cyfrowego próbkowania i przekształcania w celu utworzenia obrazu widma Fouriera danej postaci fali, włącznie z informacjami o jej amplitudzie i fazie.
N.B.: Patrz także "Analizatory sygnałów".
Proces rozpylania strumienia stopionego metalu na kropelki o średnicy 500 mikrometrów lub mniejszej za pomocą strumienia gazu o wysokim ciśnieniu.
Proces rozpylania strumienia strumienia stopionego metalu na kropelki o średnicy 500 mikrometrów lub mniejszej poprzez szybkie uwolnienie rozpuszczonego gazu w warunkach podciśnienia.
Proces rozpylania strumienia lub jeziorka stopionego metalu na kropelki o średnicy 500 mikrometrów lub mniejszej za pomocą siły odśrodkowej.
Technika przetwarzania umożliwiająca automatyczne określanie i podawanie na wyjściu w czasie rzeczywistym ekstrapolowanej wartości najbardziej prawdopodobnego położenia celu.
Promieniowe przemieszczenie głównego wrzeciona w ciągu jednego obrotu, mierzone w płaszczyźnie prostopadłej do osi wrzeciona w punkcie znajdującym się na zewnętrznej lub wewnętrznej badanej powierzchni obrotowej. (Patrz: ISO 230 część 1-1986, paragraf 5.61).
Przemieszczenie osiowe wrzeciona głównego podczas jednego obrotu, mierzone w płaszczyźnie prostopadłej do czoła wrzeciona, w punkcie sąsiadującym z obwodem czoła wrzeciona (Patrz: ISO 230 Część 1-1986, paragraf 5.63).
Technika odkształcania, w której stosowana jest napełniona płynem odkształcalna poduszka, działająca bezpośrednio na powierzchnię obrabianego przedmiotu.
W odniesieniu do niniejszego dokumentu oznacza "technologię" lub "oprogramowanie" dostępne bez żadnych ograniczeń co do ich dalszego rozpowszechniania (ograniczenia wynikające z praw autorskich nie wykluczają uznania "technologii" lub "oprogramowania" za "będące własnością publiczną").
Elektroniczny system sterowania turbiną gazową lub silnikami o złożonym cyklu, wykorzystujący komputer cyfrowy do kontroli parametrów niezbędnych do regulacji siły ciągu silnika lub mocy wyjściowej na wale w całym zakresie pracy silnika, od początku dozowania paliwa do odcięcia jego dopływu.
Całkowita liczba amperozwojów w cewce (tj. suma liczby zwojów pomnożona przez maksymalne natężenie prądu przenoszone przez każdy zwój) podzielona przez całkowity przekrój poprzeczny cewki (składającej się z włókienek nadprzewodzących, matrycy metalowej, w której osadzone są włókienka nadprzewodzące, materiału stanowiącego obudowę, kanałów chłodzących itp.).
Liczba bitów, włącznie z bitami kodowymi linii, bitami nieinformacyjnymi i podobnymi, przepływających w jednostce czasu pomiędzy odpowiednimi urządzeniami w cyfrowym systemie transmisji.
N.B.: Patrz także "szybkość przesyłania danych cyfrowych".
Szerokość pasma, w którym moc wyjściowa pozostaje na stałym poziomie z dokładnością do 3 dB bez regulacji innych parametrów roboczych.
Układy, w których przepływ powietrza wokół powierzchni aerodynamicznych jest wykorzystywany do zwiększenia powstających na nich sił albo do kierowania nimi.
Maksymalny czas (tj. opóźnienie), jakiego potrzebuje sygnał przy przełączaniu się z jednej wybranej częstotliwości wyjściowej na inną, żeby osiągnąć:
Czas trwania impulsu "lasera" mierzony na poziomie połowy natężenia pełnej szerokości (FWHI).
Podczas przełączania przetwornika z jednego poziomu na drugi czas potrzebny do otrzymania na wyjściu wartości różniącej się o połowę bitu od wartości końcowej.
Zazwyczaj określana w kategoriach niedokładności; jest to maksymalne odchylenie, dodatnie albo ujemne, danej wartości od uznanej wartości standardowej lub prawdziwej.
Najmniejsza jednostka obliczeniowa, której działanie daje wynik arytmetyczny lub logiczny.
W odniesieniu do kategorii 4, dany element jest "elementem o podstawowym znaczeniu", jeżeli wartość jego wymiany stanowi ponad 35 % całkowitej wartości systemu, w którego skład wchodzi. Wartość elementu jest ceną płaconą za element przez producenta systemu lub przez firmę montującą system. Wartość całkowita jest zwykłą ceną sprzedaży osobom postronnym w miejscu produkcji lub w miejscu przygotowywania wysyłek towarów.
Technika "gwałtownego krzepnięcia" i ekstrahowania wyrobu stopowego podobnego do taśmy, polegająca na wkładaniu krótkiego segmentu wirującego ochłodzonego bloku do wanny stopionego stopu metalowego.
N.B.: "Gwałtowne krzepnięcie": krzepnięcie stopionego materiału podczas chłodzenia z szybkością powyżej 1.000 K/s.
Technika "gwałtownego krzepnięcia" polegająca na uderzaniu strumienia stopionego metalu w wirujący ochłodzony blok, wskutek czego powstaje wyrób w postaci płatków, wstęgi lub pręcików.
N.B.: "Gwałtowne krzepnięcie": krzepnięcie roztopionego materiału podczas chłodzenia z szybkością powyżej 1.000 K/s.
Technika odkształcania termicznego metali, których wydłużenie całkowite do zerwania, mierzone w temperaturze pokojowej tradycyjnymi technikami badania wytrzymałości na rozciąganie, w normalnych warunkach, jest bardzo małe (poniżej 20 %); jej celem jest co najmniej dwukrotne powiększenie tych wartości podczas obróbki.
Masa elementu optycznego na jednostkę pola powierzchni optycznej rzutowanej na powierzchnię optyczną.
"Gram efektywny" "specjalnego materiału rozszczepialnego" oznacza:
Dowolna kombinacja układu(ów) scalonego(nych) lub układu scalonego z "elementami układu" albo "składnikami dyskretnymi" połączonymi ze sobą w celu realizacji określonej(nych) funkcji, mająca wszystkie wymienione poniżej cechy:
N.B.1: "Element układu": pojedyncza czynna lub bierna funkcjonalna część układu elektronicznego, na przykład jedna dioda, jeden tranzystor, jeden rezystor, jeden kondensator itp.
N.B.2: "Składnik dyskretny": "element układu" w oddzielnej obudowie z własnymi końcówkami wyjściowymi.
Koniugat jednokomórkowego przeciwciała monoklonalnego i "toksyny" lub "podjednostki toksyny", który wpływa selektywnie na komórki chorobowo zmienione.
Systemy scalające proces pomiaru i obliczania położenia pojazdu i jego prędkości (tj. nawigację) z obliczeniami i wysyłaniem poleceń do systemów sterowania lotem pojazdu w celu skorygowania jego toru lotu.
Sprzęt i specjalnie do niego opracowane oprogramowanie, scalone w instalacje w celu "rozwoju" albo do jednej lub więcej faz "produkcji".
Karta inteligentna zaopatrzona w mikroukład, zaprogramowana do konkretnego zastosowania, bez możliwości przeprogramowania przez użytkownika do jakichkolwiek innych zastosowań.
Pojęcie stosowane do podzespołów silnika rakietowego, tj. osłony, dyszy, wlotów, zamknięć osłon, obejmujące utrwalone lub półutrwalone maty kauczukowe zawierające materiał ogniotrwały lub izolacyjny. Można je również stosować na klatki lub klapy odprężające.
Żywe kultury w postaci uśpionej i suchych preparatów.
Technika ciśnieniowania odlewu w temperaturach powyżej 375 K (102 °C) w zamkniętej formie za pomocą różnych czynników (gaz, ciecz, cząstki stałe itp.), której celem jest wytworzenie jednakowej siły we wszystkich kierunkach w celu zmniejszenia albo eliminacji jam wewnętrznych w odlewie.
Wiązki "włókien elementarnych", zazwyczaj w przybliżeniu równoległe.
Odnosi się do produktów projektowanych, wytwarzanych i testowanych w taki sposób, żeby spełniały specjalne wymagania elektryczne, mechaniczne lub środowiskowe, związane z ich stosowaniem podczas wystrzeliwania i wykorzystywania satelitów lub urządzeń latających na dużych wysokościach, od 100 km wzwyż.
Sprzętowo wykonywalna postać dogodnego wyrażenia jednego lub więcej procesów ("kod źródłowy" [język źródłowy]), które zostały przetworzone przez system programowania.
Wygodny sposób wyrażenia jednego lub kilku procesów, który może być przekształcony przez system programowania w postać dającą się wykonać na urządzeniu ("kod wynikowy" [lub język wynikowy]).
Automatyczne sterowanie zmiennymi stanu "samolotu" i toru lotu dla zrealizowania zadania bojowego odpowiednio do zmian w czasie rzeczywistym danych dotyczących celu, zagrożeń lub innego "samolotu".
Kodowanie i przetwarzanie długiego impulsowego sygnału radarowego na krótki, przy zachowaniu korzyści wynikających z wysokiej energii impulsu.
Urządzenie zdolne do wykonywania, w postaci jednej albo kilku zmiennych dyskretnych, wszystkich poniższych funkcji:
N.B.: Modyfikacje zapamiętanej sekwencji instrukcji dotyczą wymiany trwałych urządzeń pamięciowych, ale nie fizycznych zmian przewodów lub połączeń.
Urządzenie zdolne do wykonywania wszystkich poniższych czynności:
Urządzenie obliczeniowe przeznaczone albo zmodyfikowane z przeznaczeniem do naśladowania działalności neuronu lub zbioru neuronów, tj. urządzenie obliczeniowe wyróżniające się możliwością sprzętowego modulowania znaczenia i liczby połączeń pomiędzy wieloma elementami obliczeniowymi w oparciu o poprzednie dane.
Komputer zaprojektowany lub zmodyfikowany z przeznaczeniem do używania światła jako nośnika danych oraz taki, którego elementy obliczeniowo-logiczne działają bezpośrednio na sprzężonych urządzeniach optycznych.
Komputer, w którym przepływ i modyfikacja danych są dynamicznie sterowane przez użytkownika na poziomie bramek logicznych.
Przekazywanie lub komutacja sygnałów w postaci optycznej bez przetwarzania na sygnały elektryczne.
Jest to miara dokładności wyrażana jako promień okręgu ze środkiem w miejscu znajdowania się celu, w który wpada 50 % ładunków użytecznych, przy określonym zasięgu.
Dziedzina wiedzy zajmująca się zasadami, narzędziami i metodami przekształcania danych w celu ukrycia zawartych w nich informacji, zapobiegania możliwości tajnego ich modyfikowania lub eliminacji dostępu do nich osobom niepowołanym. "Kryptografia" ogranicza się do przekształcania informacji za pomocą jednego lub większej liczby "tajnych parametrów" (np. szyfrów) lub związanego z tym zarządzania kluczami.
N.B.: "Tajny parametr": wartość stała albo klucz trzymany w tajemnicy przed osobami postronnymi albo znany wyłącznie pewnej grupie osób.
Zespół elementów wytwarzający wiązkę światła spójnego zarówno w przestrzeni, jak i w czasie, wzmocnioną za pomocą stymulowanej emisji promieniowania.
N.B.: Patrz również: "Laser chemiczny",
"Laser modulowany dobrocią",
"Laser o super wysokiej mocy",
"Laser z przekazaniem energii".
"Laser", w którym wzbudzanie czynnika następuje za pomocą energii pochodzącej z reakcji chemicznej.
"Laser", którego energia, gromadzona w postaci odwrócenia obsadzeń, jest emitowana w postaci impulsu wskutek szybkiej zmiany dobroci rezonatora optycznego.
"Laser", który może dostarczyć energię wyjściową (całkowitą lub częściową) powyżej 1 kJ w ciągu 50 ms albo taki, którego moc przeciętna lub moc w przypadku fali ciągłej wynosi powyżej 20 kW.
"Laser", w którym czynnik emitujący promieniowanie laserowe jest wzbudzany dzięki transferowi energii wskutek zderzeń atomów lub molekuł, niebiorących udziału w akcji laserowej, z atomami lub molekułami czynnika emitującego promieniowanie laserowe.
"Liniowość" (zazwyczaj określana w kategoriach nieliniowości) stanowi maksymalne odchylenie parametru rzeczywistego (przeciętnej wartości górnego i dolnego odczytu na skali), w kierunku dodatnim lub ujemnym, od linii prostej poprowadzonej w taki sposób, żeby maksymalne odchylenia zostały wyrównane i zminimalizowane.
System przesyłania danych mający wszystkie następujące cechy charakterystyczne:
N.B.: "Jednostka danych": urządzenie mające możliwość nadawania lub odbierania sekwencji informacji cyfrowych.
Metoda przesyłania sygnałów, w której pojedynczy kanał pomiędzy centralami telefonicznymi przenosi, za pomocą komunikatów etykietowanych, informacje sygnałowe dotyczące wielu układów lub rozmów oraz inne informacje, np. stosowane do obsługi sieci.
Przyrządy do wykrywania pól magnetycznych źródeł zewnętrznych względem przyrządu pomiarowego. Składają się z pojedynczego czujnika pola magnetycznego i odpowiedniego układu elektronicznego, na którego wyjściu jest wartość mierzonego pola magnetycznego.
"Manipulatory" obejmują uchwyty, 'aktywne jednostki oprzyrządowania' lub wszelkie inne oprzyrządowanie zamontowane na podstawowej (bazowej) płycie kończącej ramię manipulacyjne "robota".
N.B.: 'Aktywne jednostki oprzyrządowania': urządzenia do przyłożenia mocy napędowej, energii procesowej lub czujnika do przedmiotu obrabianego.
"Matryca" oraz dodatkowa faza lub dodatkowe fazy, składające się z cząstek, włókienek, włókien lub dowolnej ich kombinacji, dodawanych w określonym celu lub celach.
Mogą nimi być miedź, stal nierdzewna, aluminium, tlenek aluminium, stopy aluminium, nikiel lub stop zawierający 60 % wagowych lub więcej niklu oraz odporne na działanie UF6 fluorowane polimery węglowodorowe, stosownie do rodzaju procesu separacji.
Termin "materiał włóknisty lub włókienkowy" obejmuje następujące pojęcia:
W zasadzie faza o strukturze ciągłej wypełniająca przestrzeń pomiędzy cząstkami, wiskerami lub włóknami.
Do "mechanizmów roboczych" zalicza się uchwyty, 'aktywne zespoły narzędziowe' oraz wszelkie inne narzędzia mocowane do płyty roboczej na końcu ramienia manipulatora "robota".
N.B.: 'Aktywne zespoły narzędziowe': urządzenia przekazujące obrabianemu elementowi napęd, energię potrzebną do obróbki lub określające parametry obrabianego elementu.
Przyrządy do wykrywania zmian przestrzennych pól magnetycznych ze źródeł zewnętrznych w stosunku do przyrządu pomiarowego. Składają się z wielu "magnetometrów" i odpowiednich układów elektronicznych, na których wyjściu jest mierzony gradient pola magnetycznego.
N.B.: Patrz również "Miernik gradientu magnetycznego własnego".
Pojedynczy element do pomiaru gradientu pola magnetycznego oraz związane z nim urządzenia elektroniczne, służący do pomiaru gradientu pola magnetycznego.
N.B.: Patrz również "Miernik gradientu magnetycznego".
Mieszanie włókien materiałów termoplastycznych z włóknami materiałów wzmacniających w celu wytworzenia mieszanki włókien wzmacniających z "matrycą", mającej w całości formę włóknistą.
Bakterie, wirusy, mikoplazmy, riketsje, chlamydie lub grzyby, naturalne, wzmocnione lub zmodyfikowane, w postaci wyizolowanych żywych kultur lub materiału zawierającego żywe organizmy, który rozmyślnie zaszczepiono lub zakażono takimi kulturami.
Energia na impuls wyrażona w dżulach, podzielona przez czas trwania impulsu w sekundach.
Technika polegająca na modulowaniu bardzo krótkich, precyzyjnie sterowanych czasowo impulsów radiowych zgodnie z danymi telekomunikacyjnymi poprzez przesuwanie położeń impulsów (nazywana zwykle Modulacją Położenia Impulsu, PPM) skanalizowanych lub szyfrowanych według pseudolosowych kodów zakłóceń poprzez PPM, a następnie przesyłanych i odbieranych w postaci impulsu bezpośredniego bez stosowania żadnych częstotliwości nośnych, w wyniku czego uzyskuje się bardzo niską gęstość mocy na bardzo szerokim paśmie częstotliwości. Jest również nazywana techniką Impulse Radio.
Moduł Younga w paskalach, równoważny N/m2 podzielonym przez ciężar właściwy w N/m3, mierzony w temperaturze (296 ± 2) K (23 ± 2) °C i przy wilgotności względnej (50 ± 5) %.
Kombinacja czynnych lub biernych, albo obu, 'elementów obwodu' o następujących cechach charakterystycznych:
N.B.: 'Element obwodu': pojedyncza czynna lub bierna funkcjonalna część układu elektronicznego, taka jak jedna dioda, tranzystor, rezystor, kondensator itp.
Czujniki pozwalające na zbieranie danych obrazowych z pojedynczego pasma widma dyskretnego.
Możliwość wprowadzania, modyfikacji lub wymiany "programów" przez użytkownika na innej drodze niż poprzez:
Materiały: tj. metale, stopy lub związki, które mogą całkowicie stracić swoją oporność, tj. które mogą uzyskać nieskończoną przewodność elektryczną i przewodzić prąd elektryczny o bardzo wysokich natężeniach bez wytwarzania ciepła Joule'a.
N.B.: "Nadprzewodzący" stan materiału jest indywidualnie scharakteryzowany "temperaturą krytyczną", krytycznym polem magnetycznym, będącym funkcją temperatury, oraz krytyczną gęstością prądu, która jest funkcją zarówno pola magnetycznego, jak i temperatury.
Stopy na osnowie niklu, kobaltu lub żelaza o bardzo wysokiej wytrzymałości w porównaniu z innymi stopami serii AISI 300 w temperaturach powyżej 922 K (649 °C), w skrajnych warunkach środowiskowych i eksploatacyjnych.
Parametr charakterystyczny określający, na poziomie ufności 95 %, w jakiej odległości od wartości prawidłowej leży zmienna pomiarowa. W jego skład wchodzą niedające się skorygować odchylenia systematyczne, niedający się skorygować luz oraz odchylenia losowe (Patrz: ISO 10360-2 lub VDI/VDE 2617).
W odniesieniu do "technologii" lub "oprogramowania" dotyczy tylko tej części "technologii" lub "oprogramowania", która jest szczególnie odpowiedzialna za osiągnięcie lub przekroczenie wartości parametrów, właściwości lub funkcji objętych kontrolą. Taka "niezbędna" "technologia" lub "oprogramowanie" może dotyczyć różnych produktów.
Wszystkie rodzaje sposobów i funkcji zapewniających dostęp, poufność lub nienaruszalność informacji lub komunikacji, z wyłączeniem sposobów i funkcji zabezpieczających przed wadliwym działaniem. Obejmuje "kryptografię", "kryptoanalizę", ochronę przed przypadkowym przekazywaniem sygnałów odnoszących się do tajnych informacji oraz zabezpieczanie komputerów.
N.B.: "Kryptoanaliza": analiza systemów łączności szyfrowej albo ich wejść lub wyjść w celu uzyskania tajnych informacji lub danych, włączając w to tajne teksty.
Maksymalna różnica pomiędzy położeniem kątowym a rzeczywistym, bardzo dokładnie zmierzonym położeniem kątowym po obróceniu stołu montażowego od jego położenia początkowego. (Patrz: VDI/VDE 2617, Draft "Rotary tables on coordinate measuring machines" - Stoły obrotowe współrzędnościowych maszyn pomiarowych).
Możliwość systemu komputerowego, po dowolnym wadliwym zadziałaniu części jego sprzętu lub "oprogramowania", do kontynuacji działalności bez interwencji człowieka, na danym poziomie usług, zapewniającym: kontynuowanie działania, zachowanie danych bez ich naruszenia oraz odzyskanie zdolności usługowych w określonym czasie.
Wartość opóźnienia sygnału odpowiadająca bramce podstawowej, używanej w "rodzinie" "monolitycznych układów scalonych". Można ją wyznaczyć, dla danej "rodziny", jako opóźnienie sygnału na bramkę typową w ramach danej "rodziny" albo jako typowe opóźnienie na bramkę w ramach danej "rodziny".
N.B.1: Nie należy mylić "opóźnienia sygnału bramki podstawowej" z opóźnieniem wyjścia/wejścia złożonego "monolitycznego układu scalonego".
N.B.2: Do "rodziny" zalicza się wszystkie układy scalone, do których metodologii produkcyjnej i danych technicznych, z wyjątkiem ich odpowiednich funkcji, stosują się następujące punkty:
Zbiór jednego lub więcej "programów" lub "mikroprogramów", wyrażony w dowolny zrozumiały sposób.
N.B.: "Mikroprogram" oznacza sekwencję elementarnych instrukcji, przechowywanych w specjalnej pamięci, realizowanych po wprowadzeniu do rejestru instrukcji specjalnej dla niej instrukcji odwołania.
"Monolityczny układ scalony" lub "hybrydowy układ scalony", zaopatrzony w jedną lub więcej części przeznaczonych do działania w roli fotoczujników lub fotoemiterów albo do wykonywania funkcji optycznych lub elektrooptycznych.
Procedura minimalizująca odchylenia od czterowymiarowej (przestrzeń i czas) planowanej trajektorii lotu oparta na zasadzie maksymalizacji osiągów lub efektywności realizacji zadania.
Podstawowa pamięć na dane lub instrukcje szybko dostępna dla jednostki centralnej. Składa się z pamięci wewnętrznej "komputera cyfrowego" oraz jednej z dodatkowych pamięci o strukturze hierarchicznej, takich jak pamięć podręczna (cache) lub pamięć dodatkowa z dostępem niesekwencyjnym.
Każde z Państw uczestniczących w Porozumieniu z Wassenaar (patrz www.wassenaar.org).
Zmiana odchylenia wskazań od wartości pożądanej w funkcji czasu. Składa się z elementów przypadkowych i systematycznych i jest wyrażana jako ekwiwalentne wejściowe przemieszczenie kątowe na jednostkę czasu w odniesieniu do pola inercyjnego.
Płaska warstwa o strukturze liniowej lub dwuwymiarowej albo kombinacja takich płaskich warstw, złożonych z oddzielnych elementów detekcyjnych, z elektronicznym urządzeniem odczytującym lub bez, pracująca w płaszczyźnie ogniskowej.
N.B.: Nie chodzi tu o stos pojedynczych elementów detekcyjnych ani dwa, trzy lub cztery elementy detekcyjne opóźniające, ani o realizację integracji wewnątrz elementu.
Najmniejszy (pojedynczy) element sieci elementów półprzewodnikowych mający możliwość realizacji funkcji fotoelektrycznych w odpowiedzi na promieniowanie świetlne (elektromagnetyczne).
Kompletne systemy rakietowe i bezzałogowe systemy pojazdów latających, zdolne do dostarczania ładunku użytecznego o masie co najmniej 500 kg na odległość co najmniej 300 km.
Strukturalnie i funkcjonalnie oddzielny składnik "toksyny".
Płytka materiału głównego z naniesionymi połączeniami albo bez nich, na której, albo wewnątrz której, można umieszczać "składniki dyskretne" lub układy scalone albo oba z nich.
N.B.1: "Składnik dyskretny": "element obwodu" w oddzielnej obudowie z własnymi końcówkami wyjściowymi
N.B.2: "Element obwodu": pojedyncza, czynna lub bierna, funkcjonalna część układu elektronicznego, taka jak jedna dioda, jeden tranzystor, jeden rezystor, jeden kondensator, itp.
Prace doświadczalne lub teoretyczne prowadzone głównie w celu uzyskania nowej wiedzy o podstawach danego zjawiska lub obserwowalnych jego efektach, nienakierowane bezpośrednio na konkretne cele lub zadania praktyczne.
Sterowanie stabilnością i manewrowością "samolotu" za pomocą generatorów typu siła/moment, tj. za pomocą aerodynamicznych powierzchni sterujących lub sterowania wektorem ciągu.
Co najmniej dwa czujniki radarowe są ze sobą połączone, kiedy wymieniają między sobą informacje w czasie rzeczywistym.
Sygnał elektryczny rozumiany w sensie gęstości mocy widmowej. "Poziom szumów" wyrażony w wartościach całkowitych (peak-to-peak) jest określony zależnością S2pp = 8No (f2 - f1), gdzie Spp jest wartością całkowitą (maksymalną) sygnału (np. w nanoteslach), No jest gęstością mocy widmowej (np. {nanotesle}2/Hz), a (f2 - f1) określa daną szerokość pasma.
Materiał monolityczny o wymiarach umożliwiających wytworzenie z niego elementów optycznych, takich jak zwierciadła albo okienka optyczne.
Urządzenia umożliwiające ciśnieniowanie zamkniętych komór za pomocą różnych czynników roboczych (gazu, cieczy, cząstek stałych, itp.) w celu wytwarzania w komorze we wszystkich kierunkach równych ciśnień na obrabiany element lub materiał.
Uporządkowany układ powlekanych lub niepowlekanych włókien przeznaczony do tworzenia struktur składowych przed użyciem "matrycy" do tworzenia "materiału kompozytowego".
Wszystkie etapy związane z produkcją, takie jak: technologia mechaniczna, wytwarzanie, scalanie, montaż (składanie), kontrola, testowanie, zapewnienie jakości.
Profile, w których zastosowano klapy lub inne płaszczyzny na krawędzi spływu albo sloty lub osadzone przegubowo noski na krawędzi natarcia, którymi można sterować w locie.
Sekwencja instrukcji do realizacji procesu, mająca postać wykonywalną lub przekształcalną na wykonywalną, za pomocą komputera elektronicznego.
Zdolność "lasera" do wytwarzania ciągłego sygnału wyjściowego we wszystkich długościach fal w przedziale kilku przejść "laserowych". "Laser" z selekcją liniową wytwarza dyskretne długości fal w ramach jednego przejścia "laserowego" i nie jest uważany za "przestrajalny".
Przetwarzanie sygnałów zawierających informacje, uzyskanych ze źródeł zewnętrznych, za pomocą takich algorytmów, jak kompresja czasu, filtrowanie, wyciąganie, selekcja, korelacja, splatanie lub przemieszczanie pomiędzy domenami (np. za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub transformaty Walsha).
Przetwarzanie danych przez system komputerowy, zapewniające żądany poziom realizacji zadań w funkcji dostępnych środków, w gwarantowanym czasie odpowiedzi, bez względu na obciążenie systemu, kiedy jest on stymulowany przez wydarzenia zewnętrzne.
Urządzenia przetwarzające wyniki pomiaru ciśnienia na sygnał elektryczny.
Wiązka skręconych "skrętek".
N.B.: "Skrętka" oznacza wiązkę "włókien elementarnych" (zazwyczaj ponad 200) uporządkowanych w przybliżeniu równolegle.
N.B.: Nie obejmuje przydziałów dodatkowych i alternatywnych.
Dowolna modyfikacja lub dobór (np. zmieniona czystość, dopuszczalny okres magazynowania, agresywność, charakterystyki propagacji lub odporność na promieniowanie nadfioletowe) przeznaczone do wzmocnienia efektów wywoływania strat w ludności lub zwierzętach, unieszkodliwiania sprzętu lub powodujących straty w uprawach rolnych lub środowisku.
(Patrz "Rozproszone widmo radarowe").
Obiekt znajdujący się wewnątrz lub bezpośrednio przymocowany do zbiornika reaktora, wyposażenie sterujące poziomem mocy w rdzeniu, oraz znajdujące się w nim zazwyczaj składniki wchodzą w bezpośrednią styczność z chłodziwem pierwotnym rdzenia reaktora albo sterują nim.
Manipulator wykonujący ruchy w sposób ciągły albo poruszający się od punktu do punktu, mający możliwość korzystania z "czujników" i mający wszystkie następujące cechy charakterystyczne:
N.B.: Niniejsza definicja nie obejmuje następujących urządzeń:
Wiązka (zazwyczaj 12-120 szt.) w przybliżeniu równoległych "skrętek".
N.B.: "Skrętka" oznacza wiązkę "włókien elementarnych" (zazwyczaj ponad 200) uporządkowanych w przybliżeniu równolegle.
Technika rozczłonkowania materiału na cząstki przez miażdżenie lub rozcieranie.
Najmniejsza działka urządzenia pomiarowego; w przypadku instrumentu cyfrowego jest to najmniej znaczący bit (Patrz: ANSI B-89.1.12).
Dowolna technika modulacji służąca do rozpraszania energii sygnału o stosunkowo wąskim paśmie częstotliwości na dużo szersze pasmo częstotliwości, za pomocą kodowania losowego lub pseudolosowego.
Forma "rozproszenia widma" polegająca na krokowo-dyskretnej zmianie częstotliwości nośnej pojedynczego kanału telekomunikacyjnego, w sposób losowy lub pseudolosowy.
Uważa się, że czujniki są rozrzucone geograficznie w przypadku, kiedy każdy z nich znajduje się w odległości od innego większej niż 1.500 m w dowolnym kierunku. Czujniki ruchome są zawsze traktowane jako "rozrzucone geograficznie".
Odnosi się do wszystkich etapów poprzedzających produkcję seryjną, takich jak: projektowanie, badania projektowe, analiza konstrukcyjna, koncepcja projektowania, montaż i testowanie prototypów, plany produkcji pilotowej, dane projektowe, proces przetwarzania danych projektowych w produkt, projektowanie konfiguracji, projektowanie montażu całościowego, rozplanowanie.
Dowolna technika zmiany, wg sekwencji pseudolosowej, częstotliwości nośnej impulsowego nadajnika radarowego pomiędzy impulsami lub pomiędzy grupami impulsów, o wartość równą lub większą od szerokości pasma impulsu.
Statek powietrzny taki jak stałopłat, statek z obrotowymi skrzydłami, wiropłat (helikopter), statek ze zmiennym wirnikiem lub zmiennopłat.
N.B.: Patrz również "samolot cywilny".
Wyłącznie "samoloty" mające świadectwa zdatności do lotu opublikowane i wydane przez zarządy lotnictwa cywilnego, zezwalające na ich używanie do celów cywilnych na liniach wewnętrznych i zewnętrznych lub zezwalające na ich stosowanie do celów cywilnych, prywatnych lub związanych z prowadzeniem działalności gospodarczej.
N.B.: Patrz również "samolot".
"Specjalny materiał rozszczepialny" oznacza pluton-239, uran-233, "uran wzbogacony w izotopy 235 lub 233" oraz dowolne, zawierające je materiały.
Odchylenie standardowe (1 sigma) zmienności danego parametru od jego wartości wzorcowej zmierzonej w ustalonych warunkach temperaturowych. Można ją wyrażać w funkcji czasu.
Czas od chwili bodźca świetlnego do wzrostu prądu do wartości stanowiącej 1-1/e-krotną wartość wielkości końcowej (tj. 63 % wartości końcowej).
Technika wykonywania stopów polegająca na mechanicznym łączeniu, rozdrabnianiu i ponownym łączeniu sproszkowanych pierwiastków i głównego składnika stopowego. Jako składnik stopowy może występować substancja niemetaliczna dodawana w postaci odpowiedniego proszku.
Czynne i bierne satelity i sondy kosmiczne.
Co najmniej dwa ruchy "sterowane numerycznie", realizowane zgodnie z instrukcjami określającymi następne położenie oraz potrzebne do osiągnięcia tego położenia prędkości posuwów. Prędkości posuwów nie są jednakowe, wskutek czego powstaje wymagany kształt (Patrz ISO/DIS 2806-1980).
Automatyczne sterowanie procesem wykonywane przez urządzenie korzystające z danych numerycznych zazwyczaj wprowadzanych podczas realizacji operacji (Patrz ISO 2382).
Zmiana mocy sygnału nadawanego przez wysokościomierz w taki sposób, żeby moc odbierana w "samolocie" na danej wysokości była zawsze na minimalnym poziomie niezbędnym do określenia wysokości.
Antena kształtująca wiązkę za pomocą sprzężenia fazowego, tj. kierunek wiązki jest utrzymywany za pomocą elementów promieniujących o złożonych współczynnikach wzbudzenia, przy czym kierunek takiej wiązki (azymut i (lub) podniesienie kątowe) można zmieniać za pomocą sygnału elektrycznego, zarówno dla nadawania, jak i odbioru.
Interfejs fizyczny do sieci rozproszonej. Używa się w nim wspólnego nośnika działającego z taką samą "szybkością przesyłania danych cyfrowych" w systemie transmisji z arbitrażem (np. w sensie znacznika lub nośnika). Niezależnie od innych wybiera on adresowane do niego pakiety z danymi lub grupami danych (np. IEEE 802). Jest to zespół, który może być zintegrowany z komputerem lub urządzeniem telekomunikacyjnym, z zadaniem zapewniania dostępu do łączy telekomunikacyjnych.
Interfejs fizyczny sterujący przepływem cyfrowych informacji synchronicznych lub asynchronicznych. Jest to zespół, który może stanowić podzespół komputera lub urządzenia telekomunikacyjnego zapewniającego dostęp do łączności.
Stół umożliwiający obracanie i przechylanie obrabianego przedmiotu względem dwóch osi nierównoległych, które mogą być równocześnie koordynowane, co umożliwia "sterowanie kształtowe".
Technika oparta na "mikroprogramie" lub architekturze sprzętu, umożliwiająca równoczesne przetwarzanie dwóch lub więcej sekwencji danych pod kontrolą jednej lub kilku sekwencji instrukcji za pomocą takich narzędzi, jak:
N.B.: "Mikroprogram" oznacza sekwencję elementarnych instrukcji, przechowywanych w specjalnej pamięci, realizowanych po wprowadzeniu do rejestru instrukcji specjalnej dla niej instrukcji odwołania.
Dowolny rodzaj źródła częstotliwości lub generatora sygnałów, bez względu na stosowaną technikę, zapewniający uzyskanie wielu równoczesnych lub alternatywnych częstotliwości wyjściowych z jednego lub kilku wyjść sterowanych lub regulowanych za pomocą mniejszej liczby częstotliwości wzorcowych (lub głównych).
Systemy wypracowujące wyniki poprzez zastosowanie pewnych zasad do danych przechowywanych w pamięci niezależnie od "programu" i mające następujące możliwości:
Preparat medyczny w postaci wyrobu farmaceutycznego, wytworzony na licencji, albo po próbach badań rynkowych lub klinicznych na podstawie upoważnienia przez władze kraju produkcji lub kraju stosowania, który wprowadzony do ustroju ludzkiego lub zwierzęcego ma za zadanie wytworzenie w nim ochronnej odporności immunologicznej w celu zapobiegania chorobom.
W "dynamicznych analizatorach sygnałów" - największy zakres częstotliwości, jaki analizator może przesłać na wyświetlacz lub do pamięci masowej, bez jakiejkolwiek przerwy w analizowaniu danych wejściowych. W przypadku analizatorów o więcej niż jednym kanale, obliczenia należy przeprowadzić dla takiej konfiguracji kanałów, która daje największą "szerokość pasma czasu rzeczywistego".
Całkowita szybkość informacji w bitach, przesyłanych bezpośrednio na dowolnym typie nośnika.
N.B.: Patrz także "całkowita szybkość transmisji danych cyfrowych".
Przetworzone, skorelowane (połączenie radiolokacyjnych danych o celu z położeniem lecącego samolotu) i zaktualizowane dane dotyczące położenia lecącego samolotu, przekazane kontrolerom w ośrodku Kontroli Ruchu Powietrznego.
Materiał zbudowany z przeplatanych lub jednakowo ukierunkowanych "włókien elementarnych", "skrętek", "rowingów", "kabli" lub "przędz" itp., zazwyczaj impregnowany żywicą.
N.B.: "Skrętka" oznacza wiązkę "włókien elementarnych" (zazwyczaj ponad 200) uporządkowanych w przybliżeniu równolegle.
Specyficzny rodzaj informacji, niezbędny do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" wyrobów. Informacja ta ma postać 'danych technologicznych' lub 'pomocy technicznej'.
N.B.1: "Pomoc techniczna" może przybierać takie formy, jak: przekazanie instrukcji, umiejętności, szkolenie, przekazanie wiedzy na temat eksploatacji oraz usługi konsultacyjne i może obejmować transfer "danych technologicznych".
N.B.2: "Dane technologiczne" mogą mieć formę odbitek, planów, wykresów, modeli, wzorów, tabel, projektów technicznych i opisów, podręczników i instrukcji w formie pisemnej lub zarejestrowanej na innych nośnikach lub urządzeniach, takich jak dyski, taśmy, pamięci wyłącznie do odczytu.
"Temperatura krytyczna" (nazywana czasami "temperaturą przemiany") danego materiału "nadprzewodzącego" jest temperaturą, w której materiał całkowicie traci oporność dla przepływu elektrycznego prądu stałego.
Miara mocy obliczeniowej podawana w milionach operacji teoretycznych na sekundę (Mtops), obliczana w oparciu o agregację "elementów obliczeniowych" ("CE").
N.B.: (Patrz Kategoria 4, Uwaga techniczna).
Toksyny w postaci celowo wyizolowanych preparatów lub mieszanek, bez względu na sposób produkcji, różne od toksyn istniejących jako zanieczyszczenia innych materiałów, takich jak próbki patogenne, plony, żywność lub posiewy "mikroorganizmów".
Układ elementów obwodu i metalowych łączników, wytworzony techniką osadzania grubej lub cienkiej warstwy na "podłożu" o właściwościach izolujących.
N.B.: "Element obwodu": pojedyncza czynna lub bierna funkcjonalna część układu elektronicznego, np. jedna dioda, jeden tranzystor, jeden rezystor, jeden kondensator, itp.
"Monolityczny układ scalony" lub "wieloukład scalony", w którego skład wchodzi jednostka arytmetycznologiczna (ALU) zdolna do realizacji instrukcji ogólnych, zawartych w pamięci wewnętrznej, na danych znajdujących się w pamięci wewnętrznej.
N.B.: Pamięć wewnętrzna może być wspomagana przez pamięć zewnętrzną.
"Monolityczny układ scalony" lub "wieloukład scalony", w którego skład wchodzi jednostka arytmetycznologiczna (ALU) zdolna do realizacji szeregu instrukcji ogólnych zawartych w pamięci zewnętrznej.
N.B.1: "Układ mikroprocesorowy" zazwyczaj nie jest wyposażony w integralną pamięć dostępną dla użytkownika, ale do realizacji jego funkcji logicznych może być wykorzystywana pamięć istniejąca w mikroukładzie.
N.B.2: Definicja ta obejmuje zespoły układów przeznaczone do pracy razem, w celu realizacji funkcji "układu mikroprocesorowego".
Układy zapobiegające niepożądanym ruchom lub obciążeniom konstrukcji "samolotu" lub pocisku rakietowego dzięki autonomicznemu przetwarzaniu sygnałów z wielu czujników i wydawaniu niezbędnych poleceń do realizacji sterowania automatycznego.
Układ czujników optycznych, wykorzystujący promień "lasera" do dostarczania w czasie rzeczywistym danych sterowania lotem w celu ich przetwarzania na pokładzie.
Technika "gwałtownego krzepnięcia" polegająca na uderzaniu stopionego strumienia metalu w ochłodzony blok, w wyniku czego powstaje produkt w postaci płatków.
N.B.: "Gwałtowne krzepnięcie": krzepnięcie roztopionego materiału podczas chłodzenia z szybkością powyżej 1.000 K/s.
Oddzielone dowolną techniką wzbogacania kontrolowanego izotopu.
Uran zawierający mieszaninę izotopów występujących w naturze.
Uran zawierający izotopy 235 lub 233, albo oba, w takich ilościach, że stosunek łącznej zawartości tych izotopów do izotopu 238 jest większy niż stosunek zawartości izotopu 235 do izotopu 238 występujący w naturze (stosunek izotopowy 0,72 procenta).
Uran, w którym zawartość izotopu 235 obniżono do ilości mniejszej niż w warunkach naturalnych.
Oprzyrządowanie, szablony, przyrządy obróbkowe, trzpienie, formy, matryce, uchwyty, mechanizmy synchronizujące, urządzenie testujące, inne maszyny i ich wyposażenie, z ograniczeniem do urządzeń specjalnie przeznaczonych lub zmodyfikowanych z przeznaczeniem do "rozwoju" lub jednej albo więcej faz "produkcji".
Algorytm kodowania lub kompresji, który nie może akceptować parametrów dostarczonych z zewnątrz (np. zmiennych do szyfrowania lub kluczy) i nie może być modyfikowany przez użytkownika.
Praca, instalowanie (włącznie z montażem na miejscu), konserwacja (kontrola), naprawa, remonty i odnawianie.
Dowolna technika służąca do rozpraszania energii sygnału ze stosunkowo wąskiego kanału telekomunikacyjnego na dużo szersze widmo energii.
Dwa lub więcej "monolityczne układy scalone", spojone ze wspólnym "podłożem".
Umożliwiają równoczesne lub szeregowe odbieranie danych obrazowych z dwóch lub więcej dyskretnych pasm spektralnych. Analizatory o więcej niż dwudziestu dyskretnych pasmach spektralnych są czasami nazywane hiperspektralnymi analizatorami obrazowymi.
Najmniejszy inkrement włókna, zazwyczaj mający średnicę kilku mikrometrów.
Wrzeciono na narzędzia, zmieniające podczas procesu obróbki położenie kątowe swojej osi względem dowolnej innej osi.
Stosunek zmiany wartości wyjściowej do zmiany wartości wejściowej, która ma być mierzona. Współczynnik skalowania jest na ogół szacowany jako pochylenie linii prostej, którą można poprowadzić metodą najmniejszych kwadratów pomiędzy punktami określającymi parametry wejściowe/wyjściowe, uzyskanymi poprzez cykliczną zmianę parametrów wejściowych w przedziale ich wartości.
Oznacza, że w celu zminimalizowania wszystkich systematycznych błędów pozycjonowania dla określonej obrabiarki ostatecznie uwzględniane są wszystkie możliwe do wykonania środki dostępne dla producenta.
Wartość wskazywana przez przyspieszeniomierz w przypadku braku przyspieszenia.
Warstwa pośrednia pomiędzy paliwem stałym a osłoną lub warstwą izolacyjną. Zazwyczaj jest to płynna polimerowa zawiesina materiału ogniotrwałego lub izolacyjnego, np. węgiel z wypełniaczem polibutadienowym zakończonym grupami hydroksylowymi (HTPB) lub innym polimerem z dodatkiem środków utrwalających, rozpylonych lub rozsmarowanych na wewnętrznej powierzchni osłony.
Wytrzymałość na rozciąganie w paskalach, równoważnych N/m2, podzielona przez masę właściwą w N/m3, mierzona w temperaturze (296 ± 2) K (23 ± 2) °C i przy wilgotności względnej (50 ± 5) %.
Przetwarzanie obrazów zawierających informacje, uzyskanych ze źródeł zewnętrznych, za pomocą algorytmów, takich jak kompresja czasu, filtrowanie, wyciąganie, selekcja, korelacja, splatanie lub przemieszczanie pomiędzy domenami (np. za pomocą szybkiej transformacji Fouriera lub transformacji Walsha). Nie obejmuje algorytmów, w których stosowane są wyłącznie przekształcenia liniowe lub obrotowe pojedynczego obrazu, takie jak przesunięcie, ekstrahowanie jakiejś cechy, rejestracja lub fałszywe barwienie.
W telekomunikacji optycznej technika wzmacniania polegająca na uzyskiwaniu sygnałów optycznych generowanych przez oddzielne źródło optyczne, bez ich przetwarzania na sygnały elektryczne, tj. za pomocą półprzewodnikowych wzmacniaczy optycznych lub światłowodowych wzmacniaczy luminescencyjnych.
Jednoznacznie określony zasięg radaru.
Pewna liczba elementów elektronicznych (tj. 'układów elementarnych', 'elementów dyskretnych' 7, układów scalonych itp.) połączonych ze sobą w celu realizacji określonej(ych) funkcji, wymienialna w całości, która zazwyczaj może być demontowana.
N.B.1: 'Element obwodu': pojedyncza czynna albo bierna funkcjonalna część układu elektronicznego, np. jedna dioda, jeden tranzystor, jeden rezystor, jeden kondensator, itp.
N.B.2: 'Element dyskretny': oddzielnie obudowany 'układ elementarny' z własnymi końcówkami wyjściowymi.
Sterowanie za pomocą instrukcji zaprogramowanych w pamięci elektronicznej, które procesor może realizować w celu kierowania parametrami uprzednio określonych funkcji.
N.B.: Urządzenie może być urządzeniem "ze sterowaniem zaprogramowanym w pamięci", bez względu na to, czy pamięć elektroniczna jest wewnętrzna, czy też zewnętrzna względem urządzenia.
Łączenie molekularne w stanie stałym co najmniej dwóch oddzielnych metali w jeden element, przy czym wytrzymałość miejsca połączenia jest równa wytrzymałości najsłabszego z materiałów.
(Określa się je również adaptacyjnymi zwierciadłami optycznymi). Są to zwierciadła mające:
AKRONIMY I SKRÓTY UŻYWANE W NINIEJSZYM ZAŁĄCZNIKU
Akronimy lub skróty użyte jako zdefiniowany termin znajdują się w"Definicjach terminów użytych w niniejszym Załączniku".
Akronim lub skrót | Znaczenie |
ABEC | Komitet Inżynierów Łożysk Pierścieniowych |
AGMA | Amerykańskie Stowarzyszenie Producentów Przekładni |
AHRS | układy informujące o położeniu i kursie |
AISI | Amerykański Instytut Żelaza i Stali |
ALU | jednostka arytmetyczno - logiczna |
ANSI | Amerykański Narodowy Instytut Normalizacji |
ASTM | Amerykańskie Towarzystwo Materiałoznawcze |
ATC | kontrola ruchu lotniczego |
AVLIS | instalacje do rozdzielania izotopów za pomocą "laserów" w parach atomowych |
CAD | projektowanie wspomagane komputerowo |
CAS | Serwis Dokumentacji Chemicznej |
CCITT | Międzynarodowy Komitet Konsultacyjny Telegraficzny i Telefoniczny |
CDU | jednostka sterowania i wyświetlania |
CEP | krąg równego prawdopodobieństwa |
CNTD | rozkład termiczny z regulowanym zarodkowaniem |
CRISLA | reakcja chemiczna wywołana selektywną laserową aktywacją izotopów |
CVD | osadzanie chemiczne z pary |
CW | wojna chemiczna |
(CW) (dotyczy laserów) | fala ciągła (w laserach) |
DME | radiodalmierz |
DS | ukierunkowane krzepnięcie |
EB-PVD | fizyczne osadzanie pary z wiązką elektronów |
EBU | Europejska Unia Nadawców |
ECM | elektromechaniczne techniki obróbki |
ECR | rezonans elektronowo - cyklotronowy |
EDM | elektroiskrowe obrabiarki |
EEPROMS | elektronicznie wymazywalna programowana pamięć tylko do odczytu |
EIA | Stowarzyszenie Przemysłu Elektronicznego |
EMC | kompatybilność elektromagnetyczna |
ETSI | Europejski Instytut Norm Telekomunikacyjnych |
FFT | szybka transformata Fouriera |
GLONASS | globalny system nawigacji satelitarnej |
GPS | globalny system lokalizacji |
HBT | tranzystory heterobipolarne |
HDDR | cyfrowy zapis magnetyczny z dużą gęstością |
HEMT | tranzystory o wysokiej ruchliwości elektronów |
ICAO | Międzynarodowa Organizacja Lotnictwa Cywilnego |
IEC | Międzynarodowa Komisja Elektrotechniczna |
IEEE | Instytut Inżynierów Elektryki i Elektroniki |
IFOV | chwilowe pole widzenia |
ILS | system lądowania na przyrządy |
IRIG | grupa oprzyrządowania międzyzakresowego |
ISAR | radar z odwróconą syntezą apertury |
ISO | Międzynarodowa Organizacja Normalizacyjna |
ITU | Międzynarodowy Związek Telekomunikacyjny |
JIS | Japońska Norma Przemysłowa |
JT | Joule-Thomson |
LIDAR | radar optyczny |
LRU | liniowy element wymienny |
MAC | kod uwierzytelniania wiadomości |
Mach | stosunek prędkości obiektu do prędkości dźwięku (od nazwiska Ernsta Macha) |
MLIS | instalacje do rozdzielania izotopów za pomocą "laserów" molekularnych |
MLS | mikrofalowe systemy lądowania |
MOCVD | osadzanie z par lotnych związków metaloorganicznych |
MRI | tworzenie obrazów za pomocą rezonansu magnetycznego |
MTBF | średni czas międzyawaryjny |
Mtops | milion teoretycznych operacji na sekundę |
MTTF | średni czas do awarii |
NBC | jądrowy, biologiczny i chemiczny |
NDT | badanie nieniszczące |
PAR | urządzenia radiolokacyjne dokładnego podejścia do lądowania |
PIN | osobisty numer identyfikacyjny |
ppm | części na milion |
PSD | gęstość widmowa mocy |
QAM | modulacja kwadraturowa |
RF | częstotliwość radiowa |
SACMA | Stowarzyszenie Dostawców Wysokojakościowych Materiałów Kompozytowych |
SAR | radar z syntezą apertury |
SC | monokryształ |
SLAR | radar pokładowy obserwacji bocznej |
SMPTE | Stowarzyszenie Inżynierów Filmowych i Telewizyjnych |
SRA | warsztatowy zespół wymienny |
SRAM | statyczna pamięć o dostępie swobodnym |
SRM | metody zalecane przez SACMA |
SSB | pojedyncza wstęga boczna |
SSR | radar wtórnego nadzorowania |
TCSEC | kryteria oszacowania poufnych systemów komputerowych |
TIR | całkowity wskazany odczyt |
UV | ultrafiolet |
UTS | jednostkowa wytrzymałość na rozciąganie |
VOR | radiolatarnia kierunkowa wysokiej częstotliwości |
YAG | granat itrowo - aluminiowy |
KATEGORIA 0
MATERIAŁY, INSTALACJE I URZĄDZENIA JĄDROWE
0A Systemy, urządzenia i części
0A001 Następujące "reaktory jądrowe" oraz specjalnie zaprojektowane lub przystosowane do użytkowania z nimi urządzenia i podzespoły:
Uwaga: W pozycji 0A001.h. "zespoły wewnętrzne reaktora" oznaczają dowolną większą strukturę wewnątrz zbiornika reaktora wypełniającą jedną lub więcej funkcji, takich jak podtrzymywanie rdzenia, utrzymywanie osiowania elementów paliwowych, kierowanie przepływem chłodziwa w obiegu pierwotnym, zapewnienie osłon radiacyjnych zbiornika reaktora i oprzyrządowania wewnątrzrdzeniowego.
0B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
0B001 Następujące instalacje do separacji izotopów z "uranu naturalnego", "uranu zubożonego" i "specjalnych materiałów rozszczepialnych" oraz urządzenia specjalnie do nich zaprojektowane lub wykonane:
Uwaga: W pozycji 0B001.b. "materiał o wysokim stosunku wytrzymałości mechanicznej do gęstości" oznacza jeden z poniższych:
N.B.: Sprawdź także pozycję 2A225.
N.B.: Sprawdź także pozycje 6A005 i 6A205.
N.B.: Sprawdź także pozycje 6A005 i 6A205.
N.B.: Sprawdź także pozycję 2A225.
N.B.: Sprawdź także pozycję 3A227.
N.B.: Sprawdź także pozycję 3A226.
0B002 Następujące specjalnie zaprojektowane lub wykonane pomocnicze instalacje, urządzenia i podzespoły do instalacji separacji izotopów wymienionych w pozycji 0B001, wykonane z "materiałów odpornych na korozyjne działanie UF6" lub chronione materiałami tego typu:
f. 1. Próżniowe instalacje rur rozgałęźnych lub zbiorników o wydajności ssania wynoszącej 5 m3 na minutę lub więcej; lub
0B003 Następujące instalacje do przetwarzania uranu i urządzenia specjalnie przeznaczone lub wykonane z przeznaczeniem do nich:
0B004 Następujące instalacje do produkcji lub stężania ciężkiej wody, deuteru i związków deuteru oraz specjalnie do nich zaprojektowane i wykonane urządzenia:
0B005 Instalacje specjalnie przeznaczone do wytwarzania elementów paliwowych do "reaktorów jądrowych" oraz specjalnie dla nich zaprojektowane lub przystosowane urządzenia.
Uwaga: Instalacje do wytwarzania elementów paliwowych do "reaktorów jądrowych" obejmujące w urządzenia, które:
0B006 Instalacje do przerobu napromieniowanych (wypalonych w różnym stopniu) elementów paliwowych "reaktorów jądrowych" oraz specjalnie dla nich przeznaczone lub wykonane urządzenia i podzespoły.
Uwaga: Pozycja 0B006 obejmuje:
Uwaga: Zbiorniki technologiczne lub magazynowe mogą mieć następujące właściwości:
0B007 Instalacje do przetwarzania plutonu oraz specjalnie dla nich przeznaczone lub wykonane urządzenia i podzespoły.
0C Materiały
0C001 "Uran naturalny" lub "uran zubożony" lub tor w formie metalu, stopu, związku chemicznego lub koncentratu i dowolnego innego materiału zawierającego jeden lub więcej z powyższych materiałów;
Uwaga: Pozycja 0C001 nie obejmuje kontrolą:
0C002 "Specjalne materiały rozszczepialne"
Uwaga: Pozycja 0C002 nie obejmuje kontrolą czterech "gramów efektywnych" lub mniej, w przypadku ich stosowania w czujnikach instrumentów pomiarowych.
0C003 Deuter, ciężka woda (tlenek deuteru) i inne związki deuteru oraz ich mieszaniny i roztwory, w których stosunek liczby atomów deuteru do atomów wodoru jest większy niż 1:5.000.
0C004 Grafit klasy jądrowej, o stopniu zanieczyszczenia poniżej 5 części na milion "ekwiwalentu boru" oraz gęstości większej niż 1,50 g/cm3.
N.B.: Sprawdź także poz. 1C107.
Uwaga 1: Pozycja 0C004 nie obejmuje kontrolą:
Uwaga 2: W pozycji 0C004 "ekwiwalent boru" (BE) zdefiniowany jest jako suma BEZ dla domieszek (z pominięciem
BEC dla węgla, ponieważ węgiel nie jest uważany za domieszkę) z uwzględnieniem boru, gdzie:
BEZ (ppm) = CF × stężenie pierwiastka Z określane w ppm (częściach na milion)
gdzie CF jest współczynnikiem przeliczeniowym = σZAB/ σBAZ
a σBi σZ są przekrojami czynnymi na wychwyt neutronów termicznych (w barnach) odpowiednio dla boru pochodzenia naturalnego i pierwiastka Z, a AB i AZ są masami atomowymi odpowiednio boru naturalnego i pierwiastka Z.
0C005 Specjalnie wzbogacone związki lub proszki do wyrobu przegród do dyfuzji gazowej, odporne na korozyjne działanie UF6, np. nikiel lub stop zawierający 60 % wagowych lub więcej niklu, tlenek aluminium i całkowicie fluorowane polimery węglowodorowe o procentowym stopniu czystości w proporcji wagowej 99,9 lub powyżej i średniej wielkości cząstek poniżej 10 mikrometrów, mierzonej według normy Amerykańskiego Towarzystwa Materiałoznawczego (ASTM) B330 i wysokim stopniu jednorodności wymiarowej cząstek.
0D Oprogramowanie
0D001 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów wymienionych w tej kategorii.
0E Technologia
0E001 "Technologie" według Uwagi do technologii jądrowej, do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów wymienionych w tej kategorii.
KATEGORIA 1
MATERIAŁY, SUBSTANCJE CHEMICZNE, "MIKROORGANIZMY" I "TOKSYNY"
1A Systemy, urządzenia i części
1A001 Następujące elementy wykonane ze związków fluorowych:
UWAGA: W pozycji 1A001.c. "pocisk rakietowy" oznacza kompletne systemy rakietowe i bezzałogowe systemy obiektów latających w powietrzu.
1A002 Wyroby albo laminaty "kompozytowe" mające następujące właściwości:
N.B.: Sprawdź także pozycje 1A202, 9A010 i 9A110.
UWAGA 1: Pozycja 1A002 nie dotyczy wyrobów kompozytowych ani laminatów wykonanych z żywic epoksydowych impregnowanych węglowymi "materiałami włóknistymi lub włókienkowymi", przeznaczonych do naprawy elementów lub laminatów samolotowych, pod warunkiem że ich wielkość nie przekracza 1 m2.
UWAGA 2: Pozycja 1A002 nie obejmuje kontrolą całkowicie lub częściowo wykończonych towarów, specjalnie przeznaczonych do następujących, wyłącznie cywilnych, zastosowań:
1A003 Wyroby z substancji polimerowych niefluorowanych, określonych w pozycji 1C008.a.3., w postaci folii, arkuszy, taśm lub wstęg, jednej z poniższych właściwości:
UWAGA: Pozycja 1A003 nie obejmuje kontrolą wyrobów powlekanych lub laminowanych miedzią, przeznaczonych do produkcji elektronicznych płytek drukowanych.
1A004 Następujące urządzenia, wyposażenie i części ochronne i detekcyjne, różne od objętych kontrolą na podstawie Wykazu uzbrojenia:
N.B.: Sprawdź także pozycje 2B351 i 2B352.
UWAGA: Pozycja 1A004 nie obejmuje kontrolą:
1A005 Kamizelki i okrycia kuloodporne oraz specjalnie zaprojektowane do nich części, różne od wykonanych według norm lub technicznych wymagań wojskowych oraz od ich odpowiedników o porównywalnych parametrach.
N.B.: Sprawdź także Wykaz uzbrojenia.
N.B.: W odniesieniu do "materiałów włóknistych lub włókienkowych", stosowanych do produkcji kamizelek kuloodpornych, patrz 1C010.
UWAGA 1: Pozycja 1A005 nie obejmuje kontrolą indywidualnych okryć kuloodpornych, ani akcesoriów do nich, kiedy służą one ich użytkownikowi do osobistej ochrony.
UWAGA 2: Pozycja 1A005 nie obejmuje kontrolą kamizelek kuloodpornych zaprojektowanych do ochrony czołowej wyłącznie zarówno przed odłamkami, jak i wybuchami ładunków i urządzeń niewojskowych.
1A102 Elementy z przesycanego pirolizowanego materiału typu węgiel-węgiel przeznaczone do pojazdów kosmicznych wymienionych w pozycji 9A004 lub do rakiet meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104.
1A202 Elementy kompozytowe, różne od wymienionych w pozycji 1A002, w postaci rur i mające obie z następujących cech:
N.B.: Sprawdź także pozycje 9A010 i 9A110.
1A225 Katalizatory platynowe specjalnie opracowane lub przygotowane do wspomagania reakcji wymiany izotopów wodoru pomiędzy wodorem a wodą w celu separacji trytu z ciężkiej wody albo w celu produkcji ciężkiej wody.
1A226 Wyspecjalizowane wkłady do oddzielania ciężkiej wody od wody zwykłej, mające obydwie z następujących cech:
1A227 Przeciwradiacyjne okna ochronne o wysokiej gęstości (ze szkła ołowiowego lub podobnych materiałów), mające wszystkie z następujących cech, oraz specjalnie do nich skonstruowane ramy:
Uwaga techniczna;
Na użytek poz. 1A227, termin 'obszar nieradioaktywny' oznacza pole widzenia okna wystawionego na promieniowanie o poziomie najniższym w danym zastosowaniu.
1B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
1B001 Następujące urządzenia do produkcji włókien, materiałów do prasowania laminatów zbrojonych, preform lub "kompozytów" wymienionych w pozycji 1A002 lub 1C010 oraz specjalnie do nich skonstruowane elementy i akcesoria:
N.B.: Sprawdź także pozycje 1B101 i 1B201.
UWAGA: W pozycji 1B001.b. 'pocisk rakietowy' oznacza kompletne systemy rakietowe i bezzałogowe systemy obiektów latających w powietrzu.
Uwaga techniczna;
Na użytek poz. 1B001.c. technika przeplatania obejmuje również dzianie.
UWAGA: Pozycja 1B001.c. nie obejmuje kontrolą maszyn tekstylnych niezmodyfikowanych do wspomnianych powyżej zastosowań końcowych.
1B002 Urządzenia specjalnie zaprojektowane w celu zabezpieczenia przed zanieczyszczeniem i skonstruowane specjalnie z przeznaczeniem do produkcji stopów metali, proszków ze stopów metali lub materiałów stopowych wg jednego z procesów wymienionych w pozycji 1C002.c.2.
N.B.: Sprawdź także pozycję 1B102.
1B003 Narzędzia, matryce, formy lub osprzęt o specjalnej konstrukcji, do przetwarzania tytanu albo aluminium lub ich stopów w "stanie nadplastycznym" albo metodą "zgrzewania dyfuzyjnego" z przeznaczeniem do produkcji:
1B101 Następujące urządzenia, różne od wymienionych w pozycji 1B001, do "produkcji" kompozytów konstrukcyjnych oraz specjalnie do nich skonstruowane elementy i akcesoria:
N.B.: Sprawdź także pozycję 1B201.
UWAGA: Do wymienionych w 1B101 elementów i akcesoriów należą formy, trzpienie, matryce, uchwyty i oprzyrządowanie do wstępnego prasowania, utrwalania, odlewania, spiekania lub spajania elementów kompozytowych, laminatów i wytworzonych z nich wyrobów.
UWAGA: Do urządzeń ujętych w 1B101.d. zalicza się rolki, naprężacze, zespoły powlekające, urządzenia do cięcia i formy zatrzaskowe.
1B102 "Urządzenia produkcyjne" do wytwarzania proszków metali, różne od wymienionych w poz. 1B002 i specjalnie zaprojektowane elementy do nich:
N.B.: Sprawdź także pozycję 1B115.b.
UWAGA: Pozycja 1B102 obejmuje:
1B115 Urządzenia, różne od wymienionych w 1B002 lub 1B102, do produkcji paliw i składników paliw oraz specjalnie do nich skonstruowane podzespoły:
UWAGA: Pozycja 1B115.b nie obejmuje mieszarek okresowych, mieszarek ciągłych lub młynów wykorzystujących energię płynów. W sprawie kontroli mieszarek okresowych, mieszarek ciągłych lub młynów wykorzystujących energię płynów sprawdź pozycje 1B117, 1B118 i 1B119.
UWAGA 1: Urządzenia specjalnie skonstruowane do produkcji wyrobów militarnych wymagają każdorazowo sprawdzenia Wykazu uzbrojenia.
UWAGA 2: Pozycja 1B115 nie obejmuje kontrolą urządzeń do "produkcji", manipulowania i testowania odbiorczego węgliku boru.
1B116 Dysze o specjalnej konstrukcji, przeznaczone do wytwarzania materiałów pochodzenia pirolitycznego, formowanych w matrycy, na trzpieniu albo innym podłożu, z gazów macierzystych rozkładających się w zakresie temperatur od 1.573 K (1.300 °C) do 3.173 K (2.900 °C) przy ciśnieniach w zakresie od 130 Pa do 20 kPa.
1B117 Mieszarki okresowe umożliwiające mieszanie próżniowe w zakresie od zera do 13,326 kPa, w których można regulować temperaturę w komorze mieszania, mające wszystkie z następujących cech, i specjalnie zaprojektowane do nich elementy:
1B118 Mieszarki ciągłe umożliwiające mieszanie próżniowe w zakresie od zera do 13,326 kPa, w których można regulować temperaturę w komorze mieszania, mające wszystkie z następujących cech, i specjalnie zaprojektowane do nich elementy:
1B119 Młyny wykorzystujące energię płynów, nadające się do rozdrabniania i mielenia substancji wymienionych w pozycjach 1C011.a, 1C011.b. i 1C111 lub w Wykazie uzbrojenia, i specjalnie zaprojektowane do nich elementy.
1B201 Maszyny do nawijania włókien i związane z nimi wyposażenie, różne od wymienionych w pozycji 1B001 lub 1B101, jak następuje:
1B225 Ogniwa elektrolityczne do produkcji fluoru o wydajności większej niż 250 gramów fluoru na godzinę.
1B226 Elektromagnetyczne separatory izotopów, skonstruowane z przeznaczeniem do współpracy z jednym lub wieloma źródłami jonów zdolnymi do uzyskania wiązki jonów o całkowitym natężeniu rzędu 50 mA lub więcej, albo wyposażone w takie źródło lub źródła.
UWAGA: Pozycja 1B226 obejmuje następujące separatory:
1B227 Konwertery do syntezy amoniaku lub urządzenia do syntezy amoniaku, w których gaz do syntezy (azot lub wodór) jest odprowadzany z wysokociśnieniowej kolumny wymiennej amoniakowo-wodorowej, a zsyntetyzowany amoniak wraca do wspomnianej kolumny.
1B228 Kolumny do kriogenicznej destylacji wodoru posiadające wszystkie wymienione poniżej cechy:
1B229 Kolumny półkowe do wymiany typu woda-siarkowodór oraz 'kontaktory wewnętrzne' do nich, jak następuje;
N.B.: W przypadku kolumn specjalnie skonstruowanych lub spreparowanych do produkcji ciężkiej wody patrz 0B004.
Uwaga techniczna:
'Kontaktory wewnętrzne' w kolumnach są segmentowymi półkami o zespołowej średnicy roboczej 1,8 m lub większej, skonstruowanymi w sposób ułatwiający kontakt czynników w przepływie przeciwprądowym, wykonanymi ze stali nierdzewnej o zawartości węgla 0,03 % lub mniejszej. Mogą one mieć postać półek sitowych, półek zaworowych, półek dzwonowych lub rusztowych.
1B230 Pompy do przetłaczania roztworów katalizatora z amidku potasu rozcieńczonego lub stężonego w ciekłym amoniaku (KNH2/NH3), posiadające wszystkie wymienione poniżej cechy:
1B231 Następujące urządzenia i instalacje do obróbki trytu lub ich podzespoły:
1B232 Turborozprężarki lub zestawy turborozprężarka-sprężarka mające obie z wymienionych niżej cech:
1B233 Następujące urządzenia i instalacje do separacji izotopów litu lub ich podzespoły:
1C Materiały
Uwaga techniczna:
Metale i stopy:
Jeżeli nie stwierdzono inaczej, terminy 'metale' i 'stopy' używane w pozycjach od 1C001 do 1C012 dotyczą następujących wyrobów surowych i półfabrykatów:
Wyroby surowe:
Anody, kule, pręty (łącznie z prętami karbowanymi i ciągnionymi), kęsy, bloki, bochny, brykiety, placki, katody, kryształy, kostki, struktury, ziarna, sztaby, bryły, pastylki, surówki, proszki, podkładki, śruty, płyty, owale osadnicze, gąbki i drążki;
Półfabrykaty (zarówno powlekane, pokrywane galwanicznie, wiercone i wykrawane, jak i niepoddane żadnej z tych obróbek):
Przedmioty nie powinny być zwalniane z kontroli poprzez eksport form niewymienionych, uważanych za produkty finalne, ale będące w rzeczywistości formami surowymi lub półfabrykatami.
1C001 Następujące materiały specjalnie opracowane z przeznaczeniem na pochłaniacze fal elektromagnetycznych albo polimery przewodzące samoistnie:
N.B.: Sprawdź także pozycję 1C101.
UWAGA 1: Pozycja 1C001.a. nie obejmuje kontrolą:
Uwaga techniczna:
Próbki do badania stopnia pochłaniania materiałów wymienionych w Uwadze 1.c.1. do pozycji 1C001.a. powinny być kwadratami o boku równym co najmniej 5 długościom fali o częstotliwości centralnej i umieszczone w polu dalekim elementu promieniującego fale elektromagnetyczne.
Uwaga 2: Żadne sformułowanie w pozycji 1C001.a. nie zwalnia z kontroli materiałów magnetycznych używanych jako pochłaniacze fal w farbach.
Uwaga techniczna:
'Objętościową przewodność elektryczną' oraz 'oporność powierzchniową' należy określać zgodnie z normą ASTM D-257 albo jej odpowiednikami.
1C002 Następujące stopy metali, proszki stopów metali albo materiały stopowe:
N.B.: Sprawdź także pozycję 1C202.
UWAGA: Pozycja 1C002 nie obejmuje kontrolą stopów metali, proszków stopów metali ani materiałów stopowych do podłoży powlekanych.
Uwagi techniczne:
Uwaga techniczna:
W podanych poniżej związkach X oznacza jeden lub więcej składników stopu.
1C003 Metale magnetyczne, bez względu na typ i postać, posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:
Uwaga techniczna:
Początkową względną przenikalność magnetyczną należy mierzyć na materiałach całkowicie wyżarzonych.
Uwaga techniczna:
Pod pojęciem 'stopy nanokrystaliczne' w pozycji 1C003.c. rozumie się materiały o rozmiarze ziarna krystalicznego wynoszącym 50 nm lub mniej, zmierzonym metodą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego.
1C004 Stopy uranowo-tytanowe lub stopy wolframu na "matrycy" z żelaza, niklu lub miedzi, posiadające wszystkie wymienione poniżej właściwości:
1C005 Następujące "nadprzewodzące" przewodniki "kompozytowe" o długości powyżej 100 m lub masie powyżej 100 g:
1C006 Następujące ciecze i materiały smarne:
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 1C006.a.1. zakłada się, że oleje krzemowęglowodorowe zawierają wyłącznie krzem, wodór i węgiel.
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 1C006.a.2. zakłada się, że chlorofluoropochodne węglowodorów zawierają wyłącznie węgiel, fluor i chlor.
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 1C006:
Umieścić dwadzieścia ml badanej cieczy w komorze ze stali nierdzewnej typu 317 o pojemności 46 ml, w której znajdują się trzy kulki o średnicy (nominalnej) 12,5 mm, jedna ze stali narzędziowej M-10, druga ze stali 52.100 i trzecia z mosiądzu morskiego dwufazowego (60 % Cu, 39 % Zn, 0,75 % Sn).
Następnie napełnić komorę azotem, zamknąć pod ciśnieniem atmosferycznym, podnieść temperaturę do 644 ± 6 K (371 ± 6 °C) i utrzymać ją na tym poziomie przez sześć godzin. Próbkę uznaje się za stabilną termicznie, jeżeli po zakończeniu badania spełnione są wszystkie następujące warunki:
1C007 Następujące materiały na osnowie ceramicznej, niekompozytowe materiały ceramiczne, "materiały kompozytowe" na "matrycy" ceramicznej oraz materiały macierzyste:
N.B.: Sprawdź także pozycję 1C107.
UWAGA: Pozycja 1C007.b. nie obejmuje kontrolą materiałów ściernych.
UWAGA: Pozycja 1C007.f. nie obejmuje kontrolą "materiałów kompozytowych" zawierających włókna z wymienionych w niej materiałów, posiadające wytrzymałość na rozciąganie mniejszą niż 700 MPa przy temperaturze 1.273 K (1.000 °C) lub odporność na pełzanie większą, niż 1 % odkształcenia przy obciążeniu 100 MPa i temperaturze 1.273 K (1.000 °C) w czasie 100 godzin.
1C008 Następujące materiały polimerowe niezawierające fluoru:
a. 1. Bismaleimidy;
UWAGA: Pozycja 1C008.a. nie obejmuje kontrolą nietopliwych proszków do prasowania w formach ani wytłoczek.
1 Jeden z następujących komponentów:
Uwaga techniczna:
Temperatura zeszklenia (Tg) dla materiałów z pozycji 1C010.e. określana jest przy użyciu metody suchej, opisanej w normie ASTM D 3418.
1C009 Następujące nieprzetworzone związki fluorowe:
1C010 Następujące "materiały włókniste lub włókienkowe", które można zastosować w konstrukcjach "kompozytowych" lub laminatach z "matrycą" organiczną, metalową lub węglową:
N.B.: Sprawdź także pozycję 1C210.
UWAGA: Pozycja 1C010.a. nie obejmuje kontrolą polietylenu.
UWAGA: Pozycja 1C010.b. nie dotyczy kontroli tkanin wykonanych z "materiałów włóknistych lub włókienkowych" przeznaczonych do naprawy konstrukcji lotniczych ani laminatów, pod warunkiem że wymiary pojedynczych arkuszy materiału nie przekraczają wielkości 50 cm × 90 cm.
Uwaga techniczna:
Właściwości materiałów ujętych w pozycji 1C010.b. należy określać zalecanymi przez Stowarzyszenie Dostawców Wysokojakościowych Materiałów Kompozytowych (SACMA) metodami SRM 12 do 17, albo równoważnymi metodami badania włókien, takimi jak Japońska Norma Przemysłowa JIS-R-7601, Paragraf 6.6.2., i opartymi na badaniu przeciętnej próbki z partii materiału.
UWAGA: Pozycja 1C010.c. nie obejmuje kontrolą:
UWAGA: Pozycja 1C010.e. nie obejmuje kontrolą:
Uwaga techniczna:
Temperatura zeszklenia (Tg) dla materiałów z pozycji 1C010.e. określana jest przy użyciu metody suchej, opisanej w normie ASTM D 3418. Temperatura zeszklenia dla żywic fenolowych i epoksydowych określana jest przy użyciu metody suchej, opisanej w normie ASTM D 4065, przy częstotliwości 1 Hz i szybkości nagrzewania wynoszącej 2 K (°C) na minutę.
1C011 Następujące metale i związki:
N.B.: Sprawdź także Wykaz uzbrojenia i pozycję 1C111.
Uwaga techniczna:
Naturalna zawartość hafnu w cyrkonie (typowo 2 % do 7 %) jest liczona razem z cyrkonem.
UWAGA: Metale lub stopy wymienione w pozycji 1C011.a. są objęte kontrolą bez względu na to, czy są, czy też nie, zamknięte w kapsułkach z aluminium, magnezu lub berylu.
UWAGA: Metale lub stopy wymienione w pozycji 1C011.b. są objęte kontrolą bez względu na to, czy są, czy też nie, zamknięte w kapsułkach z aluminium, magnezu lub berylu.
1C012 Następujące materiały:
Uwaga techniczna:
Materiały te są typowo wykorzystywane do jądrowych źródeł ciepła.
UWAGA: Pozycja 1C012.a. nie obejmuje kontrolą:
UWAGA: Pozycja 1C012.b. nie obejmuje kontrolą dostaw zawierających neptun-237 w ilości 1 grama lub mniejszej.
1C101 Materiały i urządzenia do obiektów o zmniejszonej wykrywalności za pomocą odbitych fal radarowych, śladów w zakresie promieniowania nadfioletowego i (lub) podczerwonego i śladów akustycznych, inne niż określone w pozycji 1C001, w zastosowaniu do "pocisków rakietowych" i ich podsystemów.
UWAGA 1: Pozycja 1C101 obejmuje:
UWAGA 2: Pozycja 1C101 nie dotyczy powłok, pod warunkiem że są specjalnie używane do regulacji temperatur w satelitach.
1C102 Przesycane pyrolizowane materiały węglowo-węglowe przeznaczone do pojazdów kosmicznych wymienionych w pozycji 9A004 lub do rakiet meteorologicznych (sondujących) wymienionych w poz. 9A104.
1C107 Następujące materiały grafitowe i ceramiczne, różne od wymienionych w pozycji 1C007:
N.B.: Patrz również 0C004
N.B.: Sprawdź także pozycję 0C004.
1C111 Następujące substancje napędowe i związki chemiczne do nich, różne od wymienionych w pozycji 1C011:
Uwaga techniczna:
Wielkość cząstek 63 mikrometry (ISO R-565) koresponduje z siatką 250 (Tyler) lub siatką 230 (standard ASTM E-11).
Uwaga techniczna:
Naturalna zawartość hafnu w cyrkonie (typowo 2 % do 7 %) jest liczona razem z cyrkonem.
Uwaga techniczna:
Mieszaniny tlenków azotu stanowią roztwory tlenku azotu (NO) w tetratlenku diazotu/ditlenku azotu (N2O4/NO2), które mogą być wykorzystane w systemach rakietowych. Istnieje cała skala mieszanin, które mogą być oznaczone jako MONi lub MONij, gdzie i oraz j są liczbami całkowitymi przedstawiającymi procentową zawartość tlenku azotu w danej mieszaninie (np. MON3 zawiera 3 % tlenku azotu, MON25 - 25 % tlenku azotu. Górną granicę stanowi MON40 - 40 % zawartości wagowej).
UWAGA: Dla substancji miotających oraz składników chemikaliów do materiałów miotających, nie wymienionych w pozycji 1C111, sprawdź także Wykaz uzbrojenia.
1C116 Stale maraging (stale ogólnie charakteryzujące się wysoką zawartością niklu, bardzo niską zawartością węgla i wykorzystaniem składników substytucyjnych lub przyspieszających, umożliwiających utwardzanie wydzielinowe), o wytrzymałości na rozciąganie równej 1.500 MPa lub większej, mierzonej w temperaturze 293 °K (20 °C), w postaci blach, płyt lub rur o grubości ścianek rur lub grubości płyt mniejszej lub równej 5 mm.
N.B.: Patrz także pozycja 1C216.
1C117 Wolfram, molibden oraz stopy tych metali w postaci regularnych kulek albo rozpylonych cząstek o średnicy 500 μm lub mniejszej i czystości większej lub równej 97 %, przeznaczone do produkcji zespołów silników "rakietowych", tj. osłon termicznych, podłoża dysz, przewężeń dysz i powierzchni sterowania wektorem ciągu.
1C118 Stabilizowana tytanem stal nierdzewna dupleksowa (Ti-DSS) posiadająca wszystkie z niżej wymienionych cech:
1C202 Stopy, różne od wyszczególnionych w pozycji 1C002.b.3. lub b.4., takie jak:
Uwaga techniczna:
Określenie stopy "zdolne do" obejmuje stopy przed lub po obróbce cieplnej.
1C210 "Materiały włókniste lub włókienkowe" lub prepregi, różne od wyszczególnionych w pozycji 1C010.a., b. lub e., takie jak:
UWAGA: Pozycja 1C210.a. nie obejmuje kontrolą aramidowych "materiałów włóknistych lub włókienkowych", zawierających wagowo 0,25 % lub więcej dowolnego modyfikatora powierzchni włókien opartego na estrach;
Uwaga techniczna:
Żywice tworzą matryce kompozytów.
UWAGA: W pozycji 1C210 pojęcie "materiały włókniste lub włókienkowe" ogranicza się do ciągłych "włókien elementarnych", "przędz", "niedoprzędów", "kabli" lub "taśm".
1C216 Stal maraging, różna od wyszczególnionej w pozycji 1C116, "zdolna do" wytrzymałości na rozciąganie większej lub równej 2.050 MPa, w temperaturze 293 °K (20 °C).
UWAGA: Pozycja 1C216 nie obejmuje kontrolą form, w których wszystkie wymiary liniowe są mniejsze lub równe 75 mm.
Uwaga techniczna:
Sformułowanie stal maraging "zdolna do" obejmuje stal maraging przed lub po obróbce cieplnej.
1C225 Bor wzbogacony izotopem boru-10 (10B) w stopniu większym niż naturalna liczebność izotopowa, taki jak: bor pierwiastkowy, związki i mieszaniny zawierające bor, wyroby oraz złom i odpady powstałe z wyżej wymienionych.
UWAGA: W pozycji 1C225 mieszaniny zawierające bor obejmują materiały obciążone borem.
Uwaga techniczna:
Naturalna liczebność izotopowa boru-10 wynosi wagowo ok. 18,5 % (atomowo 20 %).
1C226 Wolfram, węglik wolframu oraz stopy zawierające wagowo powyżej 90 % wolframu, posiadające obydwie z niżej wymienionych cech:
UWAGA: Pozycja 1C226 nie obejmuje kontrolą wyrobów specjalnie zaprojektowanych jako odważniki lub kolimatory promieniowania gamma.
1C227 Wapń posiadający obydwie z niżej wymienionych cech:
oraz
1C228 Magnez posiadający obydwie z niżej wymienionych cech:
1C229 Bizmut posiadający obydwie z niżej wymienionych cech:
1C230 Beryl metaliczny, stopy zawierające wagowo więcej niż 50 % berylu, związki berylu, wyroby oraz złom i odpady powstałe z wyżej wymienionych.
UWAGA: Pozycja 1C230 nie obejmuje kontrolą:
1C231 Hafn metaliczny, stopy oraz związki hafnu zawierające wagowo więcej niż 60 % hafnu, wyroby oraz złom i odpady z powstałe z wyżej wymienionych.
1C232 Hel-3 (3He), mieszaniny zawierające hel-3 oraz wyroby lub urządzenia zawierające dowolne z wyżej wymienionych substancji;
UWAGA: Pozycja 1C232 nie obejmuje kontrolą wyrobów lub urządzeń zawierających mniej niż 1 g helu-3.
1C233 Lit wzbogacony izotopem litu-6 (6Li) w stopniu większym niż naturalna liczebność izotopowa, oraz produkty lub urządzenia zawierające wzbogacony lit takie jak: lit pierwiastkowy, stopy, związki, mieszaniny zawierające lit, wyroby oraz złom i odpady powstałe z wyżej wymienionych.
UWAGA: Pozycja 1C233 nie obejmuje kontrolą dozymetrów termoluminescencyjnych.
Uwaga techniczna:
Naturalna liczebność izotopowa litu-6 wynosi wagowo ok. 6,5 % (atomowo 7,5 %).
1C234 Cyrkon z zawartością wagową hafnu mniejszą niż 1 część hafnu do 500 części cyrkonu, taki jak: metal, stopy zawierające wagowo ponad 50 % cyrkonu, związki, wyroby oraz złom i odpady powstałe z wyżej wymienionych.
UWAGA: Pozycja 1C234 nie obejmuje kontrolą cyrkonu w postaci folii o grubości mniejszej lub równej 0,10 mm.
1C235 Tryt, związki trytu i mieszaniny zawierające tryt, w których stosunek atomów trytu do wodoru przewyższa 1 część na 1.000, oraz wyroby lub urządzenia zawierające wyżej wymienione substancje.
UWAGA: Pozycja 1C235 nie obejmuje kontrolą wyrobów lub urządzeń zawierających nie więcej niż 1,48 × 103 GBq (40 Ci) trytu.
1C236 Radionuklidy emitujące cząstki alfa o okresie połowicznego rozpadu większym lub równym 10 dni, ale mniejszym niż 200 lat, występujące w poniższych postaciach:
UWAGA: Pozycja 1C236 nie obejmuje kontrolą wyrobów lub urządzeń o aktywności alfa poniżej 3,7 GBq (100 mCi).
1C237 Rad-226 (226Ra), stopy oraz związki radu-226, mieszaniny zawierające rad-226, powstałe z nich wyroby, oraz produkty i urządzenia powstałe z wyżej wymienionych.
UWAGA: Pozycja 1C237 nie obejmuje kontrolą:
1C238 Trifluorek chloru (ClF3).
1C239 Kruszące materiały wybuchowe, różne od wyszczególnionych w uregulowaniach dotyczących towarów wojskowych, substancje lub mieszaniny zawierające wagowo więcej niż 2 % tych materiałów, o gęstości krystalicznej większej niż 1,8 g/cm3 i prędkości detonacji powyżej 8.000 m/s.
1C240 Proszek niklu lub porowaty nikiel metaliczny, różny od wyszczególnionego w pozycji 0C005, taki jak:
UWAGA: Pozycja 1C240 nie obejmuje kontrolą:
Uwaga techniczna:
Pozycja 1C240.b. odnosi się do porowatego metalu wyrabianego metodą zagęszczania lub spiekania materiałów wyszczególnionych w pozycji 1C240.a., celem otrzymania metalu z drobnymi porami, wzajemnie łączącymi się w całości struktury.
1C350 Substancje chemiczne, które mogą być wykorzystane jako prekursory dla toksycznych środków chemicznych, oraz "mieszaniny chemiczne" zawierające jedną lub więcej z wyżej wymienionych substancji, z tego:
N.B.: Sprawdź także Wykaz uzbrojenia oraz pozycję 1C450.
UWAGA 1: Dla eksportu do "Państw nie będących stronami Konwencji o zakazie broni chemicznej" pozycja 1C350 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C350.1, .3, .5, .11, .12, .13, .17, .18, .21, .22, .26, .27, .28, .31, .32, .33, .34, .35, .36, i .54, w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 10 % mieszaniny.
UWAGA 2: Dla eksportu do "Państw będących stronami Konwencji o zakazie broni chemicznej" pozycja 1C350 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wymienionych w podpunktach 1C350.1, .3, .5, .11, 12, .13, .17, .18, .21, .22, .26, .27, .28, .31, .32, .33, .34, .35, .36, i .54, w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 30 % mieszaniny.
UWAGA 3: Pozycja 1C350 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C350.2, .6, .7, .8, .9, .10, 14, .15, .16, .19, .20, .24, .25, .30, .37, .38, .39, .40, .41, .42, .43, .44, .45, .46, .47, .48, .49, .50, .51, .52, oraz .53, w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 30 % mieszaniny.
UWAGA 4: Pozycja 1C350 nie obejmuje kontrolą wyrobów określanych jako dobra konsumpcyjne pakowane do sprzedaży detalicznej do osobistego użytku lub pakowane do indywidualnego użytku.
1C351 Ludzkie czynniki chorobotwórcze, choroby przenoszone przez zwierzęta oraz "toksyny", takie jak:
Uwaga: Pozycja 1C351.d. nie obejmuje kontrolą toksyn botulinowych ani konotoksyn w postaci wyrobów spełniających wszystkie niżej wymienione kryteria:
Uwaga: Pozycja 1C351 nie obejmuje kontrolą "szczepionek" lub "immunotoksyn".
1C352 Zwierzęce czynniki chorobotwórcze, takie jak:
UWAGA: Pozycja 1C352 nie obejmuje kontrolą "szczepionek".
1C353 Elementy genetyczne oraz zmodyfikowane genetycznie "organizmy":
Uwaga techniczna:
Elementy genetyczne zawierają między innymi chromosomy, genomy, plazmidy, transpozony oraz wektory, bez względu czy są modyfikowane genetycznie, czy nie.
UWAGA: Pozycji 1C353 nie stosuje się do sekwencji kwasów nukleinowych połączonych z czynnikami chorobotwórczymi pałeczki okrężnicy o odmianie serologicznej O157 oraz innych werotoksyn wytwarzających odmiany serologiczne innych niż te przypisane do werotoksyn lub ich podjednostek.
1C354 Szczepy chorobotwórcze, takie jak:
1C450 Toksyczne związki chemiczne, prekursory toksycznych związków chemicznych oraz "mieszaniny chemiczne" zawierające jedną lub więcej z tych substancji, takie jak:
N.B.: Patrz także pozycje 1C350, 1C351.d. oraz wykaz uzbrojenia.
UWAGA 1: Dla eksportu do "Państw nie będących stronami Konwencji o zakazie broni chemicznej" pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C450.a.1. oraz .a.2., w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 10 % mieszaniny.
UWAGA 2: Dla eksportu do "Państw będących stronami Konwencji o zakazie broni chemicznej" pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C450.a.1. oraz .a.2., w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 30 % mieszaniny.
UWAGA 3: Pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C450.a.4., .a.5., .a.6. oraz .a.7., w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 30 % mieszaniny.
UWAGA: Pozycja 1C450.b.1. nie obejmuje kontrolą fonofosu: O-etylo S-fenylo -etylofosfonotiolotionianu (944-22-9);
UWAGA: Pozycja 1C450.b.5. nie obejmuje kontrolą:
UWAGA 1: Dla eksportu do "Państw nie będących stronami Konwencji o zakazie broni chemicznej" pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C450.b.1., .b.2., .b.3., .b.4., .b.5., oraz .b.6., w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 10 % mieszaniny.
UWAGA 2: Dla eksportu do "Państw będących stronami Konwencji o zakazie broni chemicznej" pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C450.b.1., .b.2., .b.3., .b.4., .b.5., oraz .b.6., w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 30 % mieszaniny
UWAGA 3: Pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą "mieszanin chemicznych" zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w podpunktach 1C450.b.7. oraz .b.8., w których żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 30 % mieszaniny.
UWAGA: Pozycja 1C450 nie obejmuje kontrolą wyrobów określanych jako dobra konsumpcyjne pakowane do sprzedaży detalicznej do osobistego użytku lub pakowane do indywidualnego użytku.
1D Oprogramowanie
1D001 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "rozwoju", "produkcji" albo "użytkowania" wyrobów wyszczególnionych w pozycjach od 1B001 do 1B003.
1D002 "Oprogramowanie" do "rozwoju" "matryc" organicznych, "matryc" metalowych, "matryc" węglowych do laminatów, oraz "kompozytów".
1D101 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "użytkowania" wyrobów wyszczególnionych w pozycji 1B101, 1B102, 1B115, 1B117, 1B118 lub 1B119.
1D103 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane do badania obiektów o zmniejszonej wykrywalności za pomocą odbitych fal radarowych, śladów w zakresie promieniowania nadfioletowego/podczerwonego oraz śladów akustycznych.
1D201 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane do "użytkowania" wyrobów wyszczególnionych w pozycji 1B201.
1E Technologia
1E001 "Technologia", stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do ""rozwoju" lub "produkcji" sprzętu lub materiałów wyszczególnionych w pozycji 1A001.b., 1A001.c., 1A002 do 1A005, 1B lub 1C.
1E002 Inne "technologie", takie jak:
UWAGA: Pozycja 1E002.c.2. nie obejmuje kontrolą "technologii" do projektowania lub produkcji materiałów ściernych.
UWAGA: Pozycja 1E002.f. nie obejmuje kontrolą "technologii" do naprawy struktur "cywilnych statków powietrznych" za pomocą węglowych "materiałów włóknistych lub włókienkowych" oraz żywic epoksydowych, zawartych w instrukcjach producenta, dotyczących obsługi "statków powietrznych".
1E101 "Technologia", stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "użytkowania" wyrobów wyszczególnionych w pozycjach 1A102, 1B001, 1B101, 1B102, 1B115 do 1B119, 1C001, 1C101, 1C107, 1C111 do 1C117, 1D101 lub 1D103.
1E102 "Technologia", stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "rozwoju" "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycjach 1D001, 1D101 lub 1D103.
1E103 "Technologia" do regulacji temperatur, ciśnień lub atmosfery w autoklawach lub hydroklawach w przypadku wykorzystania do "produkcji" "kompozytów" lub "kompozytów" częściowo przetworzonych.
1E104 "Technologia" związana z "produkcją" pirolitycznie wytwarzanych materiałów, formowanych za pomocą form, walcowania trzpieniowego lub innego podłoża z gazów prekursorowych, ulegających rozkładowi w temperaturach od 1.573 K (1.300 °C) do 3.173 K (2.900 °C) przy ciśnieniach od 130 Pa do 20 kPa.
UWAGA: Pozycja 1E104 obejmuje "technologię" do łączenia gazów prekursorowych, wartości natężeń przepływu, harmonogramy oraz parametry sterowania procesem.
1E201 "Technologia", stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "użytkowania" wyrobów wyszczególnionych w pozycjach 1A002, 1A202, 1A225 do 1A227, 1B201, 1B225 do 1B233, 1C002.a.2.c. lub .d., 1C010.b., 1C202, 1C210, 1C216, 1C225 do 1C240 lub 1D201.
1E202 "Technologia", stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "rozwoju" lub "produkcji" wyrobów wyszczególnionych w pozycjach 1A202 lub 1A225 do 1A227.
1E203 "Technologia", stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "rozwoju" "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycji 1D201.
KATEGORIA 2
PRZETWARZANIE MATERIAŁÓW
2A Systemy, sprzęt oraz komponenty.
N.B.: Dla łożysk bezgłośnych patrz uregulowania dotyczące towarów wojskowych
2A001 Łożyska, zespoły łożysk oraz ich części składowe:
Uwaga: Pozycja 2A001 nie obejmuje kontrolą kulek o tolerancji, określanej przez producenta zgodnie z normą ISO 3290, klasy 5 lub gorszej.
Uwaga: Pozycja 2A001.a. nie obejmuje kontrolą łożysk z wałeczkami stożkowymi.
Uwaga: Pozycja 2A001.b. nie obejmuje kontrolą łożysk z wałeczkami stożkowymi.
2A225 Tygle, wykonane z materiałów odpornych na płynne aktynowce, takie jak:
2A226 Zawory posiadające wszystkie z następujących cech charakterystycznych:
Uwaga techniczna:
Dla zaworów o różnych średnicach otworu wlotowego i wylotowego pojęcie 'wymiar nominalny' w pozycji 2A226 odnosi się do najmniejszych średnic.
2B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
Uwagi techniczne:
Nie obejmuje to jakichkolwiek dodatkowych osi, które mają wpływ na inne ruchy względne maszyny, takie jak:
2B001 Obrabiarki, oraz ich różne kombinacje, do skrawania (albo cięcia) metali, materiałów ceramicznych lub "kompozytów" które, według danych technicznych producenta, mogą być wyposażone w urządzenia elektroniczne do "sterowania numerycznego" oraz specjanie do nich zaprojektowane komponenty, z tego:
N.B.: Patrz także pozycja 2B201.
Uwaga 1: Pozycja 2B001 nie obejmuje kontrolą obrabiarek do specjalizowanych zastosowań ograniczonych do wytwarzania kół zębatych. Dla takich maszyn patrz pozycja 2B003.
Uwaga 2: Pozycja 2B001 nie obejmuje kontrolą obrabiarek do specjalizowanych zastosowań ograniczonych do wytwarzania dowolnych z następujących części:
Uwaga 3: Obrabiarki posiadające, co najmniej dwie z trzech następujących zdolności: toczenia, frezowania lub szlifowania (np. tokarka ze zdolnością do frezowania), muszą być oszacowane stosownie odpowiednio do każdej pozycji 2B001.a., .b. lub .c.
Uwaga: Pozycja 2B001.a. nie obejmuje kontrolą tokarek specjalnie zaprojektowanych do wytwarzania soczewek kontaktowych.
Uwaga: Pozycja 2B001.c. nie obejmuje kontrolą następujących szlifierek:
2B002 Obrabiarki sterowane numerycznie wykorzystujące proces magnetorheologicznej obróbki wykańczającej [W] (MRF).
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 2B002, MRF oznacza proces obróbki materiału, wykorzystujący ścierny płyn magnetyczny, którego lepkość kontrolowana jest przez pole magnetyczne.
2B003 Obrabiarki "sterowane numerycznie" lub ręcznie, oraz specjalnie do nich zaprojektowane komponenty, urządzenia sterujące i oprzyrządowanie, specjalnie opracowane do skrawania, obróbki, wykańczania, szlifowania albo gładzenia hartowanych (Rc = 40 lub więcej), kół zębatych o zębach prostych, kół zębatych śrubowych i daszkowych o średnicy toczonej powyżej 1.250 mm i szerokości wieńca wynoszącej 15 % średnicy toczonej lub większej, wykończone do jakości AGMA 14 albo wyższej (równoważnej Klasie 3 normy ISO 1328).
2B004 Pracujące na gorąco "prasy izostatyczne" posiadające wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne, oraz specjalnie zaprojektowane do nich komponenty i akcesoria, takie jak:
N.B.: Patrz także pozycje 2B104 i 2B204.
Uwaga techniczna:
Termin wewnętrznęgo wymiaru, oznacza wymiar komory, w którym osiąga się zarówno temperaturę roboczą jak i ciśnienie robocze, termin nie obejmuje osprzętu. Wymiar ten będzie mniejszą ze średnic wewnętrzych komory ciśnieniowej lub izolowanej komory paleniskowej, w zależności od tego, która z tych komór jest umieszczona wewnątrz drugiej.
N.B.: W przypadku specjalnie zaprojektowanych matryc, form i oprzyrządowania patrz pozycje 1B003, 9B009 oraz uregulowania dotyczące towarów wojskowych.
2B005 Sprzęt specjalnie zaprojektowany do osadzania, przetwarzania i automatycznej kontroli w czasie obróbki pokryć i powłok nieorganicznych oraz modyfikacji warstw powierzchniowych, przeznaczony do wytwarzania podłoży nieelektronicznych, technikami wymienionymi w tabeli oraz dowiązanymi uwagami, umieszczonymi po pozycji 2E003.f., oraz specjalnie do nich opracowane zautomatyzowane komponenty do obsługiwania, ustalania położenia, manipulowania i sterowania, z tego:
N.B.: Patrz także pozycja 2B1O5.
Uwaga: Pozycja 2B005 nie obejmuje kontrolą urządzeń chemicznego osadzania warstw z faz gazowych, napylania katodowego, napylania jonowego, jonowego powlekania lub implantacji jonów, specjalnie zaprojektowanych do narzędzi tnących i skrawających.
2B006 Systemy oraz sprzęt do kontroli wymiarowej lub pomiarów, taki jak:
N.B.: Patrz także pozycja 2B206.
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 2B006.b.1. "odchylenie liniowe" oznacza zmianę odległości pomiędzy czujnikiem a obiektem mierzonym.
Uwaga: Pozycja 2B006.b.1. nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych nieposiadających zamkniętej lub otwartej pętli sprzężenia zwrotnego, zawierającej "laser" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wyposażenia.
Uwaga: Pozycja 2B006.b.2. nie obejmuje kontrolą przyrządów optycznych, takich jak autokolimatory, wykorzystujących światło kolimowane, (np. światło lasera) w celu wykrycia odchylenia kątowego zwierciadła.
Uwaga: Obrabiarki, które można wykorzystać do celów pomiarowych są objęte kontrolą, jeżeli spełniają lub przewyższają kryteria określone dla funkcji obrabiarki lub funkcji maszyny pomiarowej.
2B007 "Roboty" posiadające jakąkolwiek z niżej wymienionych cech charakterystycznych, oraz specjalnie zaprojektowane do nich urządzenia sterujące i "mechanizmy wykonawcze" z tego;
N.B.: Patrz także pozycja 2B207.
Uwaga techniczna:
Ograniczenie dotyczące 'analizy obrazów' nie obejmuje aproksymacji trzeciego wymiaru poprzez rzutowanie pod zadanym kątem, ani stosowanego w ograniczonym zakresie cieniowania według skali szarości, wykorzystywanego do spostrzegania głębi lub tekstury dla określonych zadań (2 1/2 D).
Uwaga techniczna:
Termin Gy (Si) odnosi się do energii w Dżulach na kilogram zaabsorbowanej przez nieekranowaną próbkę krzemu poddaną promieniowaniu jonizującemu.
2B008 Zespoły lub podzespoły specjalnie zaprojektowane do obrabiarek, systemów i sprzętu do kontroli wymiarów oraz systemów pomiarowych i sprzętu pomiarowego, takie jak:
N.B.: Dla systemów "laserowych", patrz także uwagę do pozycji 2B006.b.1.
N.B.: Dla systemów "laserowych", patrz także uwagę do pozycji 2B006.b.1.
2B009 Maszyny do wyoblania i tłoczenia kształtowego, które stosownie do danych technicznych producenta, mogą być wyposażone w zespoły "sterowania numerycznego" lub komputerowego oraz posiadające wszystkie z niżej wymienionych cech:
N.B.: Patrz także pozycje 2B109 i 2B209.
Uwaga techniczna:
Maszyny łączące funkcje wyoblania i tłoczenia kształtowego są dla potrzeb pozycji 2B009 traktowane jako urządzenia do tłoczenia kształtowego.
2B104 "Prasy izostatyczne", różne od wyszczególnionych w pozycji 2B004, posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:
N.B.: Patrz także pozycja 2B204.
2B105 Piece do CVD, inne niż wyszczególnione w pozycji 2B005.a., zaprojektowane lub zmodyfikowane dla zagęszczania kompozytów węglowo-węglowych.
2B109 Maszyny do tłoczenia kształtowego, różne od wyszczególnionych w pozycji 2B009 oraz specjalnie zaprojektowane komponenty, takie jak:
N.B.: Patrz także pozycja 2B209.
Uwaga: Pozycja 2B109 nie obejmuje kontrolą maszyn nienadających się do produkcji komponentów i sprzętu napędowego (np. osłon silników) do systemów wyszczególnionych w pozycjach 9A005, 9A007.a. lub 9A105.a.
Uwaga techniczna:
Maszyny łączące funkcje wyoblania i tłoczenia kształtowego są dla potrzeb pozycji 2B109 traktowane jako urządzenia do tłoczenia kształtowego.
2B116 Systemy do badań wibracyjnych, sprzęt i komponenty z nimi związane, z tego:
Uwaga techniczna:
W pozycji 2B116 pojęcie 'nagi stół' oznacza płaski stół, albo powierzchnię, bez uchwytów i elementów mocujących.
2B117 Środki do sterowania sprzętem i przebiegiem procesów, różne od wyszczególnionych w pozycjach 2B004, 2B005.a., 2B104 lub 2B105, zaprojektowane lub zmodyfikowane dla zagęszczania i pirolizy kompozytów strukturalnych dysz rakietowych oraz głowic powracających do atmosfery.
2B119 Maszyny do wyważania i powiązany z nimi sprzęt, z tego:
N.B.: Patrz także pozycja 2B219.
Uwaga: Pozycja 2B119 nie obejmuje kontrolą wyważarek zaprojektowanych lub zmodyfikowanych dla urządzeń dentystycznych i innego sprzętu medycznego.
Uwaga techniczna:
Głowice wskaźników określane są czasami jako oprzyrządowanie wyważające.
2B120 Symulatory ruchu lub stoły obrotowe posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:
Uwaga: Pozycja 2B120 nie obejmuje kontrolą stołów obrotowych przeznaczonych lub zmodyfikowanych dla obrabiarek lub sprzętu medycznego. Dla uregulowań dotyczących obrabiarkowych stołów obrotowych patrz pozycja 2B008.
2B121 Stoły pozycjonujące (sprzęt zdolny do precyzyjnego określania położenia kątowego w dowolnej osi), inne niż wyszczególnione w pozycji 2B120, posiadające wszystkie następujace cechy charakterystyczne:
Uwaga: Pozycja 2B121 nie obejmuje kontrolą stołów obrotowych przeznaczonych lub zmodyfikowanych dla obrabiarek lub sprzętu medycznego. Dla uregulowań dotyczących obrabiarkowych stołów obrotowych patrz pozycja 2B008.
2B122 Wirówki umożliwiające nadanie przyśpieszenia ponad 100 g i posiadające pierścienie ślizgowe zdolne do przekazywania zasilania elektrycznego i/lub informacji sygnałowych;
2B201 Obrabiarki, różne od wyszczególnionych w pozycji 2B001, do skrawania lub cięcia metali, materiałów ceramicznych lub "kompozytowych", które stosownie do specyfikacji technicznej producenta mogą być wyposażone w urządzenia elektroniczne do jednoczesnej "kontroli kształtowania" w dwóch lub więcej osiach:
Uwaga: Pozycja 2B201.a. nie obejmuje kontrolą frezarek posiadających następujące cechy charakterystyczne:
Uwaga: Pozycja 2B201.b. nie obejmuje kontrolą następujących szlifierek:
2B204 "Prasy izostatyczne", różne od wyszczególnionych w pozycjach 2B004, lub 2B104 i sprzęt z nimi związany, z tego:
Uwaga techniczna:
W pozycji 2B204 termin wewnętrznęgo wymiaru komory, oznacza wymiar, w którym osiąga się zarówno temperaturę roboczą jak i ciśnienie robocze, termin nie obejmuje osprzętu. Wymiar ten będzie mniejszą ze średnic wewnętrzych komory ciśnieniowej lub izolowanej komory paleniskowej, w zależności od tego, która z tych komór jest umieszczona wewnątrz drugiej.
2B206 Maszyny, przyrządy oraz systemy do kontroli wymiarowej, różne od wyszczególnionych w pozycji 2B006, takie jak:
Uwaga 1: Obrabiarki, które można wykorzystać do celów pomiarowych, są objęte kontrolą, jeżeli spełniają albo przekraczają kryteria określone dla funkcji obrabiarki lub maszyny pomiarowej.
Uwaga 2: Maszyna wyszczególniona w pozycji 2B206 jest objęta kontrolą, jeżeli jej zakres pracy przekracza w jakikolwiek sposób próg objęcia kontrolą.
Uwagi techniczne:
2B207 "Roboty", "manipulatory" i jednostki sterujące, różne od wyszczególnionych w pozycji 2B007, takie jak:
2B209 Maszyny do tłoczenia kształtowego, maszyny do wyoblania kształtowego posiadające możliwość realizacji funkcji tłoczenia kształtowego, różne od wyszczególnionych w pozycjach 2B009 lub 2B109, lub trzpienie,
z tego:
Uwaga: Pozycja 2B209.a. obejmuje maszyny posiadające tylko pojedynczy wałek zaprojektowany do deformowania metalu oraz dwa pomocnicze wałki podtrzymujące trzpień, ale nieuczestniczące bezpośrednio w procesie deformacji.
2B219 Odśrodkowe maszyny do wielopłaszczyznowego wyważania, stałe lub przenośne, poziome lub pionowe, z tego:
2B225 Zdalnie sterowane manipulatory, które mogą być stosowane do zdalnego wykonywania prac podczas rozdzielania radiochemicznego oraz w komorach gorących, posiadające wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwaga techniczna:
Zdalnie sterowane manipulatory przekształcają działanie człowieka - operatora, na ramię robocze i uchwyt końcowy.
Mogą występować jako typu "master/slave" lub posiadać sterowanie przez joystick lub klawiaturę.
2B226 Piece indukcyjne z regulowaną atmosferą (próżniowe lub z gazem obojętnym) i instalacje do ich zasilania, takie jak:
N.B.: Patrz także pozycja 3B.
Uwaga: Pozycja 2B226.a. nie obejmuje kontrolą pieców przeznaczonych do przetwarzania płytek półprzewodnikowych.
2B227 Próżniowe oraz posiadajace inną regulowaną atmosferę, roztapiające i odlewnicze piece metalurgiczne, oraz sprzęt z nimi związany, z tego:
2B228 Sprzęt do wytwarzania, montażu oraz prostowania wirników, trzpienie i matryce do formowania mieszków, z tego:
Uwaga: Pozycja 2B228.a. obejmuje precyzyjne trzpienie, zaciski i maszyny do pasowania skurczowego.
Uwaga techniczna:
W pozycji 2B228.b. taki sprzęt składa się zazwyczaj z dokładnych czujników pomiarowych, podłączonych do komputera, sterującego następnie pracą, np. pneumatycznego bijaka wykorzystywanego do ustawiania sekcji rurowych wirnika.
Uwaga techniczna:
Mieszki, o których mowa w pozycji 2B228.c., posiadają wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
2B230 "Przetworniki ciśnienia" zdolne do pomiaru ciśnienia bezwzględnego w dowolnym punkcie z przedziału od 0 do 13 kPa, posiadające obydwie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwaga techniczna:
Dla potrzeb pozycji 2B230 pojęcie 'dokładność' obejmuje nieliniowość, histerezę i powtarzalność w temperaturze otoczenia.
2B231 Pompy próżniowe posiadające wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwagi techniczne:
2B232 Wielostopniowe lekkie działa gazowe lub inne wysokoprędkościowe systemy miotające (cewkowe, elektromagnetyczne, elektrotermiczne lub inne rozwinięte systemy) zdolne do przyspieszania pocisków do prędkości 2 km/s lub większej.
2B350 Instalacje do produkcji substancji chemicznych, sprzęt i komponenty, z tego:
Uwaga techniczna:
'Grafit węglowy' jest substancją składającą się z węgla amorficznego i grafitu, w której zawartość wagowa składnika, jakim jest grafit wynosi 8 % lub więcej.
2B351 Systemy monitorowania gazów toksycznych; oraz przeznaczone do nich czujniki, z tego:
2B352 Sprzęt zdolny do wykorzystania przy obsługiwaniu materiałów biologicznych, taki jak:
Uwaga techniczna:
Poziomy zabezpieczenia P3 lub P4 (BL3, BL4, L3, L4) są wyszczególnione w instrukcji WHO dotyczącej bezpieczeństwa biologicznego laboratoriów (wydanie drugie, Genewa 1993).
Uwaga techniczna:
Do kadzi fermentacyjnych zalicza się bioreaktory, chemostaty oraz instalacje o przepływie ciągłym.
Uwaga techniczna:
Do separatorów odśrodkowych zalicza się również dekantery.
Uwaga techniczna:
W pozycji 2B352.d.1.b. sterylizacja oznacza likwidację wszystkich żyjących mikroorganizmów ze sprzętu poprzez użycie czynnika fizycznego (np. para wodna) lub chemicznego. Odkażenie oznacza zniszczenie potencjalnego zagrożenia mikrobiologicznego sprzętu poprzez użycie czynników chemicznych o właściwościach bakteriobójczych. Odkażenie i sterylizacja różnią się od oczyszczania, które odnosi się do procedur oczyszczenia, zaprojektowanch w celu obniżenia składnika mikrobilologicznego w sprzęcie, bez konieczności dokonania likwidacji wszystkich zagrożeń mikrobiologicznych lub utrzymujących się przy życiu mikroorganizmów.
Uwaga: Pozycja 2B352.d. nie obejmuje kontrolą sprzętu odwracania osmozy, jako określonego przez producenta.
Uwaga: Pozycja 2B352.f.1. nie obejmuje kontrolą kombinezonów zaprojektowanych do noszenia z niezależnym aparatem do oddychania.
Uwaga: W pozycji 2B352.f.2. izolatory obejmują elastyczne pojemniki izolowane, komory suche, komory anaerobowe oraz komory rękawowe (zamknięte z pionowym przepływem).
2C Materiały
Żadne.
2D Oprogramowanie
2D001 "Oprogramowanie" różne od wyszczególnionego w pozycji 2D002, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" urządzeń wyszczególnionych w pozycjach 2A001 lub 2B001 do 2B009.
2D002 "Oprogramowanie" urządzeń elektronicznych, nawet rezydujące w elementach elektronicznych urządzenia lub systemu, pozwalajace działać tym urządzeniom lub systemom jako jednostki "sterowania numerycznego", umożliwiajace jednoczesną koordynację więcej niż czterech osi w celu "kontroli kształtowania".
Uwaga 1: Pozycja 2D002 nie obejmuje kontrolą "oprogramowania" specjalnie zaprojektowanego lub zmodyfikowanego do użytkowania obrabiarek nie wyszczególnionych w Kategorii 2.
Uwaga 2: Pozycja 2D002 nie obejmuje kontrolą "oprogramowania" do obiektów wyszczególnionych w pozycji 2B002. Patrz pozycja 2D001 dla uregulowań dotyczących "oprogramowania" do obiektów wyszczególnionych w pozycji 2B002.
2D101 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "użytkowania" sprzętu wyszczególnionego w pozycjach 2B104, 2B105, 2B109, 2B116, 2B117 lub 2B119 do 2B122.
N.B.: PATRZ TAKŻE POZYCJA 9D004.
2D201 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane do "użytkowania" sprzętu wyszczególnionego w pozycjach 2B204, 2B206, 2B207, 2B209, 2B219 lub 2B227.
2D202 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" sprzętu wyszczególnionego w pozycji 2B201.
2E Technologia
2E001 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii przeznaczona do "rozwoju" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycjach 2A, 2B lub 2D.
2E002 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii przeznaczona do "produkcji"sprzętu wyszczególnionego w pozycjach 2A lub 2B.
2E003 Inna "technologia", taka jak:
Uwaga: Tabela i Uwaga techniczna znajdują się za pozycją 2E3001.
2E101 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii przeznaczona do "użytkowania" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycjach 2B004, 2B104, 2B109, 2B116 2B119 do 2B122 lub 2D101.
2E201 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii przeznaczona do "użytkowania" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycjach 2A225, 2A226, 2B001, 2B006, 2B007.b., 2B007.c., 2B008, 2B009, 2B201, 2B204, 2B206, 2B207, 2B209, 2B225 do 2B232, 2D201 lub 2D202.
2E301 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii przeznaczona do "użytkowania" towarów wyszczególnionych w pozycjach 2B350 do 2B352.
Tabela
Techniki powlekania
1. Technika powlekania(1)(*) | 2. Podłoże | 3. Powłoka wynikowa |
A. Osadzanie z pary lotnej (CVD) |
"Nadstopy" | Glinki na kanały wewnętrzne |
Podłoża ceramiczne (19) i szkło o małym współczynniku rozszerzalności cieplnej (14) |
Krzemki Węgliki Warstwy dielektryczne (15) Diament Węgiel diamentopodobny (17) |
|
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej |
Krzemki Węgliki Metale ogniotrwałe Ich mieszaniny (4) Warstwy dielektryczne (15) Glinki Glinki stopowe (2) Azotek boru |
|
Spiekane węgliki wolframu (16), węglik krzemu (18) |
Węgliki Wolfram Mieszanki powyższych (4) Warstwy dielektryczne (15) |
|
Molibden i stopy molibdenu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Beryl i stopy berylu |
Warstwy dielektryczne (15) Diament Węgiel diamentopodobny (17) |
|
Materiały na okienka wziernikowe (9) |
Warstwy dielektryczne (15) Diament Węgiel diamentopodobny (17) |
|
B. Termiczne naparowywanie próżniowe (TE- PVD) |
||
B.1. Naparowywanie próżniowe (PVD): wiązką elektronów (EB-PVD) |
"Nadstopy" |
Krzemki stopowe Glinki stopowe (2) MCrAlx (5) Zmodyfikowany cyrkon (12) Krzemki Glinki Ich mieszaniny (4) |
Podłoża ceramiczne (19) i szkło o małym współczynniku rozszerzalności cieplnej (14) | Warstwy dielektryczne (15) | |
Stale odporne na korozję (7) |
MCrAlX (5) Zmodyfikowany tlenek cyrkonowy (12) Ich mieszaniny (4) |
|
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej |
Krzemki Węgliki Metale ognioodporne Ich mieszaniny (4) Warstwy dielektryczne (15) |
|
Spiekane węgliki wolframu (16), węglik krzemu (18) |
Azotek boru Węgliki Wolfram Ich mieszaniny (4) |
|
Molibden i stopy molibdenu Beryl i stopy berylu |
Warstwy dielektryczne (15) Molibden i stopy molibdenu Warstwy dielektryczne (15) Borki Beryl |
|
Materiały na okienka wziernikowe (9) | Warstwy dielektryczne (15) | |
Stopy tytanu (13) |
Borki Azotki |
|
B.2. Napylanie techniką ogrzewania oporowego wspomaganego (PVD) (Pokrywanie jonowe) |
Podłoża ceramiczne (19) i szkła o małym współczynniku rozszerzalności cieplnej (14) |
Warstwy dielektryczne (15) Węgiel diamentopodobny (17) |
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej | Warstwy dielektryczne (15) | |
Spiekane węgliki wolframu (16), węglik krzemu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Molibden i stopy molibdenu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Beryl i stopy berylu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Materiały na okienka wziernikowe (9) |
Warstwy dielektryczne (15) Węgiel diamentopodobny (17) |
|
B.3. Napylanie próżniowe (PVD): "odparowywanie laserowe" |
Podłoża ceramiczne (19) i szkła o małym współczynniku rozszerzalności cieplnej (14) |
Krzemki Warstwy dielektryczne (15) Węgiel diamentopodobny (17) |
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej | Warstwy dielektryczne (15) | |
Spiekane węgliki wolframu (16), węglik krzemu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Molibden i stopy molibdenu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Beryl i stopy berylu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Materiały na okienka wziernikowe (9) |
Warstwy dielektryczne (15) Węgiel diamentopodobny (17) |
|
B.4. Naparowywanie próżniowe (PVD): za pomocą łuku katodowego |
"Nadstopy" |
Krzemki stopowe Glinki stopowe (2) MCrAlx (5) |
"Polimery" (11) oraz, "materiały kompozytowe" na "matrycy" organicznej |
Borki Węgliki Azotki Węgiel diamentopodobny (17) |
|
C. Osadzanie fluidyzacyjne (patrz A powyżej dla innych technik) (10) |
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej |
Krzemki Węgliki Ich mieszaniny (4) |
Stopy tytanu (13) |
Krzemki Glinki Glinki stopowe (2) |
|
Metale i stopy ognioodporne (8) |
Krzemki Tlenki |
|
D. Napylanie plazmowe |
Nadstopy |
MCrAlX (5) Zmodyfikowany tlenek cyrkonowy (12) Ich mieszaniny (4) Materiał ścierny nikiel-grafit Materiał ścierny Ni-Cr-Al-Bentonit Materiał ścierny Al-Si-Poliester Glinki stopowe (2) |
Stopy aluminium (6) |
MCrAlX (5) Zmodyfikowany tlenek cyrkonowy (12) Krzemki Ich mieszaniny (4) |
|
Metale i stopy ognioodporne (8) |
Glinki Krzemki Węgliki |
|
Stale odporne na korozję (7) |
Zmodyfikowany tlenek cyrkonowy (12) MCrAlx (5) Ich mieszaniny (4) |
|
Stopy tytanu (13) |
Węgliki Glinki Krzemki Glinki stopowe (2) Materiały ścierne nikiel-grafit Materiały ścierne Ni-Cr-Al Materiały ścierne Al-Si-Poliester |
|
E. Powlekanie zawiesinowe |
Metale i stopy ognioodporne (8) |
Krzemki stopione Glinki stopione z wyjątkiem elementów do nagrzewania oporowego |
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej |
Krzemki Węgliki Ich mieszaniny (4) |
|
F. Rozpylanie jonowe |
"Nadstopy" |
Krzemki stopowe Glinki stopowe (2) Glinki zmodyfikowane metalem szlachetnym (3) MCrAlx (5) Zmodyfikowany tlenek cyrkonowy (12) Platyna Ich mieszaniny (4) |
Materiały ceramiczne i szkła o małym współczynniku rozszerzalności cieplnej (14) |
Krzemki Platyna Ich mieszaniny (4) Warstwy dielektryczne (15) Węgiel diamentopodobny (17) |
|
Stopy tytanu (13) |
Borki Azotki Tlenki Krzemki Glinki Glinki stopowe (2) Węgliki |
|
"Materiały kompozytowe" na "matrycy" węgiel-węgiel, ceramicznej i metalowej |
Krzemki Węgliki Metale ognioodporne Ich mieszaniny (4) Warstwy dielektryczne (15) Azotek boru |
|
Spiekane węgliki wolframu (16), węglik krzemu (18) |
Węgliki Wolfram Ich mieszaniny (4) Warstwy dielektryczne (15) Azotek boru |
|
Molibden i stopy molibdenu | Warstwy dielektryczne (15) | |
Beryl i stopy berylu |
Borki Warstwy dielektryczne (15) Beryl |
|
Materiały na okienka wziernikowe (9) |
Warstwy dielektryczne (15) Węgiel diamentopodobny (17) |
|
Metale i stopy ognioodporne (8) |
Glinki Krzemki Tlenki Węgliki |
|
G. Implantacja jonów | Żarowytrzymałe stale łożyskowe | Dodatki chromu, tantalu lub niobu |
Stopy tytanu (13) |
Borki Azotki |
|
Beryl i stopy berylu | Borki | |
Spiekany węglik wolframu (16) |
Węgliki Azotki |
|
(*) Indeksy w nawiasach odnoszą się do uwag zamieszczonych pod tabelą. |
Uwagi do tabeli technik powlekania
dyski i głowice magnetyczne, urządzenia do wytwarzania produktów jednorazowych, zawory do kranów, membrany do głośników, części silników samochodowych, narzędzia tnące, matryce do tłoczenia-wykrawania, sprzęt do automatyzacji prac biurowych, mikrofony, urządzenia medyczne.
Definicje procesów wymienionych w kolumnie 1 tabeli:
N.B. 1: CVD obejmuje następujące procesy: osadzanie w ukierunkowanym przepływie gazów bez zanurzania w proszku, CVD pulsujące, rozkład termiczny z regulowanym zarodkowaniem (CNTD), CVD intensyfikowane albo wspomagane za pomocą plazmy.
N.B. 2: Zanurzanie w proszku polega na zanurzaniu podłoża w mieszaninie sproszkowanych substancji.
N.B. 3: Gazowe substraty reakcji, wykorzystywane w technice, w której nie stosuje się zanurzania w proszku, są wytwarzane podczas takich samych reakcji podstawowych i przy takich samych parametrach jak w przypadku osadzania fluidyzacyjnego: z tym wyjątkiem, że powlekane podłoże nie styka się z mieszaniną proszku.
Zwykle proces ten jest modyfikowany poprzez wpuszczanie dodatkowych gazów do komory próżniowej podczas powlekania, co umożliwia wytwarzanie powłok o złożonym składzie.
Innym, powszechnie stosowanym sposobem jego modyfikacji jest używanie wi±zki jonów albo elektronów lub plazmy do intensyfikacji albo wspomagania osadzania powłoki. W technice tej można stosować monitory do bieżącego pomiaru parametrów optycznych i grubości powłoki.
Wyróńżnia się szczególne procesy TE-PVD, takie jak:
N.B. Definicja ta nie obejmuje bezładnego osadzania wspomaganego łukiem katodowym w przypadku powierzchni niepolaryzowanych.
Podłoże wraz z mieszaniną proszków znajduje się w retorcie, która jest podgrzewana do temperatury od 1.030 °K (757 °C) do 1.375 °K (1.102 °C) przez okres wystarczający do osadzenia powłoki.
Odmianami tego procesu jest napylanie plazmowe niskociśnieniowe oraz napylanie plazmowe z wysoką prędkością.
N.B. 1: Niskocisnieniowe oznacza pod ciśnieniem niższym od ciśnienia atmosferycznego otoczenia.
N.B. 2: Wysoka prędkość odnosi się do prędkości gazów na wylocie z dyszy przekraczającej wartość 750 m/s w temperaturze 293 °K (20 °C) i ciśnieniu 0,1 MPa.
Energia kinetyczna padających jonów jest wystarczająca do wyrwania atomów z powierzchni materiału powłokowego i osadzenia ich na odpowiednio usytuowanej powierzchni podłoża.
N.B. 1: Tabela dotyczy tylko rozpylania jonowego za pomocą triody, magnetronowego i reakcyjnego, które jest wykorzystywane do zwiększania przyczepności powłoki i wydajności osadzania oraz do rozpylania jonowego wspomaganego prądami wysokiej częstotliwości, wykorzystywanego do intensyfikacji odparowania niemetalicznych materiałów powłokowych.
N.B. 2: Do aktywacji osadzania można zastosować wiązki jonów o niskiej energii (poniżej 5 keV).
KATEGORIA 3
ELEKTRONIKA
3A Systemy, urządzenia i części
Uwaga 1: Poziom kontroli sprzętu i komponentów opisanych w pozycjach 3A001 lub 3A002, innych niż opisane w pozycji 3A001.a.3. do 3A001.a.10. lub 3A001.a.12., specjalnie do nich zaprojektowanych albo posiadających te same cechy funkcjonalne co inny sprzęt, jest taki sam jak poziom kontroli innego sprzętu.
Uwaga 2: Poziom kontroli układów scalonych opisnaych w pozycjach 3A001.a.3. do 3A001.a.9. lub 3A001.a.12., zaprogramowanych na stałe bez możliwości wprowadzenia zmian albo przeznaczonych do specjalnych funkcji dla innego sprzętu, jest taki sam jak poziom kontroli innego sprzętu.
N.B.: W razie, gdy producent lub wnioskodawca nie jest w stanie określić poziomu kontroli innego sprzętu, poziom kontroli danych układów scalonych jest określony w pozycjach 3A001.a.3 do 3A001.a.9. i 3A001.a.12. Jeżeli układ scalony jest krzemowym "mikroukładem mikrokomputerowym" lub mikrosterownikiem opisanym w pozycji 3A001.a.3. o długości słowa operanda (danych) 8 bitów lub mniej, poziom kontroli układu scalonego jest określony w pozycji 3A001.a.3.
3A001 Komponenty elektroniczne, takie jak:
Uwaga 1: Poziom kontroli płytek (gotowych albo niegotowych) posiadających wyznaczoną funkcję należy określać na podstawie parametrów podanych w pozycji 3A001. a.
Uwaga 2: Wsród układów scalonych rozróżnia się następujące typy:
"Układy scalone monolityczne";
"Układy scalone hybrydowe";
"Układy scalone wielopłytkowe";
"Układy scalone warstwowe", włącznie z układami scalonymi typu krzem na szafirze;
"Układy scalone optyczne".
Uwaga: Pozycja 3A001.a.1.c. nie stosuje się do struktur metal - izolator - półprzewodnik (MIS).
Uwaga: Pozycja 3A001.a.2. nie stosuje się do układów scalonych do silników pojazdów cywilnych ani kolejowych.
Uwaga: Pozycja 3A001.a.3. obejmuje cyfrowe procesory sygnałowe, cyfrowe procesory tablicowe i koprocesory cyfrowe.
N.B. PATRZ TAKŻE POZYCJA 3A101.
Uwagi techniczne:
Uwaga: Pozycja 3A001.a.7. zawiera:
- Proste programowalne urządzenia logiczne (SPLD)
- Złożone programowalne urządzenia logiczne (CPLD)
- Tablice bramek programowane przez użytkownika (FPGA)
- Tablice logiczne programowane przez użytkownika (FPLA)
- Połączenia wewnętrzne programowane przez użytkownika (FPIC)
N.B.: Programowalne przez użytkownika urządzenia logiczne, znane są również jako bramki programowalne przez użytkownika lub tablice logiczne programowalne przez użytkownika.
Uwaga techniczna:
Gdy N jest równe 1.024 punkty, wynik formuły w pozycji 3A001.a.12., określającej czas realizacji wynosi 500 μs.
Uwaga 1: Pozycja 3A001.b.1. nie obejmuje kontrolą lamp zaprojektowanych lub przystosowanych do działania w jakimkolwiek paśmie częstotliwości, posiadajacym wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwaga 2: Pozycja 3A001.b.1. nie obejmuje kontrolą lamp nie posiadających "zastosowań kosmicznych" posiadających wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwaga 1: Pozycja 3A001.b.2. nie obejmuje sprzętu satelitów radiofonicznych, zaprojektowanych lub przystosowanych do pracy w zakresie częstotliwości od 40,5 GHz do 42,5 GHz.
Uwaga 2: Poziom kontroli MMIC, których częstotliwości robocze rozciagają się poza zakres ich częstotliwości, zgodnie z definicją w pozycji 3A0001.b.2., jest określony przez najniższy próg kontroli średniej mocy wyjściowej.
Uwaga 3: Uwagi 1 i 2 w nagłówku Kategorii 3 oznaczaja, że pozycja 3A001.b.2. nie obejmuje kontrolą MMIC-ów, jeśli są one specjalnie zaprojektowane do innych zastosowań, np. telekomunikacjnych, radiolokacjnych, motoryzacjnych.
Uwaga: Poziom kontroli elementu, którego częstotliwości robocze rozciagają się poza zakres jego częstotliwości, zgodnie z definicją w pozycji 3A0001.b.3., jest określony przez najniższy próg kontroli średniej mocy wyjściowej.
N.B.: Pozycja 3A001.b.4. obejmuje kontrolą sprzetu satelitów radiofonicznych, zaprojektowanych lub przystosowanych do pracy w zakresie częstotliwości od 40,5 do 42,5 Ghz;
Uwaga 1: Pozycja 3A001.b.2. nie obejmuje układów ani modułów do urządzeń skonstruowanych lub przystosowanych do działania w jakimkolwiek paśmie częstotliwości, które spełnia następujące warunki:
Uwaga 2: Poziom kontroli elementu, którego częstotliwości robocze rozciagają się poza zakres jego częstotliwości, zgodnie z definicją w pozycji 3A0001.b.4., jest określony przez najniższy próg kontroli średniej mocy wyjściowej.
Uwaga: Pozycja 3A001.b.8. nie obejmuje kontrolą sprzętu zaprojektowanego lub przystosowanego do działania w jakimkolwiek paśmie częstotliwości, które jest "przydzielane przez ITU" dla służb radiokomunikacyjnych, ale nie w celu namierzania radiowego.
Uwaga: Pozycja 3A001.e.1. nie obejmuje kontrolą baterii o objętościach równych lub mniejszych niż 27 cm3 (np. standardowe ogniwa C lub baterie R14).
Uwaga techniczna:
"Gęstość energii" otrzymuje się mnożąc średnią moc w watach (średnie napięcie w woltach razy średni prąd w amperach) przez czas rozładowania do poziomu stanowiącego 75 % napięcia jałowego, wyrażony w godzinach oraz dzieląc przez całkowitą masę ogniwa (albo akumulatora) wyrażoną w kg.
N.B.: Patrz także pozycja 3A201.a.
N.B.: Patrz także pozycja 3A201.b.
Uwaga: Pozycja 3A001.e.3. nie obejmuje kontrolą elektromagnesów, ani cewek "nadprzewodzących", specjalnie zaprojektowanych do aparatury zobrazowania rezonansem magnetycznym (MRI), wykorzytywanej w medycynie.
3A002 Sprzęt elektroniczny ogólnego przeznaczenia, taki jak:
Uwaga: Rejestratory analogowe na taśmie magnetycznej, specjalnie zaprojektowane do cywilnych zastosowań techniki wideo, nie są rozpatryweane jako oprzyrządowanie rejestratorów na taśmie magnetycznej.
Uwaga: Pozycja 3A002.a.2. nie obejmuje kontrolą cyfrowych rejestratorów wideo na taśmie magnetycznej specjalnie przeznaczonych do rejestracji sygnału telewizyjnego z wykorzystaniem formatu sygnału, który może zawierać format sygnału skompresowanego, znormalizowanego lub zalecanego przez ITU, IEC, SMPTE, EBU, ETSI lub IEEE do stosowania w telewizji cywilnej;
Uwaga: Pozycja 3A002.a.3. nie obejmuje kontrolą rejestratorów analogowych na taśmie magnetycznej, wyposażonych w przetworniki elektroniczne HDDR oraz skonfigurowane do rejestracji wyłącznie danych cyfrowych.
Uwaga techniczna:
W przypadku urządzeń o równoległej architekturze szyn, przepustowość ciągłą określa się jako iloczyn największej prędkości przesyłu słów i liczby bitów w słowie.
Przepustowość ciągła oznacza największą prędkość przesyłania danych przez urządzenie do pamięci masowej, bez utraty informacji, z utrzymaniem prędkości próbkowania i przetwarzania analogowo-cyfrowego.
Uwaga: Pozycja 3A002.c.2. nie obejmuje kontrolą "analizatorów sygnałów dynamicznych", w których zastosowano jedynie filtry o stałoprocentowej szerokości pasma (znanych również jako filtry oktawowe albo ułamkowo-oktawowe).
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 3A002.d.1., "czas trwania impulsu" jest zdefiniowany jako odcinek czasu pomiędzy osiągnięciem, przez zbocze narastające impulsu 90 % wartości szczytowej, a osiągnięciem, przez zbocze opadajace impulsu 10 % wartości szczytowej.
Uwaga: Pozycja 3A002.d. nie obejmuje kontrolą sprzętu, w którym częstotliwość wyjściowa jest wytwarzana poprzez dodawanie albo odejmowanie dwóch lub więcej częstotliwości oscylatorów kwarcowych, bądź poprzez dodawanie lub odejmowanie, a następnie mnożenie uzyskanego wyniku.
Uwaga: Pozycja 3A002.g.1. nie obejmuje kontrolą rubidowych wzorców częstotliwości, nieposiadających "zastosowań kosmicznych".
3A003 Systemy zarządzania termicznym chłodzeniem natryskowym, wykorzystującym sprzęt do obsługi i przywracania stanu z zamkniętym obiegiem cieczy, umieszczone w uszczelnionych obudowach, w których płyn dielektryczny, przy użyciu specjalnie zaprojektownych dysz, jest rozpylany na elementy elektroniczne, w celu utrzymania ich w dopuszczalnym przedziale temperatur pracy, oraz specjalnie zaprojektowne do nich komponenty.
3A101 Sprzęt, przyrządy i elementy elektroniczne, różne od wyszczególnionych w pozycji 3A001, takie jak:
Uwaga: Pozycja 3A101.b. nie określa sprzętu specjalnie zaprojektowanego do zastosowań medycznych.
3A201 Podzespoły elektroniczne, różne od wyszczególnionych w pozycji 3A001, takie jak:
1. a. Napięcie znamionowe większe niż 1,4 kV;
2. a. Napięcie znamionowe większe niż 750 V;
Uwaga: Pozycja 3A201.b. nie obejmuje kontrolą magnesów specjalnie zaprojektowanych i eksportowanych "jako części" medycznych systemów do obrazowania metodą jądrowego rezonansu magnetycznego (NMR).
Sformułowanie "jako części" niekoniecznie oznacza fizyczną część wchodzącą w skład tej samej partii wysyłanego wyrobu; dopuszcza się możliwość oddzielnych wysyłek z różnych źródeł, pod warunkiem, że w towarzyszącej im dokumentacji eksportowej wyraźnie określa się, że wysyłane wyroby są dostarczane "jako część" systemu obrazowania.
1. a. Energia szczytowa akceleratora elektronów równa 500 keV lub większa, ale mniejsza niż 25 MeV; oraz
2. a. Energia szczytowa akceleratora elektronów równa 25 MeV lub większa; oraz
Uwaga: Pozycja 3A201.c. nie obejmuje kontrolą akceleratorów stanowiących elementy składowe urządzeń zaprojektowanych do innych celów, niż wytwarzania wiązek elektronów lub promieniowania rentgenowskiego (np. mikroskopy elektronowe) oraz urządzeń zaprojektowanych do zastosowań medycznych.
Uwagi techniczne:
K = 1,7 × 10^{3}V^{2,65}Q,
gdzie V jest szczytową energią elektronów w milionach elektronowoltów,
Jeżeli czas trwania impulsu wiązki akceleratora wynosi mniej niż, lub jest równy 1 μs, to Q jest całkowitym ładunkiem przyspieszanym, wyrażonym w Kulombach. Jeżeli czas trwania impulsu wiązki akceleratora jest większy niż 1 μs, to Q jest maksymalnym ładunkiem przyspieszanym w 1 μs.
Q równa się całce z i po t, w przedziale o długości równym mniejszej z dwóch wartości: 1 μs lub czasu trwania impulsu wiązki (Q = ∫ ç idt), gdzie i jest natężeniem wiązki w amperach, a t jest czasem w sekundach;
3A225 Przemienniki częstotliwosci lub generatory, różne od wyszczególnionych w pozycji 0B001.b.13., posiadające wszystkie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwaga techniczna:
Przemienniki częstotliwości w pozycji 3A225, nazywane są również konwerterami lub inwerterami.
3A226 Wysokoenergetyczne zasilacze prądu stałego, różne od wyszczególnionych w pozycji 0B001.j.6., posiadające obydwie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
3A227 Wysokonapięciowe zasilacze prądu stałego, różne od wyszczególnionych w pozycji 0B001.j.5., posiadające obydwie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
3A228 Urządzenia przełączające, takie jak:
Uwaga: Pozycja 3A228 obejmuje gazowe lampy kriotronowe i próżniowe lampy sprytronowe.
3A229 Instalacje zapłonowe i równoważne generatory impulsów wysokoprądowych, takie jak:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE WYKAZ UZBROJENIA.
Uwaga: Pozycja 3A229.b. obejmuje wzbudnice ksenonowych lamp błyskowych.
Uwaga techniczna:
W pozycji 3A229.b.5. "czas narastania" jest zdefiniowany jako przedział czasowy w zakresie od 10 do 90 % amplitudy natężenia prądu w przypadku zasilania obciążenia rezystancyjnego.
3A230 Szybkie generatory impulsowe posiadające obydwie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
Uwaga techniczna:
W pozycji 3A230 "czas narastania impulsów" definiuje się jako przedział czasowy pomiędzy 10 % a 90 % amplitudy napięcia.
3A231 Systemy generowania neutronów, w tym lampy, posiadające obydwie niżej wymienione cechy charakterystyczne:
3A232 Detonatory i wielopunktowe systemy inicjujące, z tego:
N.B.: Sprawdź także Wykaz uzbrojenia.
Uwaga: Pozycja 3A232 nie obejmuje kontrolą zapłonników, wykorzystujacych wyłącznie inicjujące materiały wybuchowe, takie jak azydek ołowiawy.
Uwaga techniczna:
W pozycji 3A232 wszystkie przedmiotowe detonatory wykorzystują małe przewodniki elektryczne (mostki, połączenia mostkowe lub folie) gwałtownie odparowujące po przepuszczeniu przez nie szybkich, wysokoprądowych impulsów elektrycznych. W przypadku zapłonników nieudarowych, wybuchający przewodnik inicjuje eksplozję chemiczną w zetknięciu się z materiałem burzącym, takim jak PETN (czteroazotan pentaerytrytu). W zapłonnikach udarowych, wybuchowe odparowanie przewodnika elektrycznego zwalnia przeskok bijnika przez szczelinę, którego uderzenie w materiał wybuchowy inicjuje eksplozję chemiczną. W niektórych przypadkach bijnik napędzany jest siłami magnetycznymi. Termin detonator w postaci folii eksplodującej, może odnosić się zarówno do detonatorów typu EB, jak i udarowych. Także, słowo inicjator jest czasami używane zamiast słowa detonator.
3A233 Spektrometry masowe, różne od wyszczególnionych w pozycji 0B002.g., zdolne do pomiaru mas jonów o wartości 230 mas atomowych lub większej oraz posiadające rozdzielczość lepszą niż 2 części na 230, oraz źródła jonów do tych urządzeń, z tego:
3B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
3B001 Sprzęt do wytwarzania urządzeń lub materiałów półprzewodnikowych oraz specjalnie zaprojektowane do nich komponenty i akcesoria, z tego:
Uwaga: Pozycja 3B001.e. nie obejmuje kontrolą automatycznych, zrobotyzowanych systemów wytwarzania płytek elektronicznych, nie zaprojektowanych do działania w warunkach próżni.
Uwaga techniczna:
Rozmiar "minimalnej rozdzielczości wymiarowej" obliczany jest według poniższego wzoru:
(długość fali źródła światła
napromieniowującego wμm) ×
(współczynnik K)
MRF = ---------------------------------
apertura liczbowa
gdzie: współczynnik K = 0,7
MRF = minimalna rozdzielczość wymiarowa.
Uwaga: Pozycja 3B001.h. nie obejmuje kontrolą wielowarstwowych masek z warstwą z przesunięciem fazy, zaprojektowanych do wytworzenia urządzeń pamięciowych, nie objętych kontrolą przez pozycję 3A001.
3B002 Sprzęt testujący "ze sterowaniem zaprogramowanym w pamięci", specjalnie przeznaczony do testowania wykończonych i niewykończonych elementów półprzewodnikowych oraz specjalnie zaprojektowane do nich komponenty i akcesoria, z tego:
Uwaga: Pozycja 3B002.b. nie obejmuje kontrolą sprzętu testującego specjalnie zaprojektowanego do:
Uwaga techniczna:
Dla celów tej pozycji "szybkość wzorca", określana jest jako maksymalna częstotliwość operacji cyfrowych testera.
Jest ona, dlatego równoważna największej szybkości przesyłania danych, z jaką tester może działać w trybie niemultipleksowym. Wspomina się o niej także, jako o prędkości testowania, maksymalnej częstotliwości cyfrowej lub maksymalnej prędkości cyfrowej.
3C Materiały
3C001 Materiały heteroepitaksjalne składające się z "podłoża" i wielu nałożonych epitaksjalnie warstw z jednego z niżej wymienionych materiałów:
Uwaga techniczna:
Związki III/V są substancjami polikrystalicznymi, binarnymi lub złożonymi substancjami monokrystalicznymi składającymi się z pierwiastków grupy IIIA i VA okresowego układu Mendelejewa (np. arsenek galu, arsenek galu i glinu, fosforek indu).
3C002 Materiały fotorezystywne, "podłoża" powlekane, objętymi kontrolą, materiałami ochronnymi, z tego:
Uwaga techniczna:
Techniki "siliatowania" są zdefiniowane jako procesy zawierające utlenianie powierzchni materiałów fotorezystywnych w celu poprawy ich parametrów zarówno podczas wywoływania na sucho, jak i na mokro.
3C003 Związki organiczno-nieorganiczne, takie jak:
Uwaga: Pozycja 3C003 obejmuje kontrolą wyłącznie związki, w których składnik metalowy, częściowo metalowy lub składnik niemetalowy jest bezpośrednio związany z węglem w organicznym składniku molekuły.
3C004 Wodorki fosforu, arsenu lub antymonu o czystości powyżej 99,999 %, nawet rozpuszczone w gazach obojętnych lub w wodorze.
Uwaga: Pozycja 3C004 nie obejmuje kontrolą wodorków zawierających molowo 20 %, lub więcej, gazów obojętnych lub wodoru.
3D Oprogramowanie
3D001 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane do "rozwoju" lub "produkcji" sprzętu objętego kontrolą, wyszczególnionego w pozycji 3A001.b. do 3A002.g., lub 3B.
3D002 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane do "użytkowania" dowolnych obiektów z niżej wymienionych:
3D003 "Oprogramowanie" symulacyjne, bazujące na fizyce, specjalnie zaprojektowane do "rozwoju" litografii, wytrawiania lub procesów osadzania w celu przekształcenia maskujących kształtów w konkretną topografię obszarów przewodzących, dielektrycznych lub półprzewodnikowych.
Uwaga techniczna:
"Bazujące na fizyce" w 3.D.3. oznacza wykorzystanie obliczeń do określenia sekwencji przyczyn fizycznych oraz skutków zdarzeń, opierających się na właściwościach fizycznych (np. temperatura, ciśnienie, stałe dyfuzji oraz właściwości materiałów półprzewodnikowych).
Uwaga: Biblioteki, związane z nimi atrybuty i inne dane służące do projektowania urządzeń półprzewodnikowych lub układów scalonych są postrzegane jako "technologia".
3D004 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane do "rozwoju" sprzętu wyszczególnionego w pozycji 3A003.
3D101 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "użytkowania" sprzętu wyszczególnionego w pozycji 3A101.b.
3E Technologia
3E001 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" sprzętu lub materiałów wyszczególnionych w pozycji 3A, 3B lub 3C;
Uwaga 1: Pozycja 3E001 nie obejmuje kontrolą "technologii" do "produkcji" sprzętu lub komponentów objętych kontrolą przez pozycję 3A003.
Uwaga 2: Pozycja 3E001 nie obejmuje kontrolą "technologii" do "rozwoju" lub "produkcji" układów scalonych wyszczególnionych w pozycji 3A001.a.3. do 3A001.a.12., posiadających wszystkie niżej wymienione cechy:
Uwaga techniczna:
Pojęcie "struktura wielowarstwowa" nie obejmuje urządzeń posiadających maksymalnie trzy warstwy metaliczne i trzy warstwy polikrzemowe.
3E002 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, inna niż wyszczególnione w pozycji 3E001, do "rozwoju" lub "produkcji" "mikroukładów mikroprocesorowych", "mikroukładów mikrokomputerowych " oraz układów mikrosterowników posiadających "kombinowaną teoretyczną moc obliczeniową" ("CTP") równą 530 milionów teoretycznych operacji na sekundę (Mtops) lub więcej, oraz jednostki arytmetyczno-logiczne z szyną dostepu 32 bity lub więcej.
Uwaga: Uwaga 2 do pozycji 3E001 stosuje się także do pozycji 3E002.
3E003 Inna "technologia"do "rozwoju" lub "produkcji" tego, co nastepuje:
Uwaga: Pozycja 3E003.b. nie obejmuje kontrolą technologii dla tranzystorów o wysokiej ruchliwosci elektronów (HEMT), pracujących na częstotliwościach niższych od 31,8 GHz oraz tranzystorów heterobipolarnych (HBT), pracujących na częstotliwościach niższych od 31,8 GHz.
3E101 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "użytkowania" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycji 3A001.a.1. lub 3A001.a.2., 3A101 albo 3D101.
3E102 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "rozwoju" "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycji 3D101;
3E201 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii, do "użytkowania" sprzętu wyszczególnionych w pozycji 3A0001.e.2., 3A001.e.3., 3A001.e.5., 3A201, 3A225 do 3A233.
KATEGORIA 4
KOMPUTERY
Uwaga 1: Komputery, towarzyszące im sprzęt i "oprogramowanie" wypełniające funkcje telekomunikacyjne lub działające w ramach "lokalnej sieci komputerowej", muszą również być analizowane pod kątem spełniania charakterystyk, przynależnych do Kategorii 5, Część 1 -Telekomunikacja.
Uwaga 2: Jednostki sterujące podłączone bezpośrednio do szyn lub łączy jednostek centralnych, "pamięci operacyjnych " lub sterowników dysków nie są uważane za urządzenia telekomunikacyjne ujęte w Kategorii 5, Część 1 - Telekomunikacja.
N.B.: Dla ustalenia poziomu kontroli "oprogramowania" specjalnie przeznaczonego do komutacji pakietów, patrz pozycja 5D001.
Uwaga 3: Komputery, towarzyszace im urządzenia i "oprogramowanie" spełniające funkcje szyfrowania, rozszyfrowywania, systemu zabezpieczeń wymagającego potwierdzania wielopoziomowego lub w wymagających potwierdzania systemach wyodrębnienia użytkownika, lub, które ograniczają zgodność elektromagnetyczną (EMC), należy również analizować pod kątem spełniania charakterystyk, przynależnych do Kategorii 5, Część 2 - Ochrona informacji.
4A Systemy, sprzęt i komponenty
4A001 Komputery elektroniczne i towarzyszący im sprzęt, "zespoły elektroniczne" oraz specjalnie do nich zaprojektowane komponenty, z tego:
N.B.: Patrz także pozycja 4A101.
Uwaga: Pozycja 4A001.a.1. nie dotyczy komputerów specjalnie zaprojektowanych do samochodów cywilnych lub zastosowania w kolejnictwie.
Uwaga: Pozycja 4A001.b. nie obejmuje kontrolą komputerów elektronicznych i związanego z nimi sprzętu, towarzyszącymi użytkownikowi dla jego osobistego użytku.
4A003 "Komputery cyfrowe", "zespoły elektroniczne" i sprzęt im towarzyszący oraz specjalnie zaprojektowane dla nich komponenty, z tego:
Uwaga 1: Pozycja 4A003 obejmuje:
Uwaga 2: Poziom kontroli "komputerów cyfrowych" i towarzyszącego im sprzętu opisany w pozycji 4A003 wynika z poziomu kontroli innego sprzętu lub systemów, pod warunkiem, że:
N.B. 1: Poziom kontroli sprzętu do "przetwarzania sygnałów" lub "udoskonalania obrazów" specjalnie przeznaczonych do innego sprzętu i ograniczonych funkcjonalnie do wymogów pracy tego sprzętu wynika ze statusu kontroli innego sprzętu, nawet, gdy wykracza to poza kryterium "elementu o podstawowym znaczeniu".
N.B. 2: W przypadku poziomu kontroli "komputerów cyfrowych" lub towarzyszącego im sprzętu, do sprzętu telekomunikacyjnego patrz Kategoria 5, Część 1 - Telekomunikacja.
Uwaga: Dla celów pozycji 4A003.a., "komputery cyfrowe" i towarzyszący im sprzęt nie są uważane za "odporne na uszkodzenia" dzięki specjalnej konstrukcji lub odpowiedniej modyfikacji, jeżeli zastosowano w nich:
Uwaga 1: Pozycja 4A003.c. odnosi się wyłącznie do "zespołów elektronicznych" i programowanych połączeń, których moc obliczeniowa nie wykracza poza wartości graniczne określone w pozycji 4A003.b., w przypadku dostarczania ich jako "zespoły elektroniczne" w stanie rozłożonym. Pozycja ta nie dotyczy "zespołów elektronicznych", które ze względu na charakter swojej konstrukcji nie mogą z natury rzeczy być wykorzystywane jako urządzenia towarzyszące, wyszczególnione w pozycji 4A003.d. lub 4A003.f.
Uwaga 2: Pozycja 4A003.c nie obejmuje kontrolą "zespołów elektronicznych", specjalnie zaprojektowanych do wyrobu albo rodziny wyrobów, których maksymalna konfiguracja nie wykracza poza ograniczenia zawarte w pozycji 4A003.b.
Uwaga: Pozycja 4A003.g. nie obejmuje kontrolą sprzętu zapewniającego połączenia wewnętrzne (np. tablice połączeń, szyny), urządzeń łączących o charakterze pasywnym, "sterowników dostępu do sieci" ani "sterowników torów telekomunikacyjnych".
4A004 Komputery i specjalnie do nich zaprojektowany sprzęt towarzyszący, "zespoły elektroniczne" i komponenty dla nich, z tego:
4A101 Komputery analogowe, "komputery cyfrowe" lub cyfrowe analizatory różniczkowe, różne od wyszczegolnionych w pozycji 4A001.a.1., zabezpieczone przed narażeniami mechanicznymi lub podobnymi i specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do użycia w kosmicznych pojazdach nośnych, wyszczegolnionych w pozycji 9A004 lub w rakietach meteorologicznych wyszczegolnionych w pozycji 9A104.
4A102 "Komputery hybrydowe", specjalnie zaprojektowane do modelowania, symulowania lub integrowania konstrukcyjnego kosmicznych pojazdów nośnych wyszczególnionych w pozycji 9A004, lub rakiet meteorologicznych wyszczególnionych w pozycji 9A104.
Uwaga: Kontrola dotyczy wyłącznie takich sytuacji, w których sprzęt jest dostarczany z "oprogramowaniem" wyszczególnionym w pozycji 7D103 lub 9D103.
4B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
Żadne
4C Materiały
Żadne
4D Oprogramowanie
Uwaga: Poziom kontroli "oprogramowania" do "rozwoju", "produkcji", lub "użytkowania" urządzeń opisanych w innych kategoriach wynika z odpowiedniej kategorii. Status kontroli "oprogramowania" do urządzeń opisanych w niniejszej kategorii jest z nią związany.
4D001 a. "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionych w pozycji 4A001 do 4A004 lub 4D;
4D002 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do wspomagania "technologii" wyszczególnionych w pozycji 4E;
4D003 "Oprogramowanie" specjalne, takie jak:
Uwaga: Pozycja 4D003.c. nie obejmuje kontrolą "oprogramowania", kiedy towarzyszy ono użytkownikowi dla jego osobistego użytku.
4E Technologia
4E001 a. "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionych w pozycji 4A lub 4D;
Uwaga techniczna dotycząca "teoretycznej mocy kombinowanej" ("CTP")
Skróty stosowane w niniejszej Uwadze technicznej
"CE" "element obliczeniowy" (typowo, jednostka arytmetyczno-logiczna)
FP zmienny przecinek
XP stały przecinek
T czas wykonania
XOR nierównoważność
CPU jednostka centralna
TP teoretyczna moc obliczeniowa (pojedynczego "CE")
"CTP" "teoretyczna moc kombinowana" (wielu "CE")
R efektywna szybkość obliczeniowa
WL długość słowa
L współczynnik poprawkowy długości słowa
* mnożenie
Czas wykonania "t" wyraża się w μs, natomiast TP i "CTP" w milionach teoretycznych operacji na sekundę (Mtops), a
WL w bitach.
Omówienie sposobu obliczania "CTP"
"CTP" jest miarą mocy obliczeniowej wyrażaną w Mtops. W celu obliczenia "CTP" pewnego zespołu (agregatu) "CE" należy wykonać czynności podzielone na trzy następujące etapy:
Szczegółowe informacje na temat podanych etapów postępowania zamieszczono dalej.
Uwaga 1: W przypadku agregatów złożonych z wielu "CE", posiadających podsystemy zarówno z pamięcią dzieloną jak i niedzieloną, obliczanie "CTP" odbywa się na zasadzie hierarchicznej, w dwóch etapach: po pierwsze, grupuje się "CE" z podsystemami pamięci dzielonej, a następnie oblicza się "CTP" dla danych grup, stosując taką metodę obliczeń jak dla wielu "CE" z pamięcią niedzieloną.
Uwaga 2: W obliczeniach "CTP" nie uwzględnia się "CE" o zastosowaniu ograniczonym do obsługi funkcji wejścia/wyjścia i peryferyjnych (np. napędów dyskowych, sterowników komunikacyjnych i wyświetlaczy obrazowych).
UWAGA TECHNICZNA DOTYCZĄCA "CTP"
W podanej poniżej tabeli przedstawiono sposób liczenia efektywnej szybkości obliczeniowej (R) dla każdego "CE":
Etap 1: Efektywna szybkość obliczeniowa R:
Dla "elementów obliczeniowych" mających: Uwaga: Obliczenia przeprowadza się dla każdego "CE" niezależnie |
Efektywna szybkość obliczeniowa, R |
Tylko XP |
1 (Rxp) = --------------- 3 x (txp add) W razie braku dodawania, należy wykorzystać: 1 (Rxp) = ------------ (txp mult) W razie braku zarówno dodawania, jak i mnożenia, należy wykorzystać najszybszą dostępną operację arytmetyczną: 1 (Rxp) = --------- 3 x txp Patrz Uwagi X i Z |
Tylko FP |
1 1 Rfp = max ----------, --------- tfp add tfpmult Patrz Uwagi X i Y |
Zarówno FP jak i XP | Obliczyć obie Rxp, Rfp |
W przypadku prostych procesorów logicznych bez implementacji żadnej z wymienionych operacji arytmetycznych. |
1 R = ---------- 3 x tlog Gdzie tlog jest czasem wykonania instrukcji XOR albo w przypadku sprzętu logicznego bez implementacji XOR, czasem najszybszej prostej operacji logicznej. Patrz Uwagi X i Z |
Dla specjalnych procesorów logicznych, nierealizujących żadnej z wymienionych operacji arytmetycznych i logicznych. |
R = R' x WL/64 Gdzie R' jest liczbą wyników na sekundę, WL jest liczbą bitów, na której jest realizowana operacja logiczna, natomiast 64 jest współczynnikiem normalizacji do operacji wykonywanych na 64 bitach. |
Uwaga W: W przypadku wielu "CE" działających w trybie potokowym, zdolnych do wykonania do jednej operacji arytmetycznej lub logicznej na każdy cykl zegara po zapełnieniu trybu potokowego, można ustalić szybkość obliczeniową trybu potokowego.
Efektywną szybkością obliczeniową (R) dla każdego takiego "CE" jest największa szybkość w trybie potokowym lub szybkość realizacji obliczeń w trybie niepotokowym.
Uwaga X: Dla "CE" realizujących wielokrotne operacje arytmetyczne specjalnego typu w pojedynczym cyklu (np. dwa dodawania na cykl lub dwie identyczne operacje na cykl) czas realizacji t określa się zależnością:
czas cyklu
t = ----------------------------------------------
liczba identycznych operacji na cykl maszyny
"CE" wykonujące różne typy operacji arytmetycznych lub logicznych podczas pojedynczego cyklu maszynowego należy traktować jako wielokrotne oddzielne "CE" działające równocześnie (np. "CE" wykonujący dodawanie i mnożenie podczas jednego cyklu należy traktować jako dwa "CE", raz jako wykonujący dodawanie w jednym cyklu i po raz drugi jako wykonujący mnożenie w drugim cyklu). W przypadku wykonywania przez pojedynczy "CE" zarówno działania na skalarach, jak i na wektorach, należy wybrać krótszy z czasów realizacji.
Uwaga Y: W przypadku braku implementacji dodawania FP (zmiennoprzecinkowego) lub mnożenia FP, natomiast wykonywania przez dany "CE" dzielenia FP:
1
Rfp = ------------
f fpdivide
W przypadku realizacji przez dany "CE" odwrotności FP, ale bez możliwości realizacji dodawania FP, mnożenia FP lub dzielenia FP, wartość Rfp wyznacza się z zależności:
1
Rfp = ----------------
f fpreciprocal
W razie braku implementacji wszystkich wymienionych instrukcji, efektywna moc FP wynosi 0.
Uwaga Z: W prostych operacjach logicznych pojedyncza instrukcja realizuje pojedyncze działanie logiczne na nie więcej niż dwóch operandach o danej długości. W złożonych operacjach logicznych pojedyncza instrukcja realizuje wiele działań logicznych na dwóch lub więcej operandach, wskutek czego powstaje jeden lub więcej wyników.
Szybkości obliczeniowe należy obliczać dla wszystkich możliwych długości operandów z uwzględnieniem zarówno operacji potokowych (jeżeli są możliwe), jak i operacji niepotokowych, dla instrukcji wykonywanych najszybciej i dla każdej długości operandu w oparciu o następujące zasady:
W każdym wymienionym powyżej przypadku należy skorzystać z najkrótszego czasu wykonania potwierdzonego przez producenta.
Etap 2: TP dla każdej możliwej długości operandu WL:
Skorygować szybkość efektywną R (lub R') za pomocą współczynnika poprawkowego na długość słowa L w następujący sposób:
TP = R× L
gdzie: L = (1/3 + WL/96)
Uwaga: Używana w tych obliczeniach długość słowa WL jest długością operandu w bitach. (W przypadku, gdy w operacji używane są operandy o różnych długościach, należy wybrać słowo o największej długości).
Dla celów obliczania "CTP", za jeden "CE" o długości słowa (WL) równej liczbie bitów w przedstawieniu danych (zazwyczaj 32 lub 64) uważa się kombinację mantysy ALU i wykładnika ALU dla procesora zmiennoprzecinkowego albo jedność.
Korekcja tego typu nie znajduje zastosowania do wyspecjalizowanych procesorów logicznych, w których nie są realizowane instrukcje XOR. W takim przypadku TP = R.
Wybrać maksymalną wartość wynikową TP dla:
Każdego XP - tylko "CE" (Rxp);
Każdego FP - tylko "CE" (Rfp);
Każdego kombinowanego FP i XP "CE" (R);
Każdego prostego procesora logicznego bez żadnej implementacji wymienionych operacji arytmetycznych;
oraz
Każdego specjalnego procesora logicznego niewykonującego żadnej z wymienionych operacji arytmetycznych ani logicznych.
Etap 3: "CTP" dla agregacji "CE", włącznie z CPU:
Dla CPU składającego się z pojedynczego "CE",
"CTP" = TP
(dla "CE" wykonujących zarówno operacje stało-, jak i zmiennoprzecinkowe,
TP = max (TPfp, TPxp))
Sposób obliczania "CTP" dla agregacji wielu "CE" działających równocześnie:
Uwaga 1: W przypadku agregacji uniemożliwiających równoczesne działanie wszystkich "CE" należy stosować tę konfigurację możliwych "CE", która daje największą z możliwych "CTP". Przed obliczeniem "CTP" całej kombinacji należy obliczyć TP każdego "CE" dla każdej teoretycznie możliwej wartości maksymalnej.
N.B.: W celu obliczenia możliwych kombinacji "CE" działających równocześnie należy wygenerować sekwencję instrukcji inicjująca operacje w wielu "CE" poczynając od najwolniejszego z nich (jest to taki element obliczeniowy, który wymaga największej liczby cykli do zakończenia swojego działania) i kończąc na najszybszym "CE". Możliwą kombinacją przy każdej sekwencji cyklu jest taka kombinacja elementów "CE", które działają podczas cyklu. W sekwencji instrukcji należy wziąć pod uwagę wszystkie ograniczenia sprzętowe i (lub) konfiguracyjne (architektura) dla operacji pokrywających się ze sobą.
Uwaga 2: Pojedynczy układ scalony lub płytka może składać się z wielu "CE".
Uwaga 3: Zakłada się, że komputer może wykonywać równoczesne operacje w przypadku, gdy jego producent podaje w instrukcji użytkowania lub innej, że komputer może pracować współbieżnie, równolegle lub wykonywać operacje albo działania równoczesne.
Uwaga 4: Nie należy agregować wartości "CTP" dla kombinacji "CE" połączonych ze sobą i z innymi w "lokalnych sieciach komputerowych", Rozległych Sieciach Komputerowych (WAN), dzielonych wspólnych połączeniach (urządzeniach wejścia/wyjścia), sterownikach wejść/wyjść oraz we wszelkich połączeniach komunikacyjnych implementowanych przez oprogramowanie.
Uwaga 5: Należy agregować wartości "CE" dla wieloelementowych układów "CE" specjalnie opracowanych w celu poprawy parametrów poprzez agregację, równoczesne działanie i kombinację w układzie z dzieleniem wspólnej pamięci - lub typu wielokrotna pamięć/"CE" - działających równocześnie i z wykorzystaniem specjalnie opracowanego sprzętu.
Agregacji tego typu nie stosuje się do zespołów opisanych w pozycji 4A003.c.
"CTP"=TP1 + C2 × TP2 + ... + Cn × TPn,
gdzie TP są uszeregowane według wartości, przy czym TP1 jest największa, TP2 jest druga z kolei pod względem wartości, ..., a TPn jest najmniejszą z wartości TP. Ci są współczynnikami wynikającymi z przepustowości połączeń pomiędzy "CE", określonymi w sposób następujący:
W przypadku wielu "CE" działających równocześnie i korzystających ze wspólnej pamięci:
C2 = C3 = C4 = ... = Cn = 0,75
Uwaga 1: W przypadku, kiedy wartość "CPT" obliczona w podany powyżej sposób nie przekracza 194 Mtops, do obliczania Ci można zastosować następujący wzór:
0,75
Ci = -------- (i = 2, ..., n)
√ m
gdzie m = liczba elementów "CE" lub grup "CE" o wspólnym dostępie,
pod warunkiem że
N.B. Nie dotyczy to pozycji objętych kontrolą w ramach Kategorii 3.
Uwaga 2: "CE" korzystają ze wspólnej pamięci, jeżeli mają dostęp do wspólnego segmentu pamięci półprzewodnikowej.
Może to być pamięć podręczna (cache), pamięć operacyjna albo inny rodzaj pamięci wewnętrznej. W tym przypadku nie uwzględnia się peryferyjnych jednostek pamięciowych, takich jak stacje dysków, napędy taśm ani RAM-dyski.
Dla wielokrotnych układów "CE" lub grup "CE" niekorzystających ze wspólnej pamięci, połączonych ze sobą jednym lub większą liczba kanałów danych:
Ci = 0,75 × ki (i = 2, ..., 32) (patrz uwaga poniżej)
= 0,60 × ki (i = 33, ..., 64)
= 0,45 × ki (i = 65, ..., 256)
= 0,30 × ki (i > 256)
Wartość Ci określa się w zależności od liczby elementów "CE", a nie liczby węzłów,
gdzie ki = min (Si/Kr, 1), oraz
Kr = współczynnik normalizujący do 20 MBajtów/s
Si = suma maksymalnych szybkości transmisji danych (w jednostkach MB/s) dla wszystkich kanałów danych połączonych z i-tym elementem "CE" lub grupą elementów "CE" dzielących wspólną pamięć.
W przypadku obliczania Ci dla grupy elementów "CE" , numer pierwszego "CE" w grupie wyznacza odpowiednią wartość graniczną dla Ci. Przykładowo, w agregacji grup składających się każda z 3 elementów "CE", grupa 22 będzie zawierała "CE"64, "CE"65 i "CE"66. Właściwą wartością graniczną dla Ci dla tej grupy będzie 0,60.
Agregacja (elementów "CE" lub grup elementów "CE") powinna następować w kolejności od elementów najszybszych do najwolniejszych; tj.:
TP1 ≥ Ý TP2 ≥ Ý...≥ Ý TPn, oraz
w przypadku TPi = TPi+ 1 w kolejności od największego do najmniejszego; tj.:
Ci ≥ Ý Ci+ 1
Uwaga: W przypadku, gdy TPi dla elementu "CE" lub grupy elementów "CE" wynosi powyżej 50 Mtops, nie używa się współczynnika ki do elementów "CE" od 2 do 12; tj. Ci dla elementów "CE" 2 do 12 wynosi 0,75.
KATEGORIA 5
TELEKOMUNIKACJA I "OCHRONA INFORMACJI"
TELEKOMUNIKACJA
Uwaga 2: "Komputery cyfrowe", towarzyszący im sprzęt lub "oprogramowanie", mające zasadniczy wpływ na działanie i wspomaganie działań sprzętu telekomunikacyjnego przedstawionych w pozycjach dotyczących telekomunikacji w niniejszej Kategorii, są traktowane jako specjalnie opracowane komponenty, pod warunkiem, że są to modele standardowe, dostarczane przez producenta na zamówienie klienta. Dotyczy to komputerowych systemów obsługi, zarządzania, konserwacji, technicznych lub księgowych.
5A1 Systemy, sprzęt i komponenty:
5A001 a. Dowolny typ sprzętu telekomunikacyjnego, posiadający jedną z niżej wymienionych cech charakterystycznych lub właściwości albo realizujący jedną z wymienionych funkcji:
Uwaga: Pozycja 5A001.a.3. odnosi się wyłącznie do sprzętu elektronicznego.
Uwaga: Pozycje 5A001.a.2. i 5A001.a.3. nie obejmują kontrolą sprzętu zaprojektowanego lub zmodyfikowanego do stosowania na pokładach satelitów.
Uwaga: Pozycja 5A001.b.3.b. nie obejmuje kontrolą sprzętu radiowego sieci telekomunikacyjnych w układzie terytorialnym (komórkowym) działających w zakresie pasm cywilnych.
Uwaga: Pozycja 5A001.b.3. nie obejmuje kontrolą urządzeń o mocy wyjściowej 1 W lub mniejszej.
Uwaga: Pozycja 5A001.b.4. nie obejmuje kontrolą sprzętu specjalnie zaprojektowanego do komórkowych radiowych sieci telekomunikacyjnych, działających w zakresie pasm cywilnych.
Uwaga techniczna:
Dla zmiennych współczynników kodowania głosu, pozycja 5A001.b.6. stosuje kodowanie wyjścia ciągtego sygnału głosowego.
Uwaga techniczna:
Test Kontrolny: prowadzona na bieżąco (on line) albo poza linią produkcyjną (off-line) kontrola zupełna, podczas której wszystkie włókna są obciążane dynamicznie z góry określonymi naprężeniami rozciągającymi, działającymi na odcinek światłowodu o długości od 0,5 do 3 m, przeciągany z szybkością 2 do 5 m/s pomiędzy bębnami nawijającymi o średnicy około 150 mm. Temperatura otoczenia powinna wynosić 293 °K (20 °C), a wilgotność względna 40 %. Testy kontrolne można przeprowadzić według równoważnych norm narodowych.
Uwaga: Pozycja 5A001.c.2. nie obejmuje kontrolą kabli i akcesoriów dla standardowej telekomunikacji cywilnej.
N.B. 1: Dla kabli startowych (pępowinowych) lub łączników do nich patrz także pozycja 8A002.a.3.
N.B. 2: Dla światłowodowych penetratorów kadłubów statków lub złączy do nich także pozycja 8A002.c.
Uwaga: Pozycja 5A001.d. nie obejmuje kontrolą "elektronicznie sterowanych fazowanych układów antenowych" do systemów kontroli lądowania oprzyrządowanych według wymagań norm ICAO obejmujących mikrofalowe systemy kontroli lądowania (MLS).
5A101 Sprzęt do zdalnego przekazywania wyników pomiarów i do zdalnego sterowania, włączając sprzęt naziemny, zaprojektowany lub zmodyfikowany do użycia w "pociskach rakietowych".
Uwaga techniczna:
W pozycji 5A101 "pocisk rakietowy", oznacza kompletne systemy rakietowe oraz systemy bezzałogowych statków powietrznych, zdolnych do pokonania odległości przekraczającej 300 km.
Uwaga: Pozycja 5A101 nie obejmuje kontrolą:
5B1 Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
5B001 a. Sprzęt i specjalnie zaprojektowane do niego elementy i akcesoria, specjalnie zaprojektowane do "rozwoju", "produkcji" i "użytkowania" urządzeń, materiałów, funkcji lub właściwości ujętych w pozycjach 5A001, 5B001, 5D001 lub 5E001;
Uwaga: Pozycja 5B001.a. nie obejmuje kontrolą sprzętu do cechowania światłowodów.
Uwaga techniczna:
Dla sprzętu przełączającego "całkowita cyfrowa szybkość transferu"jest mierzona dla największej szybkości portu lub linii.
Uwaga: Pozycja 5A001.b.2.d. nie obejmuje kontrolą sprzętu specjalnie zaprojektowanego do "rozwoju" systemów telewizji komercyjnej.
5C1 Materiały
Żadne
5D1 Oprogramowanie
5D001 a. "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" sprzętu, funkcji lub właściwości wyszczególnionych w pozycji 5A001 lub 5B001;
Uwaga techniczna:
Dla sprzętu przełączającego "całkowita cyfrowa szybkość transferu" jest mierzona dla największej szybkości portu lub linii.
Uwaga: Pozycja 5A001.d.2.b. nie obejmuje kontrolą "oprogramowania" specjalnie zaprojektowanego do "rozwoju" systemów telewizji komercyjnej.
5D101 "Oprogramowanie", specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "użytkowania" sprzętu wyszczególnionego w pozycji 5A101.
5E1 Technologia
5E001 a. "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" lub "użytkowania" (wyłączając obsługiwanie) sprzętu, funkcji, właściwości lub "oprogramowania", wyszczególnionych poryemi 5A001, 5B001 lub 5D001;
Uwaga techniczna:
Dla sprzętu przełączającego "całkowita cyfrowa szybkość transferu" jest mierzona dla największej szybkości portu lub linii.
Uwaga: Pozycja 5E001.c.2.e. nie obejmuje kontrolą "technologii" specjalnie zaprojektowanej do "rozwoju" systemów telewizji komercyjnej.
Uwaga: Pozycja 5E001.c.4.b. nie obejmuje kontrolą "technologii" do "rozwoju" lub "produkcji" sprzątu przeznaczonego lub zmodyfikowanego do pracy w pasmach przydzielonych przez ITU dla służb radiokomunikacyjnych, ale nie do namierzania radiowego.
5E101 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" lub "użytkowania " sprzętu wyszczególnionego w pozycji 5A101.
"OCHRONA INFORMACJI"
Uwaga 2: Kategoria 5, Część 2 nie obejmuje kontrolą wyrobów, towarzyszących użytkownikowi dla jego osobistego użytku.
Uwaga 3: Uwaga kryptograficzna
Pozycje 5A002 i 5D002 nie obejmują kontrolą towarów, które spełniają wszystkie niżej wymienione warunki:
Uwaga techniczna:
W ramach Kategorii 5 - Część 2, bity parzystości nie są wliczane do długości klucza.
5A2 Systemy, sprzęt i komponenty
5A002 a. Systemy, sprzęt, specyficzne aplikacje "podzespołów elektronicznych", moduły i układy scalone związane z "ochroną informacji" oraz inne specjalnie do nich zaprojektowane komponenty, z tego:
N.B.: Do sterowania urządzeniami systemów globalnej nawigacji satelitarnej zawierających lub wykorzystujących funkcje szyfrowania (np. GPS lub GLONASS) patrz pozycja 7A005.
Uwagi techniczne:
Uwaga: Pozycja 5A002.a.1. obejmuje sprzęt przeznaczony lub zmodyfikowany w celu zastosowania mechanizmów kryptograficznych do przekazywania informacji z wykorzystaniem technik analogowych, gdy stosowane są wraz z technikami cyfrowymi.
Uwaga: Pozycja 5A002 nie obejmuje kontrolą:
N.B.: Jeżeli "personalizowane karty elektroniczne" są kartami wieloaplikacyjnymi, poziom kontroli każdej aplikacji oceniany jest indywidualnie;
Uwaga techniczna:
"Transakcje pieniężne" w ramach Uwagi d do pozycji 5A002 obejmują zbieranie i ustalanie opłat lub funkcji kredytowych.
5B2 Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
5B002 a. Sprzęt specjalnie zaprojektowany do:
5C2 Materiały
Żadne
5D2 Oprogramowanie
5D002 a. "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" sprzętu lub "oprogramowania" wyszczególnionego w pozycji 5A002, 5B002 lub 5D002;
Uwaga: Pozycja 5D002 nie obejmuje kontrolą:
5E2 Technologia
5E002 "Technologia" stosownie do Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" lub "użytkowania" sprzętu lub "oprogramowania", wyszczególnionego w pozycji 5A002, 5B002 lub 5D002.
KATEGORIA 6
CZUJNIKI I LASERY
6A Systemy, urządzenia i części
6A001 Czujniki akustyczne.
Uwaga: Pozycja 6A001.a.1. nie obejmuje kontrolą:
Uwaga 1: Status kontroli reflektorów akustycznych, włącznie z przetwornikami, specjalnie przeznaczonych do innych urządzeń, wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.
Uwaga 1: Pozycja 6A001.a.1.c. nie obejmuje kontrolą elektronicznych źródeł kierujących dźwięk tylko w pionie ani źródeł mechanicznych (np. pistolety powietrzne lub parowe) lub chemicznych (np. materiały wybuchowe).
Uwaga techniczna:
'Gęstość mocy akustycznej' oblicza się dzieląc wyjściową moc akustyczną przez iloczyn pola powierzchni wypromieniowanej wiązki i częstotliwości roboczej.
Uwaga: Pozycja 6A001.a.1.d. obejmuje:
Uwaga: Status kontroli hydrofonów specjalnie zaprojektowanych do innych urządzeń, wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.
Uwaga techniczna:
'Czułość hydrofonu' definiuje się jako dwadzieścia logarytmów przy podstawie 10 ze stosunku napięcia skutecznego po sprowadzeniu do napięcia skutecznego 1 V, po umieszczeniu czujnika hydrofonowego, bez przedwzmacniacza, w polu akustycznych fal płaskich o ciśnieniu skutecznym 1 mikropaskala. Na przykład, hydrofon o czułości - 160 dB (po sprowadzeniu do poziomu 1 V na mikropaskal) daje w takim polu napięcie wyjściowe 10-8 V, natomiast hydrofon o czułości - 180 dB daje w takim samym polu napięcie wyjściowe tylko 10-9 V. Zatem hydrofon o czułości - 160 dB jest lepszy od hydrofonu o czułości - 180 dB.
Uwaga techniczna:
Wspomniana w pozycji 6A001.a.2.b.1. i 2 'możliwość modyfikowania' oznacza, że są zaopatrzone w elementy umożliwiające zmianę przewodów lub połączeń w celu zmiany odległości pomiędzy grupami hydrofonów albo granicznych głębokości roboczych. Do elementów takich zalicza się: zapasowe przewody w ilości przewyższającej o 10 % liczbę przewodów używanych, bloki umożliwiające zmianę odległości pomiędzy grupami hydrofonów lub wewnętrzne regulowane urządzenia limitujące głębokość lub urządzenia sterujące umożliwiające sterowanie więcej niż jedną grupą hydrofonów.
6A002 Czujniki optyczne
N.B.: Sprawdź także pozycję 6A102.
Uwaga: Pozycja 6A002.a. nie obejmuje kontrolą elementów fotoelektrycznych wykonanych z germanu lub krzemu.
Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.a.3.c. nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych o maksymalnej czułości promieniowania 10 mA/W lub mniej.
Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.b.3. nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych o maksymalnej czułości promieniowania 10 mA/W lub mniej.
Uwagi techniczne:
Uwaga 1: Pozycja 6A002.a.3. obejmuje kontrolą zespoły fotoprzewodzące i fotowoltaiczne.
Uwaga 2: Pozycja 6A002.a.3. nie obejmuje kontrolą:
Uwaga techniczna:
Termin "bezpośrednie widzenie" odnosi się do urządzeń tworzących obrazy, działających w zakresie fal widzialnych albo podczerwonych i przedstawiających widzialny dla człowieka obraz bez jego przetwarzania na sygnał elektroniczny przekazywany na ekran telewizyjny, niemogących zarejestrować albo przechować obrazu na drodze fotograficznej, elektronicznej albo jakiejkolwiek innej.
Uwaga: Pozycja 6A002.c. nie obejmuje kontrolą następujących urządzeń zaopatrzonych w fotokatody inne niż z GaAs lub GaInAs:
6A003 Kamery filmowe
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A203.
N.B.: Dla kamer specjalnie opracowanych lub zmodyfikowanych do zastosowań podwodnych sprawdź także pozycje 8A002.d. i 8A002.e.
Uwaga: Kamery rejestrujące, określone w poz. 6A003.a.3. do 6A003.a.5., o budowie modułowej powinny być oceniane wg ich maksymalnych możliwości przy wykorzystaniu 'zespołów wtykanych' zgodnie ze specyfikacją producenta kamery.
Uwaga: Pozycja 6A003.a.1. nie obejmuje kontrolą filmowych kamer rejestrujących przeznaczonych do użytku cywilnego.
Uwaga: Pozycja 6A003.b. nie obejmuje kontrolą kamer telewizyjnych ani wideokamer przeznaczonych specjalnie dla stacji telewizyjnych.
Uwaga techniczna:
Uwaga: Pozycja 6A003.b.4. nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych wykorzystujących liniowe "płaskie zespoły ogniskujące" o 12 lub mniej elementach, nieposiadających w elementach opóźnienia czasowego i całkowania, przeznaczone do następujących zastosowań:
6A004 Elementy optyczne
Uwagi techniczne:
Uwaga: Poz. 6A004.e.2. nie obejmuje kontrolą asferycznych elementów optycznych mających którąkolwiek z następujących cech:
N.B.: Jeżeli chodzi o elementy asferyczne specjalnie zaprojektowane dla urządzeń litograficznych, sprawdź 3B001.
6A005 Następujące "lasery", ich elementy i urządzenia optyczne do nich, różne od wymienionych w pozycjach 0B001.g.5. lub 0B001.h.6.:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A205.
Uwaga 1: Do "laserów" impulsowych zalicza się lasery z falą ciągłą (CW), z nakładanymi na nią impulsami.
Uwaga 2: Do "laserów" wzbudzanych impulsowo zalicza się lasery działające w trybie wzbudzenia ciągłego z nakładającym się wzbudzeniem impulsowym.
Uwaga 3: Status kontroli "laserów" Ramana wynika z parametrów "laserów" pompujących. "Laserem" pompującym może być każdy z "laserów" wymienionych poniżej.
N.B.: W przypadku "laserów" ekscymerowych specjalnie zaprojektowanych dla urządzeń litograficznych sprawdź 3B001.
Uwaga: Pozycja 6A005.a.7. nie obejmuje kontrolą "laserów" azotowych.
Uwagi techniczne:
Uwaga 1: Pozycja 6A005.b. obejmuje "lasery" półprzewodnikowe wyposażone w optyczne złącza wyjściowe (np. kable z włókien światłowodowych).
Uwaga 2: Status kontroli "laserów" półprzewodnikowych przeznaczonych specjalnie do innych urządzeń wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.
Uwaga: Pozycja 6A005.c.1. obejmuje "lasery" tytanowo-szafirowe (Ti: Al2O3), tul - YAG (Tm: YAG), tul - YSGG (Tm: YSGG), aleksandrytowe (CR: BeAl2O4) oraz "lasery" barwnikowe.
Uwaga: Pozycja 6A005.c.2. obejmuje kontrolą "lasery" na ciele stałym z przemianą atomową.
Uwaga: "Lasery" z domieszką neodymową (inną niż szkło), o długościach fali wyjściowej nie większych niż 1.000 nm lub powyżej 1.100 nm, ujęto w pozycji 6A005.c.2.c.
Uwaga techniczna:
'Chłodzenie czynne' jest techniką chłodzenia elementów optycznych za pomocą cieczy przepływającej pomiędzy powierzchnią optyczną a dodatkową (zazwyczaj znajdującą się w odległości poniżej 1 mm od powierzchni optycznej), wskutek czego następuje odprowadzenie ciepła z powierzchni optycznej.
N.B.: Odnośnie elementów optycznych z dzieloną aperturą, zdolnych do pracy w "Laserach super wysokiej mocy", sprawdź także Wykaz Uzbrojenia.
6A006 Następujące "magnetometry", "mierniki gradientu magnetycznego", "mierniki gradientu magnetycznego własnego" i systemy kompensacji oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy:
Uwaga: Pozycja 6A006 nie obejmuje kontrolą instrumentów specjalnie przeznaczonych do pomiarów biomagnetycznych do celów diagnostycznych w medycynie.
6A007 Następujące grawimetry i mierniki gradientu pola grawitacyjnego:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A107.
Uwaga: Pozycja 6A007.a. nie obejmuje kontrolą grawimetrów do pomiarów naziemnych z elementem kwarcowym (Wordena).
6A008 Systemy, urządzenia i zespoły radarowe o jednej z wymienionych poniżej cech charakterystycznych oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A108.
Uwaga: Pozycja 6A008 nie obejmuje kontrolą następujących obiektów:
Uwaga techniczna:
'Środkowa częstotliwość robocza' równa się połowie sumy najwyższej i najniższej nominalnej częstotliwości roboczej.
Uwaga: Pozycja 6A008.f. nie obejmuje kontrolą urządzeń radiolokacyjnych dokładnej kontroli podejścia do lądowania (PAR) odpowiadających standardom ICAO;
Uwaga: Pozycja 6A008.i. nie obejmuje kontrolą:
Uwaga: Pozycja 6A008.j. nie obejmuje kontrolą urządzeń LIDAR'owych specjalnie przeznaczonych do badań lub do obserwacji meteorologicznych.
Uwaga: Pozycja 6A008.l.1. nie obejmuje kontrolą układów ostrzegających przed możliwością zderzenia, wchodzących w skład systemów kontroli ruchu powietrznego albo morskiego lub portowego.
Uwaga: Pozycja 6A008.l.4. nie obejmuje kontrolą systemów, urządzeń lub zespołów używanych do kontroli ruchu na morzu.
6A102 'Detektory' zabezpieczone przed promieniowaniem, różne od wymienionych w pozycji 6A002, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do ochrony przed skutkami wybuchów jądrowych (np. impulsów elektromagnetycznych (EMP), promieniowania rentgenowskiego, kombinowanych efektów podmuchu i udaru termicznego) i znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych", skonstruowane lub przystosowane w taki sposób, że są w stanie wytrzymać łączną dawkę promieniowania o wartości 5 × 105 radów (Si).
Uwaga techniczna:
W pozycji 6A102 przez pojęcie detektora należy rozumieć urządzenie mechaniczne, elektryczne, optyczne lub chemiczne, do automatycznej identyfikacji i rejestracji takich bodźców, jak zmiany warunków otoczenia, np. ciśnienie lub temperatura, sygnał elektryczny lub elektromagnetyczny albo promieniowanie materiału radioaktywnego. Obejmuje to urządzenia, które wykrywają bodziec poprzez jednorazowe zadziałanie albo uszkodzenie się.
6A107 Następujące grawimetry i podzespoły do mierników grawitacji i mierników gradientu pola grawitacyjnego:
6A108 Następujące instalacje radarowe i śledzące, różne od wymienionych w pozycji 6A008:
Uwaga: Pozycja 6A108.a. obejmuje następujące obiekty:
Uwaga techniczna:
Termin "pocisk rakietowy" w pozycji 6A108b oznacza kompletną instalację rakietową i bezzałogowe systemy pojazdów latających o zasięgu powyżej 300 km.
6A202 Lampy fotopowielaczowe mające wszystkie następujące cechy:
6A203 Następujące kamery filmowe i ich podzespoły, różne od wymienionych w pozycji 6A003:
Uwaga: W pozycji 6A203.a do podzespołów kamer tego typu zalicza się specjalnie skonstruowane elektroniczne elementy synchronizujące oraz specjalne zespoły wirników składające się z turbinek, zwierciadeł i łożysk.
Uwaga techniczna:
Termin Gy(silikon) odnosi się do energii w Jooulach na kilogram wchłoniętej przez nieosłoniętą próbkę krzemową po wystawieniu na działanie promieniowania jonizującego.
6A205 Następujące "lasery", wzmacniacze "laserowe" i oscylatory, różne od wymienionych w pozycjach 0B001.g.5., 0B001.h.6. i 6A005:
Uwaga: Pozycja 6A205.c. nie obejmuje oscylatorów pracujących w trybie pojedynczym;
6A225 Interferometry do pomiaru prędkości w zakresie powyżej 1 km/s w odstępach czasowych poniżej 10 mikrosekund.
Uwaga: Pozycja 6A225 obejmuje doplerowskie interferometry laserowe, jak VISAR'y, DLI itp.
6A226 Następujące czujniki ciśnienia:
6B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
6B004 Następujące urządzenia optyczne:
Uwaga: Pozycja 6B004 nie obejmuje kontrolą mikroskopów.
6B007 Urządzenia do produkcji, strojenia i wzorcowania grawimetrów lądowych o dokładności statycznej lepszej niż 0,1 miligal;
6B008 Systemy do impulsowych pomiarów radarowego przekroju czynnego o szerokościach impulsu przesyłowego 100 ns lub mniejszych oraz specjalnie dla nich przeznaczone elementy.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6B108.
6B108 Systemy specjalnie przeznaczone do pomiarów radarowego przekroju czynnego znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych" i ich podzespołach, różne od wymienionych w pozycji 6B008.
6C Materiały
6C002 Następujące materiały do czujników optycznych:
Uwaga techniczna:
'Ułamek molowy' definiowany jest jako stosunek moli ZnTe do sumy moli CdTe i ZnTe znajdujących się w krysztale.
6C004 Następujące materiały optyczne:
6C005 Następujące półprodukty do "laserów" na kryształach syntetycznych:
6D Oprogramowanie
6D001 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do "rozwoju" lub "produkcji" urządzeń objętych kontrolą według pozycji 6A004, 6A005, 6A008 lub 6B008.
6D002 "Oprogramowanie"specjalnie przeznaczone do "użytkowania" urządzeń objętych kontrolą według pozycji 6A002.b., lub 6A008 lub 6B008.
6D003 Następujące inne oprogramowanie:
a. 1. "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do kształtowania wiązek akustycznych do "przetwarzania w czasie rzeczywistym" danych akustycznych pochodzących z pasywnego odbioru za pomocą holowanego zespołu hydrofonów;
b. 1. "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do systemów kompensacji magnetycznej do czujników magnetycznych przeznaczonych do pracy na ruchomych platformach;
d. 1. "Programy" aplikacyjne "oprogramowania" do Kontroli Ruchu Powietrznego zainstalowane na komputerach ogólnego przeznaczenia w centrach Kontroli Ruchu Powietrznego, umożliwiające realizację jednej z wymienionych poniżej funkcji:
Uwaga techniczna:
'Przeciętny poziom listków bocznych' w pozycji 6D003.d.2.b. mierzony jest dla całego układu, pomijając rozpiętość kątową wiązki głównej i pierwsze dwa listki boczne z każdej strony.
6D102 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone lub zmodyfikowane do "użytkowania" "wyrobów" wymienionych w pozycji 6A108.
6D103 "Oprogramowanie" do obróbki (po zakończeniu lotu) danych zebranych podczas lotu, umożliwiające określenie położenia pojazdu w każdym punkcie toru jego lotu, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane dla "pocisków rakietowych".
Uwaga techniczna:
"Pocisk rakietowy" w pozycji 6D103 odnosi się do kompletnych systemów rakietowych i bezzałogowych statków latających o zasięgu powyżej 300 km.
6E Technologia
6E001 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" urządzeń, materiałów lub "oprogramowania" objętych kontrolą według pozycji 6A, 6B, 6C lub 6D.
6E002 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "produkcji" urządzeń lub materiałów objętych kontrolą według pozycji 6A, 6B lub 6C.
6E003 Następujące inne technologie:
a. 1. "Technologie " wytwarzania i obróbki powłok na powierzchniach optycznych "niezbędne" do osiągnięcia jednorodności 99,5 % lub lepszej na powłokach optycznych o średnicy lub długości osi głównej wynoszącej 500 mm lub więcej i całkowitego współczynnika strat (pochłanianie i rozpraszanie) poniżej 5 × 10-3;
N.B.: Sprawdź także pozycję 2E003.f.
6E101 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "użytkowania" urządzeń lub "oprogramowania" objętych kontrolą według pozycji 6A002, 6A007.b i c., 6A008, 6A102, 6A107, 6A108, 6B108, 6D102 lub 6D103.
Uwaga: Pozycja 6E101 obejmuje wyłącznie "technologie" do urządzeń wymienionych w pozycji 6A008 w razie jej przeznaczenia do stosowania w lotnictwie i możliwości zastosowania w "pociskach rakietowych".
6E201 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "użytkowania" urządzeń wymienionych w pozycjach 6A003, 6A005.a.1.c., 6A005.a.2.a., 6A005.c.1.b., 6A005.c.2.c.2., 6A005.c.2.d.2.b., 6A202, 6A203, 6A205, 6A225 lub 6A226.
KATEGORIA 7
NAWIGACJA I AWIONIKA
7A Systemy, urządzenia i części:
N.B.: W przypadku automatycznych pilotów do pływających jednostek podwodnych sprawdź także Kategorię 8.
W przypadku radarów sprawdź także Kategorię 6.
7A001 Akcelerometry (przyspieszeniomierze) liniowe przeznaczone do inercyjnych systemów nawigacji lub naprowadzania i posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A101. W PRZYPADKU AKCELEROMETRÓW KĄTOWYCH LUB OBROTOWYCH SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A002.
7A002 Żyroskopy i akcelerometry kątowe lub obrotowe, posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych, oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A102.
7A003 Inercyjne systemy nawigacji i specjalnie zaprojektowane do nich podzespoły:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A103.
Uwaga 1: Parametry pozycji 7A003.a. mają zastosowanie wraz z jednym z poniższych warunków środowiskowych:
Uwaga 2: Pozycja 7A003 nie obejmuje kontrolą inercyjnych systemów nawigacyjnych certyfikowanych do stosowania w "samolotach cywilnych" przez władze cywilne "państwa uczestniczącego".
Uwaga 3: Pozycja 7A003.c.1 nie obejmuje kontrolą systemów teodolitowych zawierających urządzenia inercyjne specjalnie przeznaczone do cywilnych zastosowań badawczych.
Uwagi techniczne:
7A004 Żyro-astrokompasy i inne urządzenia umożliwiające określanie położenia lub orientację przestrzenną za pomocą automatycznego śledzenia ciał niebieskich lub satelitów, o dokładności azymutowej równej 5 sekund kątowych lub mniej (lepszej niż).
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A104.
7A005 Urządzenia odbiorcze globalnych satelitarnych systemów nawigacji (np. GPS lub GLONASS) posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A105.
7A006 Wysokościomierze lotnicze działające poza pasmem częstotliwości od 4,2 do 4,4 GHz włącznie, posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7A106.
7A007 Urządzenia do wyszukiwania kierunku działające przy częstotliwościach powyżej 30 MHz, mające wszystkie poniższe cechy charakterystyczne oraz specjalnie do nich przeznaczone części:
7A101 Akcelerometry, różne od wymienionych w pozycji 7A001 oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły:
Uwaga: Pozycja 7A101.a. nie dotyczy akcelerometrów specjalnie przeznaczonych i opracowanych jako czujniki MWD (Measurement While Drilling - pomiar podczas wiercenia) stosowanych podczas prac wiertniczych.
7A102 Wszystkie typy żyroskopów, różne od wymienionych w pozycji 7A002, nadające się do stosowania w "pociskach rakietowych", o "stabilności" "pełzania zera" poniżej 0,5º (1 sigma lub średnia kwadratowa) na godzinę w warunkach przyspieszenia 1 g oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły.
7A103 Następujące instrumenty, urządzenia i systemy nawigacyjne, różne od wymienionych w pozycji 7A003, oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły:
Uwaga: Pozycja 7A103.a. nie dotyczy urządzeń zawierających akcelerometry wyspecyfikowane w pozycji 7A001 oraz przeznaczone i opracowane jako czujniki MWD (Measurement While Drilling - pomiar podczas wiercenia) stosowane podczas prac wiertniczych.
Uwaga techniczna:
W skład 'zintegrowanego systemu nawigacyjnego' zazwyczaj wchodzą następujące elementy składowe:
7A104 Żyro-astrokompasy i inne urządzenia, różne od wymienionych w pozycji 7A004, umożliwiające określanie położenia lub orientację przestrzenną za pomocą automatycznego śledzenia ciał niebieskich lub satelitów oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły.
7A105 Urządzenia odbiorcze Globalnego Satelitarnego Systemu Nawigacji (GNSS; np. GPS, GLONASS lub Galileo) oraz specjalnie przeznaczone do nich zespoły, o następujących właściwościach:
Uwaga: Pozycje 7A105.b.2 i 7A105b.3 nie obejmują kontrolą urządzeń przeznaczonych do komercyjnego, cywilnego lub ratunkowego dostępu do GNSS (np. integracja danych, bezpieczeństwo lotów).
7A106 Wysokościomierze, różne od wymienionych w pozycji 7A006, typu radarowego lub laserowego, przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do stosowania w kosmicznych pojazdach nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub w rakietach meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104.
7A115 Pasywne czujniki do określania namiaru na określone źródła fal elektromagnetycznych (namierniki) lub właściwości terenu, przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do stosowania w kosmicznych pojazdach nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub w rakietach meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104.
Uwaga: Pozycja 7A115 obejmuje czujniki do następujących urządzeń:
7A116 Następujące systemy sterowania lotem i serwozawory, przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do kosmicznych pojazdów nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub do rakiet meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104:
7A117 "Instalacje do naprowadzania" znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych" umożliwiające uzyskanie dokładności instalacji 3,33 % zasięgu lub lepszej (np. "CEP" [Krąg Równego Prawdopodobieństwa] 10 km lub mniej w zasięgu 300 km).
7B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
7B001 Urządzenia do testowania, wzorcowania lub strojenia specjalnie przeznaczone do urządzeń objętych kontrolą według pozycji 7A,
Uwaga: Pozycja 7B001 nie obejmuje kontrolą urządzeń do testowania, wzorcowania lub strojenia specjalnie przeznaczonych do I i II Poziomu Obsługi.
Uwagi techniczne:
Wykrycie awarii urządzenia nawigacji inercyjnej w samolocie i jej sygnalizowanie przez Jednostkę Sterowania i Wyświetlania (CDU) albo komunikat statusowy z odpowiedniego podukładu. Na podstawie instrukcji producenta można zlokalizować przyczyny awarii na poziomie wadliwego funkcjonowania liniowego elementu wymiennego (LRU). Następnie operator demontuje LRU i zastępuje go częścią zapasową.
Uszkodzony LRU przekazuje się do warsztatu technicznego (u producenta lub operatora odpowiedzialnego za obsługę techniczną na Poziomie II). W warsztacie technicznym LRU poddaje się testom za pomocą różnych, odpowiednich do tego urządzeń, w celu sprawdzenia i lokalizacji uszkodzonego modułu warsztatowego zespołu wymiennego (SRA) odpowiedzialnego za awarię. Następnie demontuje się wadliwy SRA i zastępuje go zespołem zapasowym. Uszkodzony SRA (albo też kompletny LRU) wysyła się do producenta.
N.B.: Na Poziomie Obsługi II nie przewiduje się demontażu z SRA przyspieszeniomierzy ani też czujników żyroskopowych objętych kontrolą.
7B002 Następujące urządzenia specjalnie przeznaczone do określania parametrów zwierciadeł do pierścieniowych żyroskopów "laserowych":
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 7B102.
7B003 Urządzenia specjalnie przeznaczone do "produkcji" urządzeń ujętych w pozycji 7A.
Uwaga: Pozycja 7B0030 obejmuje:
7B102 Reflektometry specjalnie przeznaczone do wyznaczania charakterystyk zwierciadeł do żyroskopów "laserowych", posiadające dokładność pomiarową 50 ppm lub mniej (lepszą).
7B103 Następujące "instalacje produkcyjne" i "urządzenia produkcyjne":
7C Materiały
Żadne.
7D Oprogramowanie
7D001 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do "rozwoju" lub "produkcji" urządzeń wymienionych w pozycji 7A lub 7B.
7D002 "Kod źródłowy" do "użytkowania" wszelkich urządzeń do nawigacji inercyjnej lub Układów Informujących o Położeniu i Kursie (AHRS) włącznie z inercyjnymi urządzeniami niewymienionymi w pozycji 7A003 lub 7A004.
Uwaga: Pozycja 7D002 nie obejmuje kontrolą "kodów źródłowych" do "użytkowania" zawieszonych kardanowo układów AHRS.
Uwaga techniczna:
Układy AHRS w istotny sposób różnią się od inercyjnych systemów nawigacji (INS), ponieważ układy te (AHRS) dostarczają podstawowych informacji o położeniu i kursie, i zazwyczaj nie dostarczają informacji o przyspieszeniu, prędkości i położeniu, jakich dostarcza układ INS.
7D003 Następujące inne "oprogramowanie":
7D101 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do "użytkowania" urządzeń wymienionych w pozycjach 7A001 do 7A006, 7A101 do 7A106, 7A115, 7A116.a., 7A116.b., 7B001, 7B002, 7B003, 7B102 lub 7B103.
7D102 "Oprogramowanie" scalające, jak następuje:
Uwaga: Powszechnie spotykaną postacią "oprogramowania" scalającego jest filtrowanie Kalmana.
7D103 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do modelowania lub symulowania działania "instalacji do naprowadzania" wymienionych w pozycji 7A117 lub do ich integrowania konstrukcyjnego z kosmicznymi pojazdami nośnymi wymienionymi w pozycji 9A004 lub z rakietami meteorologicznymi wymienionymi w pozycji 9A104.
Uwaga: "Oprogramowanie" wymienione w pozycji 7D103 podlega kontroli, jeśli jest przeznaczone specjalnie do sprzętu wymienionego w pozycji 4A102.
7E Technologie
7E001 "Technologie " według Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju " urządzeń lub "oprogramowania" wymienionych w pozycjach 7A, 7B lub 7D.
7E002 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "produkcji" urządzeń wymienionych w pozycjach 7A lub 7B.
7E003 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do naprawy, regeneracji lub remontowania urządzeń wymienionych w pozycjach 7A001 do 7A004.
Uwaga: Pozycja 7E003 nie obejmuje kontrolą "technologii" obsługi technicznej bezpośrednio związanych z wzorcowaniem, usuwaniem lub wymianą uszkodzonych lub nienadających się do użytku liniowych elementów wymiennych (LRU) i warsztatowych zespołów wymiennych (SRA) w "samolotach cywilnych" zgodnie z opisem w I lub w II Poziomie Obsługi.
N.B.: Patrz Uwagi techniczne do 7B001.
7E004 Następujące inne "technologie":
Uwaga: Pozycja 7E004.b.3. nie obejmuje kontrolą "technologii" do projektowania redundancji fizycznej.
Uwaga: Pozycja 7E004.b.5. nie obejmuje kontrolą:
N.B.: W przypadku "technologii" Całkowicie Autonomicznych Cyfrowych Systemów Sterowania Silnikami (FADEC) sprawdź także pozycję 9E003.a.9.
7E101 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "użytkowania" urządzeń wymienionych w pozycjach 7A001 do 7A006, 7A101 do 7A106, 7A115 do 7A117, 7B001, 7B002, 7B003, 7B102, 7B103, 7D101 do 7D103.
7E102 Następujące "technologie" do zabezpieczania podzespołów awioniki i elektrycznych przed impulsem elektromagnetycznym (EMP) i zagrożeniem zakłóceniami elektromagnetycznymi ze źródeł zewnętrznych:
7E104 "Technologie" scalania danych z systemów sterowania lotem, naprowadzania i napędu w system zarządzania lotem w celu optymalizacji toru lotu rakiet.
KATEGORIA 8
URZĄDZENIA OKRĘTOWE
8A Systemy, urządzenia i części
8A001 Następujące pływające jednostki podwodne lub nawodne:
Uwaga: Status kontroli urządzeń do pojazdów podwodnych określono w następujących pozycjach:
Kategoria 5, Część 2 "Ochrona Informacji" - w zakresie szyfrujących urządzeń komunikacyjnych;
Kategoria 6 - w zakresie czujników;
Kategoria 7 i 8 - w zakresie urządzeń nawigacyjnych;
Kategoria 8.A. - w zakresie urządzeń podwodnych.
Uwagi techniczne:
Uwaga techniczna:
'Jednostkę pływającą o małym polu przekroju wodnicowego' definiuje się według następującego wzoru: pole przekroju wodnicowego przy konstrukcyjnym zanurzeniu eksploatacyjnym mniejsze od 2 × (wyparta objętość przy konstrukcyjnym zanurzeniu eksploatacyjnym)2/3.
8A002 Następujące układy lub urządzenia:
Uwaga: Podwodne instalacje telekomunikacyjne ujęto w Kategorii, 5 część 1 - Telekomunikacja.
Uwaga techniczna:
W telewizji rozdzielczość graniczna jest miarą rozdzielczości poziomej, wyrażanej zazwyczaj jako maksymalna liczba linii mieszcząca się w wysokości obrazu, rozróżnianych na karcie testowej, określana według normy IEEE 208/1960 lub dowolnej normy stanowiącej jej odpowiednik.
Uwaga: Przy określaniu liczby stopni swobody ruchu bierze się pod uwagę wyłącznie te funkcje, w których wykorzystywane jest sterowanie proporcjonalne z pozycyjnym sprzężeniem zwrotnym lub sterowanie za pomocą dedykowanego komputera "ze sterowaniem zaprogramowanym w pamięci".
Uwaga: Pozycja 8A002.q. nie obejmuje kontrolą aparatów indywidualnych, kiedy towarzyszą one użytkownikowi do jego osobistego użytku.
8B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
8B001 Tunele wodne o szumie tła poniżej 100 dB (odpowiednik 1 mikropaskala, 1 Hz) w paśmie częstotliwości od 0 do 500 Hz, przeznaczone do pomiaru pól akustycznych wytwarzanych przez przepływy cieczy wokół modeli układów napędowych.
8C Materiały
8C001 'Pianka syntaktyczna' (porowata) do użytku pod wodą mająca obie poniższe cechy:
Uwaga techniczna:
'Pianka syntaktyczna' składa się z pustych w środku kuleczek z tworzywa sztucznego lub szkła osadzonych w matrycy z żywicy.
8D Oprogramowanie
8D001 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" urządzeń lub materiałów objętych kontrolą według pozycji 8A, 8B lub 8C;
8D002 "Oprogramowanie" specjalne, przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do "rozwoju", "produkcji", napraw, remontów lub modyfikacji (ponownej obróbki skrawaniem) śrub, specjalnie w celu tłumienia generowanych przez nie pod wodą szumów.
8E Technologie
8E001 Technologie według Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" urządzeń lub materiałów objętych kontrolą według pozycji 8A, 8B lub 8C;
8E002 Następujące inne technologie:
KATEGORIA 9
UKŁADY NAPĘDOWE, POJAZDY KOSMICZNE I ICH WYPOSAŻENIE
9A Systemy, urządzenia i części
N.B.: Dla układów napędowych specjalnie skonstruowanych lub zabezpieczonych przed promieniowaniem neutronowym lub przenikliwym promieniowaniem jonizującym sprawdź także Wykaz uzbrojenia.
9A001 Następujące lotnicze silniki turbinowe, w których zastosowano jedną z technologii objętych kontrolą według pozycji 9E003.a:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A101.
9A002 'Turbinowe silniki okrętowe' o nominalnej mocy ciągłej określonej według normy ISO wynoszącej 24.245 kW lub więcej i zużyciu jednostkowym paliwa nieprzekraczającym 0,219 kg/kWh w dowolnym punkcie roboczym w zakresie mocy od 35 do 100 %, oraz specjalnie do nich przeznaczone zespoły i elementy;
Uwaga: Termin 'turbinowe silniki okrętowe' obejmuje również turbinowe silniki przemysłowe lub lotnicze, przystosowane do napędzania jednostek pływających lub wytwarzania energii elektrycznej na jednostkach pływających.
9A003 Następujące specjalne zespoły i elementy, w których zastosowano jedną z technologii objętych kontrolą według pozycji 9E003.a, do wymienionych poniżej turbinowych silników napędowych:
9A004 Kosmiczne pojazdy nośne "statki kosmiczne";
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A104.
Uwaga: Pozycja 9A004 nie obejmuje kontrolą ładunku użytecznego.
N.B.: Dla określenia statusu kontroli produktów wchodzących w skład ładunku użytecznego "statku kosmicznego" sprawdź odpowiednie Kategorie.
9A005 Rakietowe systemy napędowe na paliwo ciekłe zawierające jeden z systemów lub elementów wymienionych w pozycji 9A006;
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 9A105 I 9A119.
9A006 Następujące systemy lub elementy specjalnie przeznaczone do rakietowych układów napędowych na paliwo ciekłe:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 9A106 I 9A108.
9A007 Systemy napędowe rakiet na paliwo stałe o następujących parametrach:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A119.
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 9A007.e. 'silne połączenie mechaniczne' oznacza wytrzymałość wiązania równą lub większą niż wytrzymałość paliwa.
9A008 Następujące elementy przeznaczone do rakietowych układów napędowych na paliwo stałe:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A108.
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 9A008.a. 'silne połączenie mechaniczne' oznacza wytrzymałość wiązania równą lub większą niż wytrzymałość paliwa.
Uwaga techniczna:
'Wskaźnik efektywności strukturalnej (PV/W)' jest iloczynem ciśnienia wybuchu (P) i pojemności zbiornika (V) podzielonym przez całkowitą wagę zbiornika ciśnieniowego (W);
9A009 Hybrydowe systemy napędowe rakiet o następujących parametrach:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 9A109 I 9A119.
9A010 Następujące specjalnie opracowane elementy, systemy lub struktury do rakiet nośnych lub systemów napędowych do rakiet nośnych, lub "statków kosmicznych":
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 1A002 I 9A110.
Uwaga: Podany limit masy nie dotyczy czołowych stożków ochronnych rakiet.
9A011 Silniki strumieniowe, naddźwiękowe silniki strumieniowe lub silniki o cyklu kombinowanym oraz specjalnie do nich opracowane elementy.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 9A111 I 9A118.
9A012 Bezzałogowe pojazdy powietrzne, mające jedną z następujących możliwości:
9A101 Następujące lekkie silniki turboodrzutowe i turbowentylatorowe (w tym silniki turbinowe) nadające się do "pocisków rakietowych", różne od wymienionych w pozycji 9A001:
9A104 Rakiety meteorologiczne (sondujące) o zasięgu co najmniej 300 km.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A004.
9A105 Następujące silniki rakietowe na paliwo ciekłe:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A119.
9A106 Następujące systemy lub podzespoły, różne od wymienionych w pozycji 9A006, nadające się do stosowania w "pociskach rakietowych", specjalnie przeznaczone do układów napędowych rakiet na paliwo ciekłe:
Uwaga techniczna:
Do sposobów sterowania wektorem ciągu wymienionych w pozycji 9A106.c. należą np.:
Uwaga: Jedynymi objętymi kontrolą w pozycji 9A106.d. serwozaworami i pompami elektrohydraulicznymi są:
9A107 Silniki rakietowe na paliwo stałe nadające się do kompletnych systemów rakietowych lub bezzałogowych pojazdów latających o zasięgu co najmniej 300 km, różne od wymienionych w pozycji 9A007 i posiadające impuls całkowity 0,841 MNs lub większy
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A119.
9A108 Następujące podzespoły, różne od wymienionych w pozycji 9A008, nadające się do "pocisków rakietowych", specjalnie przeznaczone do układów napędowych do rakiet na paliwo stałe:
Uwaga techniczna:
Do sposobów sterowania wektorem ciągu wymienionych w pozycji 9A108.c. należą np.:
9A109 Hybrydowe silniki rakietowe, nadające się do "pocisków rakietowych", różne od wymienionych w pozycji 9A009, oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9A119.
9A110 Materiały kompozytowe, laminaty i wyroby z nich, różne od wymienionych w pozycji 9A010, przeznaczone specjalnie do kosmicznych pojazdów nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub do rakiet meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104, lub podsystemów wymienionych w pozycjach 9A005, 9A007, 9A105.a., 9A106 do 9A108, 9A116 lub 9A119.
N.B.: VSPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 1A002.
9A111 Pulsacyjne silniki odrzutowe nadające się do "pocisków rakietowych" oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 9A011 I 9A118.
9A115 Następujące urządzenia i instalacje startowe, przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do kosmicznych pojazdów nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub do rakiet meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104:
9A116 Następujące statki kosmiczne zdolne do lądowania na ziemi nadające się do "pocisków rakietowych" oraz przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do nich podzespoły:
9A117 Mechanizmy do łączenia stopni, mechanizmy do rozłączania stopni oraz mechanizmy międzystopniowe, nadające się do "pocisków rakietowych".
9A118 Urządzenia do regulacji spalania w silnikach, nadające się do "pocisków rakietowych" wymienionych w pozycjach 9A011 lub 9A111.
9A119 Pojedyncze stopnie do rakiet, nadające się do kompletnych systemów rakietowych lub bezzałogowych pojazdów latających o zasięgu co najmniej 300 km, różne od wymienionych w pozycjach 9A005, 9A007, 9A009, 9A105, 9A107 i 9A109.
9B Urządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne
9B001 Następujące specjalnie zaprojektowane urządzenia, oprzyrządowanie i osprzęt do produkcji wirujących i nieruchomych łopatek turbin lub bandaży do wirników:
9B002 Pracujące w trybie bezpośrednim (w czasie rzeczywistym) systemy sterowania, oprzyrządowanie (włącznie z czujnikami) lub automatyczne systemy do zbierania i przetwarzania danych, specjalnie przeznaczone do "rozwoju" silników turbogazowych, ich zespołów lub elementów z zastosowaniem "technologii" objętych kontrolą według pozycji 9E003.a.
9B003 Urządzenia specjalnie przeznaczone do "produkcji" lub testowania uszczelnień szczotkowych w turbinach gazowych wirujących z prędkościami obrotowymi odpowiadającymi prędkości liniowej wierzchołka łopatki powyżej 335 m/s i przy temperaturach przekraczających 773 K (500°C) oraz specjalnie do nich przeznaczone części lub akcesoria;
9B004 Oprzyrządowanie, matryce lub uchwyty do zgrzewania dyfuzyjnego "nadstopu", tytanu lub międzymetalicznych połączeń profili łopatkowych z tarczą, opisanych w pozycjach 9E003.a.3. lub 9E003.a.6. dla turbin gazowych;
9B005 Pracujące w trybie bezpośrednim (w czasie rzeczywistym) systemy sterowania, oprzyrządowanie (włącznie z czujnikami) lub automatyczne systemy do zbierania i przetwarzania danych, specjalnie przeznaczone do stosowania w jednym z wymienionych poniżej tuneli lub urządzeń aerodynamicznych:
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9B105.
Uwaga techniczna:
'Wymiar przestrzeni pomiarowej' w pozycji 9B005 oznacza średnicę okręgu lub bok kwadratu, albo najdłuższy bok prostokąta w najszerszym miejscu przestrzeni pomiarowej.
9B006 Sprzęt do badań akustycznych wibracji, w którym można wytwarzać ciśnienia akustyczne na poziomie 160 dB lub wyższe (odpowiadające 20 mikropaskalom) o mocy wyjściowej 4 kW lub większej przy temperaturze w komorze pomiarowej powyżej 1.273 K (1.000°C) oraz specjalnie do niego przeznaczone grzejniki kwarcowe.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9B106.
9B007 Urządzenia specjalnie przeznaczone do kontroli stanu silników rakietowych metodami nieniszczącymi (NDT), z wyłączeniem urządzeń do dwuwymiarowych badań rentgenowskich i badań za pomocą podstawowych metod chemicznych lub fizycznych.
9B008 Przetworniki specjalnie przeznaczone do bezpośrednich pomiarów tarcia w warstwie przyściennej w badanym przepływie przy temperaturach spiętrzenia powyżej 833 K (560°C).
9B009 Oprzyrządowanie specjalnie przeznaczone do wytwarzania elementów wirników silników turbinowych z proszków metali, zdolnych do pracy przy poziomie naprężeń stanowiącym 60% jednostkowej wytrzymałości na rozciąganie (UTS) lub wyższym i temperaturach metalu wynoszących 873 K (600°C) lub wyższych.
9B105 Tunele aerodynamiczne do prędkości Ma= 0,9 lub wyższych, nadające się do "pocisków rakietowych" oraz ich podzespołów.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 9B005.
9B106 Następujące komory klimatyczne i komory bezechowe:
9B115 Specjalne "urządzenia produkcyjne" do systemów, podsystemów i podzespołów wymienionych w pozycjach 9A005 do 9A009, 9A011, 9A101, 9A105 do 9A109, 9A111, 9A116 do 9A119.
9B116 "Instalacje produkcyjne" specjalnie przeznaczone do kosmicznych pojazdów nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub systemów, podsystemów i elementów wymienionych w pozycjach 9A005 do 9A009, 9A011, 9A101, 9A104 do 9A109, 9A111 lub 9A116 do 9A119.
9B117 Stoiska do prób i stoiska badawcze do rakiet na paliwo stałe lub ciekłe lub do silników rakietowych, posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:
9C Materiały
9C110 Maty z włókien, impregnowane żywicami, i materiały z włókien powlekanych metalem do tych mat, do produkcji struktur kompozytowych, laminatów i wyrobów wymienionych w poz. 9A110, wytwarzane zarówno na matrycach organicznych, jak i metalowych wykorzystujących wzmocnienia włóknami lub materiałami włókienkowymi, mające "wytrzymałość właściwą na rozciąganie" większą niż 7,62 × 104 m i "moduł właściwy" większy niż 3,18 × 106 m.
N.B.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJE 1C010 I 1C210.
Uwaga: Jedynymi matami z włókien impregnowanych żywicami, których dotyczy pozycja 9C110, są te, w których zastosowano żywice o temperaturze zeszklenia (Tg) po utwardzeniu przekraczającej 418K (145°C), jak określono w ASTM D4065 lub jej odpowiedniku.
9D Oprogramowanie
9D001 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane lub zmodyfikowane do "rozwoju" urządzeń lub "technologii" objętych kontrolą według pozycji 9A, 9B lub 9E003;
9D002 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane lub zmodyfikowane do "produkcji" urządzeń objętych kontrolą według pozycji 9A lub 9B.
9D003 Następujące "oprogramowanie" specjalnie opracowane lub modyfikowane do "użytkowania" 'całkowicie autonomicznych systemów cyfrowego sterowania silnikami' "FADEC" w systemach napędowych objętych kontrolą według pozycji 9A lub urządzeniach objętych kontrolą według pozycji 9B:
9D004 Następujące inne "oprogramowanie":
Uwaga: Pozycja 9D004.d. nie obejmuje kontrolą "oprogramowania" wchodzącego w skład nieobjętych kontrolą urządzeń lub niezbędnego do czynności technicznych związanych z wzorcowaniem lub naprawą albo aktualizacją aktywnie kompensowanych systemów regulacji luzu wierzchołkowego łopatek.
9D101 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do "użytkowania" wyrobów wymienionych w pozycjach 9B105, 9B106, 9B116 lub 9B117.
9D103 "Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do modelowania, symulowania lub integrowania konstrukcyjnego kosmicznych pojazdów nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub rakiet meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104, lub podsystemów wymienionych w pozycjach 9A005, 9A007, 9A105.a., 9A106, 9A108, 9A116 lub 9A119.
Uwaga: "Oprogramowanie" wymienione w pozycji 9D103 podlega kontroli również w przypadku stosowania go do specjalnego osprzętu wymienionego w pozycji 4A102.
9D104 "Oprogramowanie" specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "użytkowania" towarów wyspecyfikowanych w pozycjach 9A001, 9A005, 9A006.d., 9A006.g., 9A007.a., 9A008.d., 9A009.a., 9A010.d., 9A011, 9A101, 9A105, 9A106.c., 9A106.d., 9A107, 9A108.c., 9A109, 9A111, 9A115.a., 9A116.d., 9A117 lub 9A118.
9D105 "Oprogramowanie", które koordynuje funkcje więcej niż jednego podsystemu, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do "użytkowania" w pojazdach kosmicznych określonych w pozycji 9A004 lub rakietach meteorologicznych określonych w 9A104.
9E Technologia
Uwaga: "Technologie" do "rozwoju" lub "produkcji" wymienione w pozycji 9E001 do 9E003 dotyczące silników turbogazowych podlegają kontroli, również w przypadku kiedy są stosowane jako technologie "użytkowania" do napraw, przebudowy i remontów. Kontroli nie podlegają: dane techniczne, rysunki lub dokumentacja do czynności związanych z obsługą techniczną bezpośrednio dotyczącą wzorcowania, usuwania lub wymiany uszkodzonych lub niezdatnych do użytku elementów wymiennych, włącznie z całymi silnikami lub modułami silnikowymi.
9E001 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" urządzeń lub "oprogramowania" objętego kontrolą według pozycji 9A001.c., 9A004 do 9A011, 9B lub 9D.
9E002 "Technologie " według Uwagi ogólnej do technologii do "produkcji" urządzeń wymienionych w pozycjach 9A001.c, 9A004 do 9A011 lub 9B.
Uwaga: Dla potrzeb kontroli technologii napraw konstrukcji, laminatów lub materiałów sprawdź pozycję 1E002.f.
9E003 Następujące inne "technologie":
Uwaga 1: Do kanałów przepływowych o zmiennej geometrii oraz odpowiednich układów do sterowania nimi, wymienionych w pozycji 9E003.a.10., nie zalicza się wlotowych łopatek kierowniczych, wentylatorów o zmiennym skoku, zmiennych stójek ani zaworów upustowych w sprężarkach.
Uwaga 2: Pozycja 9E003.a.10. nie obejmuje kontrolą technologii do "rozwoju" lub "produkcji" kanałów o zmiennej geometrii opracowanych do odwracaczy ciągu.
Uwaga techniczna:
Dla celów pozycji 9E003.c. kąt osi otworu mierzy się od płaszczyzny stycznej do powierzchni profilu w punkcie, w którym oś otworu przebija powierzchnię profilu.
Uwaga techniczna:
Pojemność komory silnikowej w pozycji 9E003.e. oznacza iloczyn trzech prostopadłych do siebie wymiarów mierzonych w następujący sposób:
Długość: Długość wału korbowego od kołnierza przedniego do czoła koła zamachowego;
Szerokość: Największy z następujących wymiarów:
Wysokość: Największy z następujących wymiarów:
Uwaga techniczna:
Wysokociśnieniowe silniki wysokoprężne: Silniki wysokoprężne (Diesla) o średnim ciśnieniu użytecznym 1,8 MPa lub wyższym przy prędkościach obrotowych 2.300 obrotów na minutę, pod warunkiem że ich prędkość nominalna wynosi 2.300 obrotów na minutę lub więcej.
9E101 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" lub "produkcji" wyrobów wymienionych w pozycjach 9A101, 9A104 do 9A111 lub 9A115 do 9A119.
9E102 "Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "użytkowania" kosmicznych pojazdów nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub wyrobów wymienionych w pozycjach 9A005 do 9A011, 9A101, 9A104 do 9A111, 9A115 do 9A119, 9B105, 9B106, 9B115, 9B116, 9B117, 9D101 lub 9D103.
______
(1) Producenci wyliczający dokładność pozycjonowania zgodnie z ISO 230/2 (1997) powinni konsultować się z kompetentnymi władzami państwa członkowskiego, w którym zostali zarejestrowani.
GENERALNE WSPÓLNOTOWE POZWOLENIE NA WYWÓZ NR EU001
Organ wydający: Wspólnota Europejska
Niniejsze pozwolenie na wywóz obejmuje następujące produkty:
-Wszystkie produkty określone w załączniku IV.
- 0C002 "Specjalne materiały rozszczepialne", inne niż określone w załączniku IV.
- 0D001 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów określonych w kategorii 0 w zakresie w jakim odnosi się do produktów z pozycji 0C001 lub do produktów określonych w pozycji 0C002, które są wyłączone z załącznika IV.
- 0E001 "Technologia", według Uwagi do technologii jądrowej, do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów wyszczególnionych w kategorii 0 w zakresie w jakim odnosi się do produktów z pozycji 0C001 lub do produktów określonych w pozycji 0C002, które są wyłączone z załącznika IV.
- 1A102 Przesycane pirolizowane materiały typu węgiel - węgiel przeznaczone do kosmicznych pojazdów nośnych określonych w pozycji 9A004 lub do rakiet meteorologicznych określonych w pozycji 9A104.
- 1C351 Czynniki chorobotwórcze dla ludzi, choroby odzwierzęce i "toksyny".
- 1C352 Zwierzęce czynniki chorobotwórcze.
- 1C353 Elementy genetyczne i organizmy zmodyfikowane genetycznie.
- 1C354 Roślinne czynniki chorobotwórcze.
- 7E104 "Technologia" scalania danych z systemów sterowania lotem, naprowadzania i napędu w system zarządzania lotem w celu optymalizacji toru lotu rakiet.
- 9A009.a. Hybrydowe systemy napędowe rakiet o impulsie całkowitym powyżej 1,1 MNs.
- 9A117 Mechanizmy do łączenia stopni, mechanizmy do rozłączania stopni oraz mechanizmy międzystopniowe, nadające się do wykorzystania w "pociskach rakietowych".
Niniejsze pozwolenie na wywóz obowiązuje w całej Wspólnocie w przypadku wywozu do następujących miejsc przeznaczenia:
Kanada
Japonia
Nowa Zelandia
Norwegia
Szwajcaria
Stany Zjednoczone Ameryki
Uwaga: Części 2 i 3 mogą zostać zmienione tylko zgodnie z odpowiednimi obowiązkami i zobowiązaniami, które każde z Państw Członkowskich przyjęło jako członek międzynarodowych systemów nierozprzestrzeniana i mechanizmów kontroli wywozu oraz zgodnie z interesem bezpieczeństwa publicznego każdego z Państw Członkowskich, znajdującym odzwierciedlenie w odpowiedzialności za podejmowanie decyzji w sprawie wniosków o pozwolenia na wywóz produktów podwójnego zastosowania na podstawie art. 6 ust. 2 niniejszego rozporządzenia.
Warunki i wymagania w odniesieniu do stosowania niniejszego pozwolenia
(wzór formularza)
WSPÓLNOTA EUROPEJSKAWYWÓZ PRODUKTÓW PODWÓJNEGO
ZASTOSOWANIA (rozporządzenie (WE) nr ...)
1 | 1. Eksporter Nr | 2. Numer identyfikacyjny |
3. Data ważności (jeśli ma zastosowanie) |
||||
4. Szczegóły dotyczące punktu kontaktowego | |||||||
5. Odbiorca | 6. Organ wydający | ||||||
KONCESJA |
7. Agent/przedstawiciel (jeśli inny niż eksporter) Nr |
||||||
8. Kraj pochodzenia (jeśli ma zastosowanie) |
Kod (1) | ||||||
9. Kraj odbiorcy (jeśli ma zastosowanie) |
Kod (1) | ||||||
10. Użytkownik końcowy (jeżeli inny niż odbiorca) |
11. Państwo Członkowskie obecnego lub przyszłego umiejscowienia produktów |
Kod (1) | |||||
12. Państwo Członkowskie planowanego przeprowadzenia wywozowej procedury celnej |
Kod (1) | ||||||
1 | 13. Kraj miejsca przeznaczenia | Kod (1) | |||||
14. Opis produktu (2) |
15. Kod towaru (jeśli ma zastosowanie) |
6. Nr wykazu kontrolnego |
|||||
17. Waluta i wartość |
18. Ilość produktów (jeśli ma zastosowanie |
||||||
19. Przeznaczenie towaru | 20. Data zawarcia umowy (jeśli ma zastosowanie) |
21. Celna procedura wywozu |
|||||
22. Dodatkowe informacje wymagane przez ustawodawstwo krajowe (do określenia w formularzu) |
|||||||
Dostępne w odniesieniu do informacji wydrukowanej uprzednio Według uznania Państwa Członkowskiego | |||||||
Wypełnia organ wydający Podpis Pieczęć Organ wydający Data |
|||||||
1a | 1. Eksporter | 2 Numer identyfikacyjny | ||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
KONCESJA | 17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | ||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
14. Opis produktów | 15. Kod towaru |
16. Nr wykazu kontrolnego |
||||
17. Waluta i wartość | 18. Ilość produktów | |||||
Uwaga: W części 1 kolumny 24 wpisać ilość nadal dostępną, a w części 2 kolumny 24 wpisać ilość, o jaką pomniejszył się zasób. | ||||||
23. Ilość/wartość netto (Masa netto/inna jednostka ze wskazaniem jednostki) |
26. Dokument celny (Rodzaj i numer) lub wyciąg (Nr) i data |
27. Państwo Członkowskie, nazwisko i podpis, pieczęć |
||||
24. W ujęciu liczbowym |
25. Ilość/wartość pomniejszenia zasobu słownie |
pomniejszenia zasobu |
potwierdzająca pomniejszenie zasobu |
|||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 | ||||||
1 | ||||||
2 |
______
(1) Patrz rozporządzenie (WE) nr 1172/95 (Dz.U. L 118 z 25.5.1995, str. 10) z późniejszymi zmianami.
(2) W razie potrzeby, opis ten może zostać zawarty w jednym lub większej liczbie załączników do niniejszego formularza (1a). W takim przypadku w tym polu należy określić dokładną liczbę załączników.
WSPÓLNE ELEMENTY DOTYCZĄCE WYDAWANIA GENERALNYCH POZWOLEŃ NA WYWÓZ
"Jest to generalne pozwolenie na wywóz na podstawie warunków art. 6 ust. 2 rozporządzenia (WE) nr 1334/2000.
Niniejsze pozwolenie, zgodnie z art. 6 ust. 2 tego rozporządzenia, obowiązuje we wszystkich Państwach Członkowskich
Wspólnoty Europejskiej".
"Niniejsze pozwolenie na wywóz obejmuje następujące produkty"
"Niniejsze pozwolenie jest ważne w odniesieniu do wywozu do następujących miejsc przeznaczenia"
(Wykaz określony w art. 21 ust. 1 rozporządzenia (WE) nr 1334/2000)
Wymienienie produktu w niniejszym załączniku nie wpływa na stosowanie przepisów dotyczących produktów rynków masowych określonych w załączniku I.
(możliwość stosowania Krajowego Zezwolenia Generalnego na handel wewnątrzwspólnotowy)
1C001 Materiały specjalnie opracowane do wykorzystania jako pochłaniacze fal elektromagnetycznych, albo polimery przewodzące samoistnie.
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 1C101.
1C101 Materiały i urządzenia do obiektów o zmniejszonej wykrywalności za pomocą odbitych fal radarowych, śladów promieniowania ultrafioletowego, podczerwonego i śladów akustycznych, inne niż określone w pozycji 1C001, stosowane do "pocisków rakietowych" i ich podsystemów.
1D103 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane do analizy obiektów o zmniejszonej wykrywalności za pomocą odbitych fal radarowych, śladów w zakresie promieniowania nadfioletowego/podczerwonego i śladów akustycznych.
1E101 "Technologia" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" towarów określonych w pozycjach 1C101 lub 1D103.
1E102 "Technologia", według Uwagi Ogólnej do Technologii do "rozwoju" "oprogramowania" określonego w pozycji 1D103.
6B008 Systemy do impulsowych pomiarów radarowego przekroju czynnego o szerokościach impulsu przesyłowego 100 ns lub mniejszych oraz specjalnie dla nich opracowane elementy.
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 6B108.
6B108 Systemy specjalnie opracowane do pomiarów radarowego przekroju czynnego, znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych" i innych podzespołach.
Produkty objęte wspólnotowym sterowaniem strategicznym
1C239 Materiały wybuchowe kruszące, inne niż określone w wykazach kontrolnych towarów wojskowych, albo substancje lub mieszanki zawierające materiały tego typu w masie powyżej 2 % wagowo, o gęstości krystalicznej powyżej 1,8 gm na cm3 i posiadające prędkość detonacji wyższe niż 8.000 m/s.
1E201 "Technologia" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" towarów określonych w pozycji 1C239.
3A229 Następujące instalacje zapłonowe i równoważne generatory impulsów wysokoprądowych ...
UWAGA: PATRZ TAKŻE WYKAZY KONTROLNE TOWARÓW WOJSKOWYCH.
3A232 Następujące detonatory i wielopunktowe instalacje inicjujące...
UWAGA: PATRZ TAKŻE WYKAZY KONTROLNE TOWARÓW WOJSKOWYCH.
3E201 "Technologia" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" urządzeń określonych w pozycjach 3A229 lub 3A232.
6A001 Urządzenia akustyczne ograniczone do następujących:
6A001.a.1.b. Systemy do wykrywania lub lokalizacji obiektów posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
6A001.a.2.a.1. Hydrofony ... zawierające ...
6A001.a.2.a.2. Hydrofony ... posiadające jakiekolwiek ...
6A001.a.2.a.5. Hydrofony ... opracowane do ...
6A001.a.2.b. Holowane zestawy matrycowe hydrofonów akustycznych ...
6A001.a.2.c. Urządzenia przetwarzające, specjalnie opracowane do zastosowania w czasie rzeczywistym z holowanymi zestawami matrycowymi hydrofonów akustycznych posiadające "możliwość dostępu użytkownika do oprogramowania" oraz możliwość przetwarzania i korelacji w funkcji czasu lub częstotliwości, włącznie z analizą spektralną, filtrowaniem cyfrowym i kształtowaniem wiązki za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub innych transformat lub procesów.
6A001.a.2.e. Denne lub przybrzeżne układy kablowe posiadające jakąkolwiek z poniższych właściwości:
6A001.a.2.f. Urządzenia przetwarzające, specjalnie opracowane do stosowania w czasie rzeczywistym z dennymi lub przybrzeżnymi systemami kablowymi, posiadające "programowalność dostępną dla użytkownika" oraz przetwarzanie i korelację w dziedzinie czasu lub częstotliwości, w tym analizę widmową oraz cyfrowe kształtowanie wiązki za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub innych przekształceń lub procesów.
6D003.a. "Oprogramowanie" do "przetwarzania w czasie rzeczywistym" danych akustycznych.
8A002.o.3. Następujące układy tłumienia szumów, opracowane do użytkowania na jednostkach pływających o wyporności 1.000 ton lub wyższej:
8E002.a. "Technologie" do "rozwoju","produkcji", napraw, remontów lub modyfikacji (ponownej obróbki skrawaniem) śrub, specjalnie skonstruowanych w celu tłumienia generowanych przez nie pod wodą szumów.
Produkty wspólnotowego sterowania strategicznego - Kryptografia - Kategoria 5 część 2
5A002.a.2. Urządzenia opracowane albo zmodyfikowane do realizacji funkcji analizy kryptograficznej.
5D002.c.1 Wyłącznie oprogramowanie posiadające właściwości, albo realizujące lub symulujące funkcje urządzeń określonych w pozycji 5A002.a.2.
5E002 Wyłącznie "technologie" do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" towarów określonych w pozycji 5A002.a.2. lub 5D002.c.1 powyżej.
Produkty technologii MTCR
7A117 "Instalacje do naprowadzania", znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych", umożliwiające uzyskanie dokładności instalacji 3,33 % zasięgu lub lepszej (np. "CEP" - krąg równego prawdopodobieństwa 10 km lub mniej w zasięgu 300 km) z wyjątkiem "instalacji do naprowadzania" opracowanych do pocisków rakietowych o zasięgu poniżej 300 km lub powietrznych pojazdów załogowych.
7B001 Urządzenia do testowania, wzorcowania lub strojenia, specjalnie opracowane do urządzeń określonych w pozycji 7A117 powyżej.
Uwaga: Pozycja 7B001 nie obejmuje kontrolą urządzeń do testowania, wzorcowania lub strojenia specjalnie przeznaczonych do I i II poziomu obsługi.
7B003 Urządzenia specjalnie opracowane do "produkcji"urządzeń określonych w pozycji 7A117 powyżej.
7B103 Specjalnie opracowane "instalacje produkcyjne" do urządzeń określonych w pozycji 7A117 powyżej.
7D101 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane do "użytkowania" urządzeń określonych w pozycjach 7B003 lub 7B103 powyżej.
7E001 "Technologie" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "rozwoju" urządzeń lub "oprogramowania" określonych w pozycjach 7A117, 7B003, 7B103 lub 7D101 powyżej.
7E002 "Technologie" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "produkcji" urządzeń określonych w pozycjach 7A117, 7B003 i 7B103 powyżej.
7E101 "Technologie" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" urządzeń określonych w pozycjach 7A117, 7B003, 7B103 i 7D101 oprogramowania powyżej.
9A004 Kosmiczne pojazdy nośne zdolne do przeniesienia, co najmniej 500 kg ładunku użytecznego na odległość, co najmniej 300 km.
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 9A104.
Uwaga 1: Pozycja 9A004 nie obejmuje kontrolą ładunku użytecznego.
9A005 Rakietowe systemy napędowe na paliwo ciekłe zawierające jeden z systemów lub elementów określonych w pozycji 9A006, możliwe do wykorzystania w kosmicznych pojazdach nośnych określonych w pozycji 9A004 powyżej, lub rakietach meteorologicznych określonych w pozycji 9A104 poniżej.
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJE 9A105 I 9A119.
9A007.a. Systemy napędowe rakiet na paliwo stałe, możliwe do wykorzystania w kosmicznych pojazdach nośnych określonych w pozycji 9A004 powyżej, lub rakietach meteorologicznych określonych w pozycji 9A104 powyżej, posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 9A119.
9A008.d. Następujące elementy opracowane do rakietowych układów napędowych na paliwo stałe:
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 9A108.c.
9A104 Rakiety meteorologiczne, zdolne do przeniesienia, co najmniej 500 kg ładunku użytecznego na odległość, co najmniej 300 km.
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 9A004.
9A105.a. Następujące silniki rakietowe na paliwo ciekłe:
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 9A119.
9A106.c. Następujące systemy lub podzespoły, inne niż określone w pozycji 9A006, nadające się do stosowania w "pociskach rakietowych", specjalnie opracowane do układów napędowych rakiet na paliwo ciekłe:
Uwaga techniczna:
Przykładami metod osiągania sterowania wektorem ciągu określonymi w pozycji 9A106.c. są:
9A108.c. Następujące podzespoły, inne niż określone w pozycji 9A008, nadające się do wykorzystania w "pociskach rakietowych", specjalnie opracowane do układów napędowych do rakiet na paliwo stałe:
Uwaga techniczna:
Przykładami metod osiągania sterowania wektorem ciągu określonymi w pozycji 9A108.c. są:
9A116 Następujące statki kosmiczne zdolne do powrotu na ziemię nadające się do "pocisków rakietowych" oraz opracowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do nich podzespoły z wyjątkiem statków kosmicznych zdolnych do powrotu na ziemię przeznaczonych dla ładunków użytecznych niebędących bronią:
9A119 Pojedyncze stopnie do rakiet, nadające się do kompletnych systemów rakietowych i bezzałogowych pojazdów latających, zdolnych do przeniesienia, co najmniej 500 kg ładunku użytecznego i o zasięgu, co najmniej 300 km, inne niż określone w pozycji 9A005 lub 9A007.a. powyżej.
9B115 Specjalne "urządzenia produkcyjne" do systemów, podsystemów i podzespołów, określonych w pozycjach 9A005, 9A007.a., 9A008.d., 9A105.a., 9A106.c., 9A108.c., 9A116 lub 9A119 powyżej.
9B116 "Instalacje produkcyjne" specjalnie opracowane do kosmicznych pojazdów nośnych, określonych w pozycji 9A004 lub systemów, podsystemów i elementów, określonych w pozycjach 9A005, 9A007.a., 9A008.d., 9A104, 9A105.a., 9A106.c., 9A108.c., 9A116 lub 9A119 powyżej.
9D101 "Oprogramowanie" specjalnie opracowane do "użytkowania" towarów określonych w pozycji 9B116 powyżej.
9E001 "Technologie", według Uwagi Ogólnej do Technologii do "rozwoju" urządzeń lub "oprogramowania" określone w pozycjach 9A004, 9A005, 9A007.a., 9A008.d., 9B115, 9B116 lub 9D101 powyżej.
9E002 "Technologie", według Uwagi Ogólnej do Technologii do "produkcji" urządzeń określonych w pozycjach 9A004, 9A005, 9A007.a., 9A008.d., 9B115 lub 9B116 powyżej.
Uwaga: Do celów kontroli technologii napraw konstrukcji, laminatów lub materiałów patrz pozycja 1E002.f.
9E101 "Technologie", według Uwagi Ogólnej do Technologii do "rozwoju" lub "produkcji" towarów określonych w pozycjach 9A104, 9A105.a., 9A106.c., 9A108.c., 9A116 lub 9A119 powyżej.
9E102 "Technologie", według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" kosmicznych pojazdów nośnych określonych w pozycjach 9A004, 9A005, 9A007.a., 9A008.d., 9A104, 9A105.a., 9A106.c., 9A108.c., 9A116, 9A119, 9B115, 9B116 lub 9D101 powyżej.
Wyłączenia:
Załącznik IV nie obejmuje kontrolą następujących produktów technologii MTCR:
(Krajowe Zezwolenie Generalne nie jest wymagane dla handlu wewnątrzwspólnotowego)
1C351.d.4. Rycyna
1C351.d.5. Saksytoksyna
Produkty technologii NSG
Cała kategoria 0 załącznika I została włączona do załącznika IV, z zastrzeżeniem następujących pozycji:
Uwaga: Pozycje 0C003 i 0C004, tylko w przypadku zastosowania w "reaktorach jądrowych" (w ramach pozycji 0A001.a.).
1B226 Elektromagnetyczne separatory izotopów, skonstruowane z przeznaczeniem do współpracy z jednym lub wieloma źródłami jonów zdolnymi do uzyskania wiązki jonów o całkowitym natężeniu rzędu 50 mA lub więcej.
Uwaga: Pozycja 1B226 obejmuje separatory:
1C012 Następujące materiały:
Uwaga techniczna:
Materiały te są typowo wykorzystywane do jądrowych źródeł ciepła.
Uwaga: Pozycja 1C012.b. nie obejmuje kontrolą dostaw zawierających neptun-237 w ilości 1 g lub mniejszej.
1B231 Następujące urządzenia i instalacje do obróbki trytu lub ich podzespoły:
1B233 Następujące urządzenia i instalacje do separacji izotopów litu lub ich podzespoły:
1C233 Lit wzbogacony w izotop 6 (6Li) do stężenia powyżej naturalnego, produkty albo urządzenia zawierające lit wzbogacony jak następuje: lit pierwiastkowy, stopy , związki, mieszanki zawierające lit, wyroby z wcześniej wymienionych, odpady lub złom z dowolnego z wcześniej wymienionych.
Uwaga: Pozycja 1C233 nie obejmuje kontrolą dozymetrów termoluminescencyjnych.
Uwaga techniczna:
Udział wagowy izotopu 6 w licie występującym naturalnie wynosi 6,5 procent (atomowy 7,5 procent).
1C235 Tryt, związki trytu i mieszanki zawierające tryt, w których stosunek atomów trytu do wodoru wynosi 1 część na 1.000 oraz wyroby lub urządzenia zawierające te materiały.
Uwaga: Pozycja 1C235 nie obejmuje kontrolą wyrobów lub urządzeń zawierających nie więcej niż 1,48 × 103 GBq (40 Ci) trytu w dowolnej postaci.
1E001 "Technologia" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "rozwoju" lub "produkcji" urządzeń lub materiałów określonych w pozycji 1C012.b.
1E201 "Technologia" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" towarów określonych w pozycjach 1B226, 1B231, 1B233, 1C233 lub 1C235.
3A228 Następujące urządzenia przełączające:
Uwaga: Pozycja 3A228 obejmuje gazowe lampy kriotronowe i próżniowe lampy sprytronowe.
3A231 Generatory neutronów, w tym lampy, posiadające obie następujące właściwości:
3E201 "Technologia" według Uwagi Ogólnej do Technologii do "użytkowania" towarów określonych w pozycjach 3A228.a., 3A228.b. lub 3A231.
6A203 Następujące kamery filmowe i ich podzespoły, inne niż określone w pozycji 6A003:
Uwaga: W pozycji 6A203.a. podzespoły do takich kamer obejmują specjalnie skonstruowane elektroniczne elementy synchronizujące oraz specjalne zespoły wirników składające się z turbinek, zwierciadeł i łożysk.
6A225 Interferometry do pomiaru prędkości w zakresie powyżej 1 km/s w odstępach czasowych poniżej 10 mikrosekund.
Uwaga: Pozycja 6A225 obejmuje interferomery laserowe Dopplear, takie jak VISARy, DLI).
6A226 Następujące czujniki ciśnienia:
______
(1) Różnice w brzmieniu/zakresie między załącznikiem I a załącznikiem IV są zaznaczone pogrubioną kursywą.
Podczas ostatniego posiedzenia Sejmu, ku zaskoczeniu zarówno przedsiębiorców, jak i części posłów koalicji rządzącej, Lewica w ostatniej chwili „dorzuciła” do ustawy o warunkach dopuszczalności powierzania pracy cudzoziemcom poprawki zaostrzające kary za naruszanie przepisów prawa pracy - m.in. umożliwiające orzeczenie kary ograniczenia wolności. Jednocześnie zignorowano postulaty organizacji pracodawców, mimo wcześniejszych zapewnień rządu o ich poparciu.
Grażyna J. Leśniak 27.02.2025Już nie 30 tys. zł, a 50 tys. zł ma grozić maksymalnie pracodawcy, który zawrze umowę cywilnoprawną, choć powinien - umowę o pracę. Podobnie temu, który nie wypłaca w terminie wynagrodzenia za pracę lub innego świadczenia przysługującego pracownikowi albo uprawnionemu do tego świadczenia członkowi jego rodziny. A jeśli nie wypłaca przez okres co najmniej 3 miesięcy, to kara ma wynieść nawet 60 tys. złotych - zdecydował Sejm, przyjmując poprawkę Lewicy, zmieniającą Kodeks pracy w... ustawie dotyczącej cudzoziemców.
Grażyna J. Leśniak 25.02.2025500 zł zarobi członek obwodowej komisji wyborczej w wyborach Prezydenta RP, 600 zł - zastępca przewodniczącego, a 700 zł przewodniczący komisji wyborczej – wynika z uchwały Państwowej Komisji Wyborczej. Jeżeli odbędzie się ponownie głosowanie, zryczałtowana dieta wyniesie 75 proc. wysokości diety w pierwszej turze. Termin zgłaszania kandydatów na członków obwodowych komisji wyborczych mija 18 kwietnia
Robert Horbaczewski 20.01.20251 stycznia 2025 r. weszły w życie liczne zmiany podatkowe, m.in. nowe definicje budynku i budowli w podatku od nieruchomości, JPK CIT, globalny podatek wyrównawczy, PIT kasowy, zwolnienie z VAT dla małych firm w innych krajach UE. Dla przedsiębiorców oznacza to często nowe obowiązki sprawozdawcze i zmiany w systemach finansowo-księgowych. Firmy muszą też co do zasady przeprowadzić weryfikację nieruchomości pod kątem nowych przepisów.
Monika Pogroszewska 02.01.2025W 2025 roku minimalne wynagrodzenie za pracę wzrośnie tylko raz. Obniżeniu ulegnie natomiast minimalna podstawa wymiaru składki zdrowotnej płaconej przez przedsiębiorców. Grozi nam za to podwyżka podatku od nieruchomości. Wzrosną wynagrodzenia nauczycieli, a prawnicy zaczną lepiej zarabiać na urzędówkach. Wchodzą w życie zmiany dotyczące segregacji odpadów i e-doręczeń. To jednak nie koniec zmian, jakie czekają nas w Nowym Roku.
Renata Krupa-Dąbrowska 31.12.20241 stycznia 2025 r. zacznie obowiązywać nowa Polska Klasyfikacja Działalności – PKD 2025. Jej ostateczny kształt poznaliśmy dopiero w tygodniu przedświątecznym, gdy opracowywany od miesięcy projekt został przekazany do podpisu premiera. Chociaż jeszcze przez dwa lata równolegle obowiązywać będzie stara PKD 2007, niektórzy już dziś powinni zainteresować się zmianami.
Tomasz Ciechoński 31.12.2024Identyfikator: | Dz.U.UE.L.2004.281.1 |
Rodzaj: | Rozporządzenie |
Tytuł: | Rozporządzenie 1504/2004 zmieniające i aktualizujące rozporządzenie (WE) nr 1334/2000 ustanawiające wspólnotowy system kontroli wywozu produktów i technologii podwójnego zastosowania |
Data aktu: | 19/07/2004 |
Data ogłoszenia: | 31/08/2004 |
Data wejścia w życie: | 30/09/2004 |